[發明專利]一種鏡面拉深電機外殼的產品質量關鍵指標體系檢測方法

在審

• 申請號: 202211594047.6
• 申請日: 2022-12-13
• 公開（公告）號: CN116164616A
• 公開（公告）日: 2023-05-26
• 發明（設計）人: 謝佳娜;黃珍媛;陳敏生
• 申請（專利權）人: 揭陽市匯寶昌電器有限公司
• 主分類號: G01B5/06
• 分類號: G01B5/06;G01B21/30;G01B21/20;G01N23/225;G01N23/22
• 代理公司: 北京天奇智新知識產權代理有限公司 11340
• 代理人: 陳新勝

1.一種鏡面拉深電機外殼的產品質量關鍵指標體系檢測方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

步驟A制造鏡面拉深電機外殼；

步驟B獲取鏡面拉深電機機殼橫斷面，測量并計算機殼厚度減薄率和厚度超差率；

步驟C測量鏡面拉深電機機殼表面粗糙度輪廓算術平均偏差；

步驟D觀測鏡面拉深電機機殼微觀形貌；

步驟E測量鏡面拉深電機機殼表面鋅鐵含量。

2.如權利要求1所述的鏡面拉深電機外殼的產品質量關鍵指標體系檢測方法，其特征在于，所述步驟A中通過鏡面拉深工藝制造電機外殼，所述鏡面拉深工藝采用負間隙拉深法，控制外殼表面產生強力塑性變形，在拉深變形同時實現外殼表面鏡面化。

3.如權利要求1所述的鏡面拉深電機外殼的產品質量關鍵指標體系檢測方法，其特征在于，所述步驟B中，采用剖切方式獲取鏡面拉深電機機殼橫斷面，若鍍鋅鋼板原始毛坯板料厚度為t₀，鏡面拉深電機外殼最小厚度為t₁，鏡面拉深機殼厚度減薄率δ的計算方法為：

4.如權利要求1所述的鏡面拉深電機外殼的產品質量關鍵指標體系檢測方法，其特征在于，所述步驟B中，若測得的鏡面拉深電機外殼壁厚最大值為T₁，測得的最小壁厚值為T₂，則鏡面拉深機殼厚度超差率Δ計算方法為：

Δ＝T₂-T_1。

5.如權利要求1所述的鏡面拉深電機外殼的產品質量關鍵指標體系檢測方法，其特征在于，所述步驟B中鏡面拉深電機外殼厚度減薄率δ小于等于25％，厚度超差值Δ小于等于±0.3mm。

6.如權利要求1所述的鏡面拉深電機外殼的產品質量關鍵指標體系檢測方法，其特征在于，所述步驟C中，采用表面粗糙儀進行測量，測量時在電機機殼表面不同位置取點測量，并求平均值，鏡面拉深電機機殼表面粗糙度輪廓算術平均偏差Ra值小于等于0.2μm。

7.如權利要求1所述的鏡面拉深電機外殼的產品質量關鍵指標體系及檢測方法，其特征在于，所述步驟D中采用電子顯微鏡進行觀測，鏡面拉深電機外殼的微觀形貌光滑平整。

8.如權利要求1所述的鏡面拉深電機外殼的產品質量關鍵指標體系及檢測方法，其特征在于，所述步驟E中，采用能譜分析儀測量鏡面拉深電機機殼表面鋅鐵含量；若鍍鋅鋼板原始板料表面層上鋅或者鐵元素的初始百分百含量為a₁，鏡面拉深后電機外殼表面層上的鋅或者鐵元素百分比含量為a₁，鋅或者鐵元素的增加比為S_鋅/鐵，鏡面拉深電機外殼表面的鋅、鐵元素含量增加比計算方法為：

9.如權利要求1所述的鏡面拉深電機外殼的產品質量關鍵指標體系及檢測方法，其特征在于，所述步驟E中，鏡面拉深后電機外殼表面層上的鐵元素增加比S_鐵應小于等于≤5％，鋅元素含量增加比S_鋅應大于等于15％。