[發明專利]運算放大器通道性能的測試裝置和系統

在審

• 申請號: 202211525670.6
• 申請日: 2022-12-01
• 公開（公告）號: CN115856574A
• 公開（公告）日: 2023-03-28
• 發明（設計）人: 夏江;邱寶軍;呂宏峰;劉鵬;徐軍軍;羅捷;劉競升;王慶灼
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所（（工業和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實驗室））
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 左幫勝

本申請涉及一種運算放大器通道性能的測試裝置及系統。該測試裝置包括短接裝置和兩個以上的測試電路；測試電路包括信號輸入端、信號輸出端和信號檢測端；信號輸出端用于輸出激勵信號至對應的待測試通道，信號檢測端用于接收待測試通道的輸出信號。當運算放大器的待測試通道為多個時，短接裝置能夠快速地將多個待測試通道所接入的測試電路進行串接，若最后的輸出信號異常，將多個待測試通道進行分組，通過短接裝置將每組對應的測試電路串接后，分組進行檢測，定位出異常通道所在的小組后還可以繼續分組、串接、檢測，從而實現對多個通道性能的高效檢測，在檢測出異常時能夠快速縮小異常通道范圍，快速定位，測試效率高。

技術領域

本申請涉及通信技術領域，特別是涉及一種運算放大器通道性能的測試裝置及系統。

背景技術

運算放大器在電路中主要實現積分、微分、加減乘除、對數、指數等功能，常用于精密測量、電源控制、通信、信息處理等領域，其在電路中具有重要地位，對運算放大器的性能進行測試也尤為重要。

一般而言，開展運算放大器測試需要借助外部儀器，由直流電源為運算放大器供電，由信號發生器為運算放大器提供輸入激勵，運算放大器輸出后，用示波器檢測輸出信號的質量，從而判斷當前檢測的通道的性能。但是，當運算放大器為多通道輸出時，需要對單個通道逐個進行測試，這就使得測試總時間長，測試效率低。

發明內容

基于此，有必要針對上述技術問題，提供一種能夠提高多通道運算放大器的測試效率的運算放大器通道性能的測試裝置及系統。

一種運算放大器通道性能的測試裝置，包括短接裝置和兩個以上的測試電路；

每一所述測試電路用于接入待測運算放大器的一個通道，所述測試電路包括信號輸入端、信號輸出端和信號檢測端；所述信號輸出端用于輸出激勵信號至對應的待測試通道，所述信號檢測端用于接收所述待測試通道的輸出信號；

在對所述待測運算放大器的兩個以上的通道進行性能測試時，各待測試通道所接入的測試電路通過所述短接裝置依次連接；其中，位于首端的所述測試電路的信號輸入端接入信號發生設備，位于末端的所述測試電路的信號檢測端連接信號檢測設備，以檢測各待測試通道是否異常；所述短接裝置連接上一測試電路的信號檢測端，以及下一測試電路的信號輸入端。

在其中一個實施例中，所述測試電路包括第一電阻、第二電阻和第一短接接口；所述第一電阻的第一端連接所述信號輸入端，所述第一電阻的第二端連接所述信號輸出端，所述信號輸出端用于連接待測試通道的同相輸入端；所述第一短接接口的兩端分別用于連接所述待測試通道的反相輸入端和輸出端；所述第二電阻的第一端連接所述信號檢測端，所述信號檢測端用于連接所述待測試通道的輸出端，所述第二電阻的第二端接地；其中，所述信號輸入端和所述信號檢測端用于連接所述信號檢測設備。

在其中一個實施例中，所述測試電路還包括第三電阻和第四電阻；所述第三電阻的第一端和所述第四電阻的第一端用于與所述待測試通道的反相輸入端連接，所述第三電阻的第二端接地，所述第四電阻的第二端用于連接所述待測試通道的輸出端。

在其中一個實施例中，所述測試電路還包括用于接入測試電源的電源輸入端，所述電源輸入端連接所述待測試通道的電源端。

在其中一個實施例中，所述電源輸入端包括正極輸入端和負極輸入端；所述正極輸入端連接所述測試電源的輸出正極，以及用于連接待測試通道的正電源端，所述負極輸入端用于連接待測試通道的負電源端

在其中一個實施例中，所述測試電路還包括第二短接接口；所述第二短接接口的兩端分別連接所述負極輸入端和地；當所述第二短接接口接入所述短接裝置時，所述負極輸入端接地。

在其中一個實施例中，所述測試電路還包括第一濾波電路，所述第一濾波電路設置在所述第二短接接口的兩端之間。

在其中一個實施例中，所述測試電路還包括第二濾波電路，所述第二濾波電路設置于所述正極輸入端和地之間。