[發明專利]一種車規芯片的復雜電磁兼容方法及測試系統

在審

• 申請號: 202211639583.3
• 申請日: 2022-12-20
• 公開（公告）號: CN116184065A
• 公開（公告）日: 2023-05-30
• 發明（設計）人: 李齊;原誠寅
• 申請（專利權）人: 北京國家新能源汽車技術創新中心有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京一品慧誠知識產權代理有限公司 11762
• 代理人: 楊文

本發明涉及車規芯片測試技術領域，公開了一種車規芯片的復雜電磁兼容方法及測試系統，用于測試系統對車規芯片在復雜電磁環境下的電磁兼容抗擾測試，所述車規芯片的復雜電磁兼容測試方法包括：構建復雜電磁環境；構建模擬實際車載應用功能的測試板，并將車規芯片搭載于所述測試板上；將搭載有車規芯片的所述測試板設置在復雜電磁環境中，對車規芯片進行電磁兼容抗擾測試；通過監測進行電磁兼容抗擾測試下的車規芯片功能狀態，進而評測出所述車規芯片的電磁敏感性。本發明針對車規芯片搭載在模擬車載應用功能的測試板的模式下，施加復雜電磁環境，實現更加符合實際真實應用下的車規芯片的電磁兼容抗擾測試。

技術領域

本發明涉及車規芯片測試技術領域，特別涉及一種車規芯片的復雜電磁兼容方法及測試系統。

背景技術

車規級芯片，指技術標準達到車規級，可應用于汽車控制的芯片。一般芯片的電池兼容測試標準按照IEC、SAE系列標準進行測試，但這些標準中只有SAE-J1752/3是用于車規級芯片測試電磁發射的標準，不涉及到車規電磁抗擾性的測評。

通常來說，車規芯片的電磁兼容要求要高于一般工業級、消費級，并且電磁環境也會隨著通訊技術的發展、衛星基站的增多、電子產品的廣泛應用等原因變得更加復雜。而傳統的電磁兼容測試是基于窄寬測試、單個頻點逐漸掃描的方式，以該測試方式對車規芯片進行電磁兼容測試已經很難滿足車規芯片實際要面臨的復雜電磁兼容環境，也無法保證車規芯片可以應用到汽車行業中。因此，為了滿足現有的車規芯片可以應對更加復雜的電磁兼容環境，為車規芯片提供更為復雜的電磁兼容測試環境，用于對車規芯片進行電磁兼容抗擾測試并獲取評測結果是目前亟需要解決的問題。

發明內容

為了解決現有技術中車規芯片的電磁兼容抗擾測試較難適應更為復雜的電磁兼容環境而影響對車規芯片的電磁兼容抗擾測試的問題，本發明提供了一種車規芯片的復雜電磁兼容方法及測試系統。

本發明的技術方案如下：

本發明提供了一種車規芯片的復雜電磁兼容測試方法，用于測試系統對車規芯片在復雜電磁環境下的電磁兼容抗擾測試，所述車規芯片的復雜電磁兼容測試方法包括：

構建復雜電磁環境；

構建模擬實際車載應用功能的測試板，并將車規芯片搭載于所述測試板上；

將搭載有車規芯片的所述測試板設置在復雜電磁環境中，對車規芯片進行電磁兼容抗擾測試；

通過監測進行電磁兼容抗擾測試下的車規芯片功能狀態，進而評測出所述車規芯片的電磁敏感性。

進一步地，構建所述復雜電磁環境時，包括：

使用至少1個帶寬40MHz以上的寬帶信號源產生寬帶信號，產生的所述寬帶信號作為主信號；

當寬帶信號源為2個以上時，通過合路器將各個寬帶信號源進行合成后產生寬帶信號。

進一步地，構建所述復雜電磁環境時，還包括：

從寬帶信號源內部選件模擬產生白噪聲或通過外部任意波形發生器在寬帶信號源上模擬產生復雜噪聲，并與主信號合成形成最終測試用的復雜電磁信號。

進一步地，監測進行電磁兼容抗擾測試下的所述車規芯片功能狀態時，監測的所述車規芯片功能狀態包括：

芯片功能狀態及板級功能狀態。

本發明還提供了一種測試系統，用于車規芯片在復雜電磁環境下進行電磁兼容抗擾測試，包括：

復雜電磁環境模塊，用于構建復雜電磁環境；

測試板，用于構建模擬實際車載應用功能，所述車規芯片搭載于測試板上；

監測模塊，用于監測進行電磁兼容抗擾測試下的車規芯片功能狀態；