[發明專利]伺服機構性能測試方法、裝置、設備及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202211669365.4
• 申請日: 2022-12-24
• 公開（公告）號: CN115857475A
• 公開（公告）日: 2023-03-28
• 發明（設計）人: 王卓;劉丹;程煉;李朝波;趙啟揚;張培喜;席茂軍;楊賢哲;宋長哲
• 申請（專利權）人: 湖北航天技術研究院總體設計所
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 武漢智權專利代理事務所(特殊普通合伙) 42225
• 代理人: 羅成

1.一種伺服機構性能測試方法，其特征在于，所述伺服機構性能測試方法包括：

調取伺服機構對應的數據庫文件，按預設周期把性能測試界面控件上的輸入信號通過數據庫文件鏈接作為輸入至伺服機構的控制物理量；

基于CAN消息觸發事件或狀態觸發事件采集反饋物理量，所述反饋物理量為伺服機構中的執行機構與所述控制物理量對應的反饋量；

基于不同曲線類型的輸入信號對所述控制物理量與所述反饋物理量進行對應的數據處理，得到數據處理結果；

將性能測試界面窗口環境變量鏈接于所述數據處理結果，基于所述數據處理結果顯示伺服機構性能指標對應物理量。

2.如權利要求1所述的伺服機構性能測試方法，其特征在于，在所述調取伺服機構對應的數據庫文件，按預設周期把性能測試界面控件上的輸入信號通過數據庫文件鏈接作為輸入至伺服機構的控制物理量的步驟之前包括：

建立伺服機構對應的消息協議族；

基于所述消息協議族配置伺服機構對應的基礎數據庫；

對性能測試界面進行控件設置以及性能指標對應物理量的顯示設置；

在對應編譯環境下進行CAN消息觸發事件與狀態觸發事件函數的預編譯，其中，狀態觸發事件包括控件觸發事件與定時器觸發事件。

3.如權利要求1所述的伺服機構性能測試方法，其特征在于，所述輸入信號包括電壓信號、電流信號以及角度信號；所述對應不同曲線類型的輸入信號包括階躍信號、正余弦信號、方波信號以及直線信號。

4.如權利要求1所述的伺服機構性能測試方法，其特征在于，所述基于不同曲線類型的輸入信號對所述控制物理量與所述反饋物理量進行對應的數據處理，得到數據處理結果的步驟包括：

若所述輸入信號為階躍信號，則基于所述反饋物理量，提取出斜率與半波震蕩次數；

對比所述控制物理量與所述反饋物理量，確定輸入信號響應的延遲，其中，數據處理結果包括所述斜率、半波震蕩次數與輸入信號響應的延遲。

5.如權利要求1所述的伺服機構性能測試方法，其特征在于，所述基于不同曲線類型的輸入信號對所述控制物理量與所述反饋物理量進行對應的數據處理，得到數據處理結果的步驟包括：

若所述輸入信號為正余弦信號，則對比伺服機構空載狀態與滿載狀態下多個不同頻率下的輸入信號對應的所述控制物理量與所述反饋物理量，確定伺服機構空載狀態與滿載狀態下的頻率響應能力，其中，數據處理結果包括伺服機構空載狀態與滿載狀態下的頻率響應能力。

6.一種伺服機構性能測試裝置，其特征在于，所述伺服機構性能測試裝置包括：

輸入模塊，用于調取伺服機構對應的數據庫文件，按預設周期把性能測試界面控件上的輸入信號通過數據庫文件鏈接作為輸入至伺服機構的控制物理量；

采集模塊，用于基于CAN消息觸發事件或狀態觸發事件采集反饋物理量，所述反饋物理量為伺服機構中的執行機構與所述控制物理量對應的反饋量；

數據處理模塊，用于基于不同曲線類型的輸入信號對所述控制物理量與所述反饋物理量進行對應的數據處理，得到數據處理結果；

顯示模塊，用于將性能測試界面窗口環境變量鏈接于所述數據處理結果，基于所述數據處理結果顯示伺服機構性能指標對應物理量。

7.如權利要求6所述的伺服機構性能測試裝置，其特征在于，所述伺服機構性能測試裝置還包括構建模塊，用于：

建立伺服機構對應的消息協議族；

基于所述消息協議族配置伺服機構對應的基礎數據庫；

對性能測試界面進行控件設置以及性能指標對應物理量的顯示設置；

在對應編譯環境下進行CAN消息觸發事件與狀態觸發事件函數的預編譯，其中，狀態觸發事件包括控件觸發事件與定時器觸發事件。

8.如權利要求6所述的伺服機構性能測試裝置，其特征在于：所述輸入信號包括電壓信號、電流信號以及角度信號；所述對應不同曲線類型的輸入信號包括階躍信號、正余弦信號、方波信號以及直線信號。