[發明專利]產品缺陷檢測方法

有效

• 申請號: 202211523764.X
• 申請日: 2022-12-01
• 公開（公告）號: CN115541602B
• 公開（公告）日: 2023-03-07
• 發明（設計）人: 原續鵬;李惠芬;童竹勍;潘正頤;侯大為
• 申請（專利權）人: 常州微億智造科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/41;G01B11/25
• 代理公司: 上海段和段律師事務所 31334
• 代理人: 高璀璀

本發明提供了一種產品缺陷檢測方法，涉及缺陷檢測技術領域，該方法包括：數據采集步驟：通過檢測裝置采集缺陷數據，并傳輸至上位機；數據處理步驟：通過上位機對所述缺陷數據進行分析和處理；結果呈現步驟：將數據處理步驟中得到的處理數據傳輸至用戶展示平臺，呈現最終分析結果。本發明能夠提高缺陷檢測的準確率。

技術領域

本發明涉及測量測試技術中的缺陷檢測技術領域，具體地，尤其涉及一種產品缺陷檢測方法，尤其是應用于工業檢測中的產品缺陷檢測方法。

背景技術

相位測量偏折術是基于條紋反射法的一種光學檢測技術，該技術由計算機編碼生成條紋結構光照明光束，利用顯示屏進行顯示，并向被測物體投射，經被測物體反射的條紋被調制而變形，利用CCD相機捕獲該調制的條紋強度圖，再結合系統的標定參數，通過計算機得到梯度數據以獲得被測物體的形貌信息，該技術在顯微測量、工業檢測、天文觀測等領域的巨大潛在應用而備受關注。在顯微測量中，基于相位測量偏折術的測量裝置可用于透明物體的顯微測量；在工業檢測中，基于相位測量偏折術的檢測系統可用于超精密車削以得到高精度的自由曲面；在天文觀測中，基于相位測量偏折術的光學檢測模型可用于測量精密X射線反射鏡面形及Inouye太陽望遠鏡面形。隨著相位測量偏折術在各領域的應用日益增加，對基于相位測量偏折術的波前檢測方法的研究也日趨重要。

相位測量偏折術具有非接觸、低成本、檢測精度高、易操作、無需復雜裝置、動態范圍廣、抗干擾能力強、檢測速度快、全視野等諸多優勢。基于相位測量偏折的啟發，本發明專利提出了一種新型的相位測量偏折術波前檢測方法——基于渦旋條紋的相位測量偏折術波前檢測裝置及方法，用于待測波前的光學檢測，該方法通過移動被測物體或者CCD相機以獲得不同具有不同相移的入射渦旋條紋光束，再利用CCD相機記錄入射渦旋條紋光束經過待測波前前后的強度信息圖，從而結合多步相移算法、區域波前重構算法等實現待測波前的精確重建。該波前檢測裝置抗干擾能力強、環境要求低、檢測范圍廣、魯棒性高、操作簡單、結構簡潔、成本低，可實現待測波前的波前再現，可避免使用價格昂貴的激光光源，可擴展波前檢測技術的應用范圍。

在工業檢測中，質檢設備對產品質量的保證起到了關鍵作用。為實現對產品檢驗的高標準要求，在質檢產品的過程做到可監控、可追溯、可量化、可預警，為提高產品的良率和降低殘損做科學的規劃和管理，所以需要一個低成本、檢測精度高、易操作、無需復雜裝置、動態范圍廣、抗干擾能力強的缺陷檢測方法。

傳統的產品缺陷檢測方法是根據預設程序進行檢測，檢測精度較低，裝置復雜，且成本高，無法滿足企業越來越多的檢測需求。

發明內容

針對現有技術中的缺陷，本發明提供一種產品缺陷檢測方法。

根據本發明提供的一種產品缺陷檢測方法，所述方案如下：

數據采集步驟：通過檢測裝置采集缺陷數據，并傳輸至上位機；

數據處理步驟：通過上位機對所述缺陷數據進行分析和處理；

結果呈現步驟：將數據處理步驟中得到的處理數據傳輸至用戶展示平臺，呈現最終分析結果。

優選地，所述檢測裝置包括：顯示屏、準直透鏡、分束片、參考平面鏡、供參考平面鏡放置的第一旋轉鏡架、被測物體、供被測物體放置的第二旋轉鏡架、CCD相機、供CCD相機放置的三維平移臺和計算機；

所述顯示屏和CCD相機的輸出端與所述計算機的輸入端連接；

所述顯示屏用于顯示所述計算機編碼生成的渦旋條紋光束，該渦旋條紋光束經所述準直透鏡準直后的渦旋條紋光束作為光源，該光源到達所述分束片；其中，透射光束作為參考光束，反射光束作為物光束；

所述參考光束到達固定在所述參考平面鏡后，返回并再次通過所述分束片，該分束片將部分參考光束反射進入所述CDD相機，通過移動所述三維平移臺，使所述CCD相機上出現所述參考平面鏡的參考強度圖，并將該參考強度圖傳輸至所述計算機；