[發明專利]一種LCP薄膜生產質量檢測數據分析方法及系統

在審

• 申請號: 202211574337.4
• 申請日: 2022-12-08
• 公開（公告）號: CN116167640A
• 公開（公告）日: 2023-05-26
• 發明（設計）人: 劉勇;張威;李永剛;王帥
• 申請（專利權）人: 南京貝迪新材料科技股份有限公司
• 主分類號: G06Q10/0639
• 分類號: G06Q10/0639;G06Q50/04;G06F18/21
• 代理公司: 南京九致知識產權代理事務所(普通合伙) 32307
• 代理人: 嚴巧巧

本發明提供了一種LCP薄膜生產質量檢測數據分析方法及系統，涉及數據處理技術領域，方法包括：采集LCP薄膜的基礎信息，獲得薄膜特征信息，采集LCP薄膜的生產參數，獲得薄膜生產參數信息進行異常檢測，獲得薄膜生產異常指數，將薄膜特征信息、薄膜生產異常指數輸入所構建質量檢測規劃單元，獲得質量檢測方案并對LCP薄膜進行質量檢測，將質量檢測結果輸入所構建質量檢測分析模型，獲得質量檢測分析結果，本發明解決了現有技術中對LCP薄膜的生產質量檢測精準性不足，以及LCP薄膜的生產質量檢測的數據分析效果差的技術問題，實現了提高LCP薄膜的生產質量檢測精準性，以及對LCP薄膜的生產質量檢測的數據分析效果。

技術領域

本發明涉及數據處理技術領域，具體涉及一種LCP薄膜生產質量檢測數據分析方法及系統。

背景技術

液晶聚合物，簡稱LCP，它是一種新型的高分子材料，在一定物理條件下能呈現出既有液體的流動性又有晶體的物理性能各向異性狀態的高分子材料，液晶聚合物具有高機械性能、良好的尺寸穩定性、優良的耐熱性、耐化學腐蝕性以及高頻下具有較小的介電常數和介質損耗，應用十分廣泛。

近年來，隨著電子產業的飛速發展，5G技術的普遍應用，電子設備趨于小型化及高功能化，在通訊、工業自動化、航空航天等高科技領域對電子設備中封裝基板的質量要求越來越高，LCP薄膜憑借其高頻條件下的低介電常數、低介電損耗椅子和極低的線膨脹系數，目前在高頻高速覆銅板應用中蓬勃發展。

而現有技術中對LCP薄膜的生產質量檢測精準性不足，以及LCP薄膜的生產質量檢測的數據分析效果不佳。

發明內容

本申請提供了一種LCP薄膜生產質量檢測數據分析方法及系統，用于針對解決現有技術中存在的對LCP薄膜的生產質量檢測精準性不足，以及LCP薄膜的生產質量檢測的數據分析效果不佳的技術問題。

鑒于上述問題，本申請提供了一種LCP薄膜生產質量檢測數據分析方法及系統。

第一方面，本申請提供了一種LCP薄膜生產質量檢測數據分析方法，所述方法包括：采集目標LCP薄膜的基礎信息，獲得目標薄膜數據庫；對所述目標薄膜數據庫進行特征提取，獲得目標薄膜特征信息；采集目標LCP薄膜的生產參數，獲得目標薄膜生產參數信息；基于所述目標薄膜生產參數信息進行異常檢測，獲得目標薄膜生產異常指數；構建質量檢測規劃單元，將所述目標薄膜特征信息、所述目標薄膜生產異常指數輸入所述質量檢測規劃單元，獲得質量檢測方案；根據所述質量檢測方案對所述目標LCP薄膜進行質量檢測，獲得目標質量檢測結果；構建質量檢測分析模型，將所述目標質量檢測結果輸入所述質量檢測分析模型，獲得目標質量檢測分析結果。

第二方面，本申請提供了一種LCP薄膜生產質量檢測數據分析系統，所述系統包括：數據庫獲得模塊，所述數據庫獲得模塊用于采集目標LCP薄膜的基礎信息，獲得目標薄膜數據庫；特征信息獲得模塊，所述特征信息獲得模塊用于對所述目標薄膜數據庫進行特征提取，獲得目標薄膜特征信息；參數信息獲得模塊，所述參數信息獲得模塊用于采集目標LCP薄膜的生產參數，獲得目標薄膜生產參數信息；異常指數獲得模塊，所述異常指數獲得模塊用于基于所述目標薄膜生產參數信息進行異常檢測，獲得目標薄膜生產異常指數；方案獲得模塊，所述方案獲得模塊用于構建質量檢測規劃單元，將所述目標薄膜特征信息、所述目標薄膜生產異常指數輸入所述質量檢測規劃單元，獲得質量檢測方案；質量檢測模塊，所述質量檢測模塊用于根據所述質量檢測方案對所述目標LCP薄膜進行質量檢測，獲得目標質量檢測結果；質量檢測分析結果獲得模塊，所述質量檢測分析結果獲得模塊用于構建質量檢測分析模型，將所述目標質量檢測結果輸入所述質量檢測分析模型，獲得目標質量檢測分析結果。

本申請中提供的一個或多個技術方案，至少具有如下技術效果或優點：