[發(fā)明專利]運(yùn)算放大器通道性能的測(cè)試裝置和系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202211525670.6
• 申請(qǐng)日: 2022-12-01
• 公開（公告）號(hào): CN115856574A
• 公開（公告）日: 2023-03-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 夏江;邱寶軍;呂宏峰;劉鵬;徐軍軍;羅捷;劉競(jìng)升;王慶灼
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所（（工業(yè)和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實(shí)驗(yàn)室））
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 左幫勝

1.一種運(yùn)算放大器通道性能的測(cè)試裝置，其特征在于，包括短接裝置和兩個(gè)以上的測(cè)試電路；

每一所述測(cè)試電路用于接入待測(cè)運(yùn)算放大器的一個(gè)通道，所述測(cè)試電路包括信號(hào)輸入端、信號(hào)輸出端和信號(hào)檢測(cè)端；所述信號(hào)輸出端用于輸出激勵(lì)信號(hào)至對(duì)應(yīng)的待測(cè)試通道，所述信號(hào)檢測(cè)端用于接收所述待測(cè)試通道的輸出信號(hào)；

在對(duì)所述待測(cè)運(yùn)算放大器的兩個(gè)以上的通道進(jìn)行性能測(cè)試時(shí)，各待測(cè)試通道所接入的測(cè)試電路通過所述短接裝置依次連接；其中，位于首端的所述測(cè)試電路的信號(hào)輸入端接入信號(hào)發(fā)生設(shè)備，位于末端的所述測(cè)試電路的信號(hào)檢測(cè)端連接信號(hào)檢測(cè)設(shè)備，以檢測(cè)各待測(cè)試通道是否異常；所述短接裝置連接上一測(cè)試電路的信號(hào)檢測(cè)端，以及下一測(cè)試電路的信號(hào)輸入端。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的運(yùn)算放大器通道性能的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試電路包括第一電阻、第二電阻和第一短接接口；所述第一電阻的第一端連接所述信號(hào)輸入端，所述第一電阻的第二端連接所述信號(hào)輸出端，所述信號(hào)輸出端用于連接待測(cè)試通道的同相輸入端；所述第一短接接口的兩端分別用于連接所述待測(cè)試通道的反相輸入端和輸出端；所述第二電阻的第一端連接所述信號(hào)檢測(cè)端，所述信號(hào)檢測(cè)端用于連接所述待測(cè)試通道的輸出端，所述第二電阻的第二端接地；其中，所述信號(hào)輸入端和所述信號(hào)檢測(cè)端用于連接所述信號(hào)檢測(cè)設(shè)備。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的運(yùn)算放大器通道性能的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試電路還包括第三電阻和第四電阻；所述第三電阻的第一端和所述第四電阻的第一端用于與所述待測(cè)試通道的反相輸入端連接，所述第三電阻的第二端接地，所述第四電阻的第二端用于連接所述待測(cè)試通道的輸出端。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的運(yùn)算放大器通道性能的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試電路還包括用于接入測(cè)試電源的電源輸入端，所述電源輸入端連接所述待測(cè)試通道的電源端。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的運(yùn)算放大器通道性能的測(cè)試裝置，其特征在于，所述電源輸入端包括正極輸入端和負(fù)極輸入端；所述正極輸入端連接所述測(cè)試電源的輸出正極，以及用于連接待測(cè)試通道的正電源端，所述負(fù)極輸入端用于連接待測(cè)試通道的負(fù)電源端。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的運(yùn)算放大器通道性能的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試電路還包括第二短接接口；所述第二短接接口的兩端分別連接所述負(fù)極輸入端和地；當(dāng)所述第二短接接口接入所述短接裝置時(shí)，所述負(fù)極輸入端接地。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的運(yùn)算放大器通道性能的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試電路還包括第一濾波電路，所述第一濾波電路設(shè)置在所述第二短接接口的兩端之間。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的運(yùn)算放大器通道性能的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試電路還包括第二濾波電路，所述第二濾波電路設(shè)置于所述正極輸入端和地之間。

9.根據(jù)權(quán)利要求1-8任意一項(xiàng)所述的運(yùn)算放大器通道性能的測(cè)試裝置，其特征在于，所述短接裝置為短路帽。

10.一種運(yùn)算放大器通道性能測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括：信號(hào)發(fā)生設(shè)備、信號(hào)檢測(cè)設(shè)備和如權(quán)利要求1-9任意一項(xiàng)所述的運(yùn)算放大器通道性能的測(cè)試裝置。