[發(fā)明專利]一種LCP薄膜生產(chǎn)質(zhì)量檢測數(shù)據(jù)分析方法及系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202211574337.4
• 申請日: 2022-12-08
• 公開（公告）號: CN116167640A
• 公開（公告）日: 2023-05-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉勇;張威;李永剛;王帥
• 申請（專利權(quán)）人: 南京貝迪新材料科技股份有限公司
• 主分類號: G06Q10/0639
• 分類號: G06Q10/0639;G06Q50/04;G06F18/21
• 代理公司: 南京九致知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32307
• 代理人: 嚴(yán)巧巧

1.一種LCP薄膜生產(chǎn)質(zhì)量檢測數(shù)據(jù)分析方法，其特征在于，所述方法應(yīng)用于一種LCP薄膜生產(chǎn)質(zhì)量檢測數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)，所述方法包括：

采集目標(biāo)LCP薄膜的基礎(chǔ)信息，獲得目標(biāo)薄膜數(shù)據(jù)庫；

對所述目標(biāo)薄膜數(shù)據(jù)庫進(jìn)行特征提取，獲得目標(biāo)薄膜特征信息；

采集目標(biāo)LCP薄膜的生產(chǎn)參數(shù)，獲得目標(biāo)薄膜生產(chǎn)參數(shù)信息；

基于所述目標(biāo)薄膜生產(chǎn)參數(shù)信息進(jìn)行異常檢測，獲得目標(biāo)薄膜生產(chǎn)異常指數(shù)；

構(gòu)建質(zhì)量檢測規(guī)劃單元，將所述目標(biāo)薄膜特征信息、所述目標(biāo)薄膜生產(chǎn)異常指數(shù)輸入所述質(zhì)量檢測規(guī)劃單元，獲得質(zhì)量檢測方案；

根據(jù)所述質(zhì)量檢測方案對所述目標(biāo)LCP薄膜進(jìn)行質(zhì)量檢測，獲得目標(biāo)質(zhì)量檢測結(jié)果；

構(gòu)建質(zhì)量檢測分析模型，將所述目標(biāo)質(zhì)量檢測結(jié)果輸入所述質(zhì)量檢測分析模型，獲得目標(biāo)質(zhì)量檢測分析結(jié)果。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，對所述目標(biāo)薄膜數(shù)據(jù)庫進(jìn)行特征提取，獲得目標(biāo)薄膜特征信息，所述方法還包括：

構(gòu)建多級薄膜特征維度，其中，所述多級薄膜特征維度包括薄膜結(jié)構(gòu)特征、薄膜材料特征、薄膜性能特征、薄膜功能特征；

基于所述多級薄膜特征維度對所述目標(biāo)薄膜數(shù)據(jù)庫進(jìn)行特征識別，獲得目標(biāo)薄膜特征識別結(jié)果；

基于所述目標(biāo)薄膜特征識別結(jié)果進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理，獲得所述目標(biāo)薄膜特征信息。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，采集目標(biāo)LCP薄膜的生產(chǎn)參數(shù)，獲得目標(biāo)薄膜生產(chǎn)參數(shù)信息，所述方法包括：

基于目標(biāo)LCP薄膜的生產(chǎn)流程，獲得多級薄膜生產(chǎn)節(jié)點(diǎn)；

基于所述多級薄膜生產(chǎn)節(jié)點(diǎn)，對目標(biāo)LCP薄膜進(jìn)行生產(chǎn)參數(shù)采集，獲得多級薄膜生產(chǎn)節(jié)點(diǎn)信息；

基于所述多級薄膜生產(chǎn)節(jié)點(diǎn)進(jìn)行薄膜質(zhì)量影響評估，獲得多級節(jié)點(diǎn)薄膜質(zhì)量影響因子；

基于所述多級節(jié)點(diǎn)薄膜質(zhì)量影響因子對所述多級薄膜生產(chǎn)節(jié)點(diǎn)信息進(jìn)行標(biāo)記，獲得所述目標(biāo)薄膜生產(chǎn)參數(shù)信息。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述目標(biāo)薄膜生產(chǎn)參數(shù)信息進(jìn)行異常檢測，獲得目標(biāo)薄膜生產(chǎn)異常指數(shù)，所述方法包括：

基于所述目標(biāo)LCP薄膜，構(gòu)建薄膜標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)數(shù)據(jù)庫；

所述目標(biāo)薄膜生產(chǎn)參數(shù)信息包括多級節(jié)點(diǎn)薄膜質(zhì)量影響因子和多級薄膜生產(chǎn)節(jié)點(diǎn)信息；

將所述薄膜標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)數(shù)據(jù)庫和所述多級薄膜生產(chǎn)節(jié)點(diǎn)信息進(jìn)行多級異常比對，獲得多級節(jié)點(diǎn)異常薄膜生產(chǎn)參數(shù)；

基于所述多級節(jié)點(diǎn)異常薄膜生產(chǎn)參數(shù)和所述多級薄膜生產(chǎn)節(jié)點(diǎn)信息進(jìn)行多級異常特征計(jì)算，獲得多級異常檢測系數(shù)；

基于所述多級節(jié)點(diǎn)薄膜質(zhì)量影響因子和所述多級異常檢測系數(shù)進(jìn)行加權(quán)計(jì)算，獲得所述目標(biāo)薄膜生產(chǎn)異常指數(shù)。

5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲得質(zhì)量檢測方案，所述方法還包括：

所述質(zhì)量檢測規(guī)劃單元包括檢測方案匹配空間、檢測方案調(diào)整空間；

所述檢測方案匹配空間包括多個樣本薄膜特征信息、多個樣本質(zhì)量檢測方案，且，所述多個樣本薄膜特征信息與所述多個樣本質(zhì)量檢測方案具有對應(yīng)關(guān)系；

將所述目標(biāo)薄膜特征信息輸入所述檢測方案匹配空間，獲得匹配檢測方案；

將所述匹配檢測方案輸入所述檢測方案調(diào)整空間，獲得所述質(zhì)量檢測方案。

6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

所述檢測方案調(diào)整空間包括多個預(yù)設(shè)激勵調(diào)整系數(shù)和多個預(yù)設(shè)檢測調(diào)整方式，且，所述多個預(yù)設(shè)激勵調(diào)整系數(shù)與所述多個預(yù)設(shè)檢測調(diào)整方式一一對應(yīng)；

基于所述目標(biāo)薄膜生產(chǎn)異常指數(shù)，獲得預(yù)設(shè)質(zhì)量檢測等級；

對所述匹配檢測方案進(jìn)行等級評估，獲得匹配方案等級；

基于所述預(yù)設(shè)質(zhì)量檢測等級和所述匹配方案等級進(jìn)行激勵計(jì)算，獲得激勵調(diào)整系數(shù)；

將所述激勵調(diào)整系數(shù)輸入所述所述檢測方案調(diào)整空間，獲得補(bǔ)償調(diào)整方式；

基于所述補(bǔ)償調(diào)整方式對所述匹配檢測方案進(jìn)行調(diào)整后，獲得所述質(zhì)量檢測方案。