[發明專利]伺服機構性能測試方法、裝置、設備及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202211669365.4
• 申請日: 2022-12-24
• 公開（公告）號: CN115857475A
• 公開（公告）日: 2023-03-28
• 發明（設計）人: 王卓;劉丹;程煉;李朝波;趙啟揚;張培喜;席茂軍;楊賢哲;宋長哲
• 申請（專利權）人: 湖北航天技術研究院總體設計所
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 武漢智權專利代理事務所(特殊普通合伙) 42225
• 代理人: 羅成

本發明提供一種伺服機構性能測試方法、裝置、設備及可讀存儲介質，伺服機構性能測試方法包括：調取伺服機構對應的數據庫文件，按預設周期把性能測試界面控件上的輸入信號通過數據庫文件鏈接作為輸入至伺服機構的控制物理量；基于CAN消息觸發事件或狀態觸發事件采集反饋物理量，所述反饋物理量為伺服機構中的執行機構與所述控制物理量對應的反饋量；基于不同曲線類型的輸入信號對所述控制物理量與所述反饋物理量進行對應的數據處理，得到數據處理結果；將性能測試界面窗口環境變量鏈接于所述數據處理結果，基于所述數據處理結果顯示伺服機構性能指標對應物理量。本發明的伺服機構性能測試方法可根據測試靈活配置，且涉及到的測試設備通用便攜。

技術領域

本發明涉及伺服機構測試技術領域，尤其涉及一種伺服機構性能測試方法、裝置、設備及可讀存儲介質。

背景技術

伺服機構性能測試在整個航天型號產品研制過程中具有非常重要的地位。通過伺服機構性能測試可以驗證伺服機構是否滿足性能指標要求，是確保航天型號產品飛行試驗成功的保證。

目前航天型號產品的伺服機構性能測試方法一般通過設計專用測試工裝，基于測試工裝進行上位機和下位機軟件開發，配合單機供電電源對伺服機構進行測試。由于各個不同航天型號產品的測試工裝并不通用，使得測試設備重復投入，開發周期長，人力成本高。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種伺服機構性能測試方法、裝置、設備及可讀存儲介質，旨在解決由于不同航天型號的伺服機構對應的測試工裝并不通用，現有基于專用測試工裝進行伺服機構性能測試的方式會導致測試成本高以及開發周期長的技術問題。

第一方面，本發明提供一種伺服機構性能測試方法，所述伺服機構性能測試方法包括以下步驟：

調取伺服機構對應的數據庫文件，按預設周期把性能測試界面控件上的輸入信號通過數據庫文件鏈接作為輸入至伺服機構的控制物理量；

基于CAN消息觸發事件或狀態觸發事件采集反饋物理量，所述反饋物理量為伺服機構中的執行機構與所述控制物理量對應的反饋量；

基于不同曲線類型的輸入信號對所述控制物理量與所述反饋物理量進行對應的數據處理，得到數據處理結果；

將性能測試界面窗口環境變量鏈接于所述數據處理結果，基于所述數據處理結果顯示伺服機構性能指標對應物理量。

可選的，在所述調取伺服機構對應的數據庫文件，按預設周期把性能測試界面控件上的輸入信號通過數據庫文件鏈接作為輸入至伺服機構的控制物理量的步驟之前包括：

建立伺服機構對應的消息協議族；

基于所述消息協議族配置伺服機構對應的基礎數據庫；

對性能測試界面進行控件設置以及性能指標對應物理量的顯示設置；

在對應編譯環境下進行CAN消息觸發事件與狀態觸發事件函數的預編譯，其中，狀態觸發事件包括控件觸發事件與定時器觸發事件。

可選的，所述輸入信號包括電壓信號、電流信號以及角度信號；所述對應不同曲線類型的輸入信號包括階躍信號、正余弦信號、方波信號以及直線信號。

可選的，所述基于不同曲線類型的輸入信號對所述控制物理量與所述反饋物理量進行對應的數據處理，得到數據處理結果的步驟包括：

若所述輸入信號為階躍信號，則基于所述反饋物理量，提取出斜率與半波震蕩次數；

對比所述控制物理量與所述反饋物理量，確定輸入信號響應的延遲，其中，數據處理結果包括所述斜率、半波震蕩次數與輸入信號響應的延遲。

可選的，所述基于不同曲線類型的輸入信號對所述控制物理量與所述反饋物理量進行對應的數據處理，得到數據處理結果的步驟包括：