[發明專利]顯示模組返修方法及顯示模組

在審

• 申請號: 202211632191.4
• 申請日: 2022-12-19
• 公開（公告）號: CN116031336A
• 公開（公告）日: 2023-04-28
• 發明（設計）人: 洪溫振;黃志強;林長樹
• 申請（專利權）人: 東莞市中麒光電技術有限公司
• 主分類號: H01L33/00
• 分類號: H01L33/00;H01L25/075;H01L33/54
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 龍莉蘋

1.一種顯示模組返修方法，其特征在于：顯示模組包括燈板，燈板上設置有若干燈珠，所述燈珠上封裝有第一封裝體；所述顯示模組返修方法包括：

破壞所述燈板上預設位置處的第一封裝體，并挖出所述預設位置的燈珠；

將新的燈珠安裝于所述預設位置；

在所述預設位置封裝膠以形成第二封裝體；

打磨所述第二封裝體以使所述第二封裝體與第一封裝體平齊；

在打磨后的顯示模組上形成第一透明層，并使位于所述第一封裝層和第二封裝層上的第一透明層粗糙度一致。

2.如權利要求1所述的顯示模組返修方法，其特征在于：所述第一透明層由透明材料均勻噴涂于所述第一封裝層和第二封裝層上并固化而成。

3.如權利要求1所述的顯示模組返修方法，其特征在于：在形成第一透明層前，還對所述顯示模組的第一封裝體和第二封裝體上進行等離子處理。

4.如權利要求1所述的顯示模組返修方法，其特征在于：破壞所述燈板上預設位置處的第一封裝體之前還包括：識別故障的燈珠，獲取故障燈珠的位置以獲得所述預設位置。

5.如權利要求4所述的顯示模組返修方法，其特征在于：識別故障的燈珠包括：獲取所述顯示模組不同蝕刻不同角度的多個灰度圖像，獲取多個所述灰度圖像中的缺陷區域，將所述灰度圖像的缺陷信息標記在預設正面圖像模板中以獲得一個正面圖像，判斷所述缺陷區域是否超出預設范圍，若是則將所述缺陷信息所在位置的燈珠識別為故障燈珠。

6.如權利要求4所述的顯示模組返修方法，其特征在于：識別故障的燈珠包括：在距離所述顯示模組不同距離不同角度獲取相應的多個圖片信息，判斷多個所述圖片信息亮度關系、亮度光線夾具關系是否對應，以此尋找安裝位置傾斜的燈珠作為故障的燈珠。

7.如權利要求1所述的顯示模組返修方法，其特征在于：在打磨后的顯示模組上形成第一透明層包括：判斷打磨后的所述第二封裝體的粗糙度，依據所述粗糙度確定所述第一透明層的噴涂厚度，在打磨后的顯示模組上噴涂所述噴涂厚度的第一透明層。

8.如權利要求1所述的顯示模組返修方法，其特征在于：在打磨后的顯示模組上形成第一透明層包括：在所述顯示模組上的打磨區域噴涂第一量的透明材料以形成第一透明部分，并使得噴涂后所述打磨區域的粗糙度小于噴涂前所述打磨區域的粗糙度；對所述顯示模組上的非打磨區域噴涂第二量的透明材料以形成第二透明部分，并使得噴涂后的非打磨區域的粗糙度大于噴涂前非打磨區域的粗糙度；所述第一透明部分和第二透明部分上的粗糙度一致，在所述第一透明部分和第二透明部分上均勻噴涂透明材料以獲得第三透明部分。

9.如權利要求1所述的顯示模組返修方法，其特征在于：在打磨后的顯示模組上形成第一透明層包括：獲取打磨痕跡，依據打磨痕跡對打磨后的顯示模組進行建模以獲得三維圖像或者表面曲線，依據所述三維圖像或者表面曲線獲得各個位置處第一透明層的噴涂量，或者依據打磨痕跡的深度、長度的平均值確定所述打磨區域處第一透明層的噴涂量，在打磨后的顯示模組上噴涂所述噴涂量的第一透明層。

10.一種顯示模組，其特征在于：所述顯示模組依據如權利要求1-9中任一項所述的顯示模組返修方法修復而成。