[發明專利]電芯對齊度檢測方法、控制器、檢測裝置以及存儲介質

在審

• 申請號: 202211529594.6
• 申請日: 2022-11-30
• 公開（公告）號: CN115841469A
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 請求不公布姓名
• 申請（專利權）人: 廣東利元亨智能裝備股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06V10/22;G06V10/25;G06V10/36;G06V10/44;G06V10/774
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 馮健良

1.一種電芯對齊度檢測方法，其特征在于，包括：

獲取第一電芯圖像，所述第一電芯圖像為第一極片和第二極片交替層疊設置的電芯的圖像；

將所述第一電芯圖像輸入至第一訓練模型，檢測得到感興趣區域，所述感興趣區域為所述第一極片與所述第二極片的差異部分所組成的區域；

根據所述感興趣區域與所述第一電芯圖像得到第二電芯圖像；

將所述第二電芯圖像輸入至第二訓練模型，分離得到對應所述第一極片的端點的第一預測點；

將所述第二電芯圖像輸入至第三訓練模型，分離得到對應所述第二極片的端點的第二預測點；

由所述第一預測點的輪廓得到第一極片的端點坐標，由所述第二預測點的輪廓得到第二極片的端點坐標；

根據所述第一極片的端點坐標和所述第二極片的端點坐標得到相鄰的所述第一極片和所述第二極片之間的錯位量。

2.根據權利要求1所述的電芯對齊度檢測方法，其特征在于，所述由所述第一預測點的輪廓得到第一極片的端點坐標，包括：

對所述第一預測點進行圖像輪廓提取處理，得到所述第一預測點的輪廓；

獲取所述第一預測點的輪廓的外接矩形；

根據所述第一預測點的輪廓的外接矩形，得到所述第一預測點的第一中心坐標；

根據所述第一預測點的第一中心坐標得到所述第一極片的端點坐標。

3.根據權利要求2所述的電芯對齊度檢測方法，其特征在于，所述根據所述第一預測點的第一中心坐標得到所述第一極片的端點坐標，包括：

將所述第一中心坐標的縱坐標處于預設縱坐標范圍內的第一預測點確定為對應同一片第一極片的目標第一預測點；

按照所述第一中心坐標的橫坐標的大小對所述目標第一預測點進行排序以確定對應同一片第一極片的最優第一預測點；

將所述最優第一預測點的第一中心坐標確定為所述第一極片的端點坐標。

4.權利要求1所述的電芯對齊度檢測方法，其特征在于，所述由所述第二預測點的輪廓得到第二極片的端點坐標，包括：

對所述第二預測點進行圖像輪廓提取處理，得到所述第二預測點的輪廓；

獲取所述第二預測點的輪廓的外接矩形；

根據所述第二預測點的輪廓的外接矩形，得到所述第二預測點的第二中心坐標；

根據所述第二預測點的第二中心坐標得到所述第二極片的端點坐標。

5.權利要求4所述的電芯對齊度檢測方法，其特征在于，所述根據所述第二預測點的第二中心坐標得到所述第二極片的端點坐標，包括：

將所述第二中心坐標的縱坐標處于預設縱坐標范圍內的第二預測點確定為對應同一片第二極片的目標第二預測點；

按照所述第二中心坐標的橫坐標的大小對所述目標第二預測點進行排序以確定對應同一片第二極片的最優第二預測點；

將所述最優第二預測點的第二中心坐標確定為所述第二極片的端點坐標。

6.權利要求1所述的電芯對齊度檢測方法，其特征在于，所述根據所述感興趣區域與所述第一電芯圖像得到第二電芯圖像，包括：

對所述感興趣區域進行濾波處理，得到濾波后的感興趣區域；

將濾波后的感興趣區域與所述第一電芯圖像進行按位或運算，得到第二電芯圖像。

7.權利要求1所述的電芯對齊度檢測方法，其特征在于，所述獲取第一電芯圖像，包括：

獲取通過圖像拍攝模塊對電芯拍攝得到的初始圖像；

獲取所述初始圖像的平均灰度值；

根據所述初始圖像的平均灰度值進行判斷處理，以從多張所述初始圖像確定目標檢測圖像；

對所述目標檢測圖像進行旋轉處理，得到旋轉后的目標檢測圖像；

將旋轉后的目標檢測圖像轉換為灰度圖，得到第一電芯圖像。

8.一種控制器，包括：存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現如權利要求1至7任意一項所述的電芯對齊度檢測方法。