[發明專利]一種基于充電時間的電容容值評估與剩余壽命預測方法

在審

• 申請號: 202211670487.5
• 申請日: 2022-12-20
• 公開（公告）號: CN116127723A
• 公開（公告）日: 2023-05-16
• 發明（設計）人: 譚靜;侯濤;關國華
• 申請（專利權）人: 中車永濟電機有限公司
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G01R31/392;G06F119/04
• 代理公司: 太原科衛專利事務所(普通合伙) 14100
• 代理人: 朱源

1.一種基于充電時間的電容容值評估與剩余壽命預測方法，其特征在于：包括以下步驟：建立容值衰退并充電至指定電壓的半實物仿真實驗，得到每個容值下的充電時間數據，根據每個容值下的充電時間數據建立電容衰退狀態模型；將待預測新的電容多次充電至指定電壓的充電時間篩選后迭代入電容衰退狀態模型并建立該電容的電容狀態識別模型；電容狀態識別模型發布后，將待預測電容充電至指定電壓的充電時間進行監測，該充電時間輸入到電容狀態識別模型評估電容當前容值，并進行壽命預測。

2.根據權利要求1所述的一種基于充電時間的電容容值評估與剩余壽命預測方法，其特征在于：將待預測電容進行多次充電至指定電壓，選擇出現頻次最高及次高的充電時間值作為原始值，該原始值迭代入到電容衰退狀態模型建立電容狀態識別模型進行容值識別。

3.根據權利要求1或2所述的一種基于充電時間的電容容值評估與剩余壽命預測方法，其特征在于：每個產品編號的電容都有對應的電容狀態識別模型，定期提取運行數據中出現頻率最高的充電時間，調用該產品編號對應的電容狀態識別模型進行容值狀態識別。

4.根據權利要求1或2所述的一種基于充電時間的電容容值評估與剩余壽命預測方法，其特征在于：容值衰退是從100%衰退到70%。

5.根據權利要求1或2所述的一種基于充電時間的電容容值評估與剩余壽命預測方法，其特征在于：電容狀態識別模型為SVM模型。