[發明專利]一種集成電路用銅鈦蝕刻液及其制備方法在審
| 申請號: | 202211589035.4 | 申請日: | 2022-12-12 |
| 公開(公告)號: | CN116162932A | 公開(公告)日: | 2023-05-26 |
| 發明(設計)人: | 何珂;戈燁銘;白雪 | 申請(專利權)人: | 江蘇中德電子材料科技有限公司 |
| 主分類號: | C23F1/18 | 分類號: | C23F1/18;C23F1/26;C23F11/04;H01L21/3213 |
| 代理公司: | 江陰市輕舟專利代理事務所(普通合伙) 32380 | 代理人: | 江霞 |
| 地址: | 214400 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 集成電路 用銅鈦 蝕刻 及其 制備 方法 | ||
1.一種集成電路用銅鈦蝕刻液,其特征在于,包括以下質量百分比原料:
5-20%過硫酸鹽、0.1-2%的含氟化合物、1-10%的無機酸、0.3-3%緩蝕劑、0.1-3%的含氯化合物、0.1-2%磷酸鹽,余量為水:
緩蝕劑通過以下步驟制成:
將甲苯加入反應釜中,接著加入端羧基超支化聚酰胺,氮氣保護下,滴加氯化亞砜,升溫至40-60℃,攪拌反應6-8h,冷卻至室溫,加入封端劑,攪拌后加入吡啶,氮氣保護下,升溫至回流反應4-6h,得到緩蝕劑。
2.根據權利要求1所述的一種集成電路用銅鈦蝕刻液,其特征在于,甲苯、端羧基超支化聚酰胺、氯化亞砜、封端劑和吡啶的質量比為100-150:5-10:3-5:5-10:0.3-0.5。
3.根據權利要求1所述的一種集成電路用銅鈦蝕刻液,其特征在于,端羧基超支化聚酰胺通過以下步驟制成:
將檸檬酸和二乙醇胺混合后,加入對甲苯磺酸,升溫至118℃后,真空度為0.06-0.65MPa,攪拌反應6-8h,得到端羧基超支化聚酰胺。
4.根據權利要求3所述的一種集成電路用銅鈦蝕刻液,其特征在于,檸檬酸和二乙醇胺的摩爾比為3:1,對甲苯磺酸用量為檸檬酸和二乙醇胺質量和的2%。
5.根據權利要求1所述的一種集成電路用銅鈦蝕刻液,其特征在于,封端劑通過以下步驟制成:
步驟S21、在四口燒瓶中加入去離子水,攪拌下加入對氨基苯磺酸,質量分數30%的鹽酸溶液,用冷卻裝置冷卻至0℃,控制溫度0-5℃,緩慢加入亞硝酸酸鈉溶液,保溫攪拌1h,得到混合液a;
步驟S22、在反應釜中加入去離子水,攪拌下加入苯胺和混合液a,同時用質量分數15%醋酸鈉溶液調節pH至為4.5-5.0,之后升溫至20-25℃,攪拌24h,降溫至5℃以下,過濾,濾餅干燥,得到封端劑。
6.根據權利要求5所述的一種集成電路用銅鈦蝕刻液,其特征在于,步驟S21中去離子水、對氨基苯磺酸、鹽酸溶液和亞硝酸酸鈉溶液的用量比為300-320mL:46.2g:35mL:35mL。
7.根據權利要求5所述的一種集成電路用銅鈦蝕刻液,其特征在于,步驟S21中亞硝酸酸鈉溶液由亞硝酸鈉和去離子水按照18.5g:35mL組成。
8.根據權利要求5所述的一種集成電路用銅鈦蝕刻液,其特征在于,去離子水、苯胺和混合液a的用量比為200mL:25.2g:300-320mL。
9.根據權利要求1所述的一種集成電路用銅鈦蝕刻液,其特征在于,含氟化合物為氟化銨、氟化鈉、氟化鉀、氫氟化銨、氫氟化鈉、氫氟化鉀中的一種或多種按照任意比例組成。
10.根據權利要求1所述的一種集成電路用銅鈦蝕刻液的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
將過硫酸鹽、含氟化合物、無機酸、緩蝕劑、含氯化合物、磷酸鹽和水按照配方比例混合均勻,并通入過濾器2次以上,得到集成電路用銅鈦蝕刻液體,過濾器中的濾膜孔徑為0.03-0.1μm。
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