[發明專利]一種基于混合復測邏輯算法的器件分類系統在審
| 申請號: | 202211514270.5 | 申請日: | 2022-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN115722457A | 公開(公告)日: | 2023-03-03 |
| 發明(設計)人: | 候育星;苗靖 | 申請(專利權)人: | 蘇州若高智能科技有限公司 |
| 主分類號: | B07C5/34 | 分類號: | B07C5/34;B07C5/342;B07C5/36 |
| 代理公司: | 北京廣溢知識產權代理有限公司 16001 | 代理人: | 劉文康 |
| 地址: | 215300 江蘇省蘇州市昆山*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 混合 復測 邏輯 算法 器件 分類 系統 | ||
本發明公開了一種基于混合復測邏輯算法的器件分類系統,包括產品采樣模塊、視覺圖像處理模塊、混合復測模塊,其特征在于:所述產品采樣模塊用于對產品進行采樣,所述視覺圖像處理模塊用于對產品進行視覺處理與故障分析,所述混合復測模塊用于軟硬件結合對產品狀態進行分類并顯示,所述混合復測模塊包括分區處理模塊、邏輯判斷模塊、軟件測試模塊、狀態顯示模塊,所述分區處理模塊的分區包括良品緩存區,不良品緩存區、中轉區,所述邏輯判斷模塊用于對產品進行邏輯判斷,所述軟件測試模塊用于進行軟硬件聯調,所述狀態顯示模塊用于對檢測后的產品進行狀態顯示,本發明,具有自動混合抓取和生產過程更穩定的特點。
技術領域
本發明涉及分類系統技術領域,具體為一種基于混合復測邏輯算法的器件分類系統。
背景技術
在工業生產中,良品率是衡量生產質量的重要指標,而良品率的檢測過程較為復雜,人工難以高效地檢測出是否為良品,尤其是對于一些生產部件較復雜的器件,采用人工檢測方法雖然短時間內可以篩選出次品,但是對于一些可能存在暗病的邏輯板等器件,后期故障率很高,并且在邏輯板生產完成后才可以上電檢測,無法做到產測一體,生產效率低,因此,設計自動混合抓取和生產過程更穩定的一種基于混合復測邏輯算法的器件分類系統是很有必要的。
發明內容
本發明的目的在于提供一種基于混合復測邏輯算法的器件分類系統,以解決上述背景技術中提出的問題。
為了解決上述技術問題,本發明提供如下技術方案:一種基于混合復測邏輯算法的器件分類系統,包括產品采樣模塊、視覺圖像處理模塊、混合復測模塊,所述產品采樣模塊用于對產品進行采樣,所述視覺圖像處理模塊用于對產品進行視覺處理與故障分析,所述混合復測模塊用于軟硬件結合對產品狀態進行分類并顯示,所述產品采樣模塊與視覺圖像處理模塊電連接;所述混合復測模塊包括分區處理模塊、邏輯判斷模塊、軟件測試模塊、狀態顯示模塊,所述分區處理模塊的分區包括良品緩存區,不良品緩存區、中轉區,所述邏輯判斷模塊用于對產品進行邏輯判斷,所述軟件測試模塊用于進行軟硬件聯調,所述狀態顯示模塊用于對檢測后的產品進行狀態顯示;所述分區處理模塊與邏輯判斷模塊、軟件測試模塊、狀態顯示模塊電連接。
根據上述技術方案,所述產品采樣模塊包括抓取執行模塊、力反饋模塊、吸附模塊,所述抓取執行模塊包括多套真空吸附模塊,所述力反饋模塊在進行對產品的抓取時可反饋當前力度,所述吸附模塊用于對邏輯板進行吸附。
根據上述技術方案,所述視覺圖像處理模塊包括高亮度解析光源模塊、CMOS傳感器模塊、工控機模塊、數據傳輸通信模塊,所述高亮度解析單元用于對產品進行高亮度解析,所述CMOS傳感器模塊用于對產品進行圖像獲取,所述工控機模塊用于使用工控機環境下的軟件對圖像進行處理分析,所述數據傳輸通信模塊用于建立數據通信傳輸通道,將數據發送至混合復測模塊。
根據上述技術方案,所述力反饋模塊在抓取執行模塊接觸到待測產品后接收到反饋信號,并在定位PIN針插入帶電定位孔后接通回路,開始反饋當前抓取執行模塊的吸附力,當吸附力到達預設值時,抓取執行模塊停止添加力。
根據上述技術方案,所述抓取執行模塊還包括一種快換結構,所述快換結構包括主盤側與工具側,所述主盤側與吸附模塊連接,所述主盤側接觸面還包括環狀電磁吸輪,所述工具側帶有鐵環。
根據上述技術方案,所述視覺圖像處理模塊對待測產品進行初步檢測,檢測步驟包括:
步驟A:對抓取的待測產品進行高亮度解析;
步驟B:多個CMOS傳感器進行圖像采集;
步驟C:將圖像采集數據發送到工控機進行圖像模擬與圖像數據分析;
步驟D:將數據傳輸至混合復測模塊進行邏輯判斷,判斷內容包括混合復測區的產品數量與滿料判斷。
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