[發明專利]一種改善硅片塌邊的硅片加工機構及方法在審
| 申請號: | 202211480330.6 | 申請日: | 2022-11-23 |
| 公開(公告)號: | CN115741248A | 公開(公告)日: | 2023-03-07 |
| 發明(設計)人: | 徐新華 | 申請(專利權)人: | 杭州中欣晶圓半導體股份有限公司 |
| 主分類號: | B24B1/00 | 分類號: | B24B1/00;B24B19/22;B24B41/04;B24B41/06;B24B57/02 |
| 代理公司: | 杭州融方專利代理事務所(普通合伙) 33266 | 代理人: | 沈相權;詹雨露 |
| 地址: | 311201 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 改善 硅片 加工 機構 方法 | ||
1.一種改善硅片塌邊的硅片加工機構,其特征在于,包括:打磨頭(3)和位于其下方的打磨機構;
所述打磨頭(3)的底端安裝有打磨墊(2)和包覆側板(1),所述包覆側板(1)和打磨墊(2)圍成的區域為硅片安裝腔體,所述包覆側板(1)的內部設置有輸水管(101)和環形分水槽(103),所述輸水管(101)的一端為進水端,所述輸水管(101)的另一端延伸至環形分水槽(103),所述環形分水槽(103)上連接有若干個分水支管(102),若干個所述分水支管(102)貫穿包覆側板(1)的內部,所述分水支管(102)的內部與硅片安裝腔體相連通;
所述打磨機構包括;打磨盤(6),所述打磨盤(6)的表面由中心向外依次設置有內環下陷區(605)、環形研磨片(601)和外環下陷區(604),所述內環下陷區(605)和外環下陷區(604)的頂面高度均低于環形研磨片(601)的頂面高度,所述環形研磨片(601)的邊沿倒角。
2.根據權利要求1所述的一種改善硅片塌邊的硅片加工機構,其特征在于,所述內環下陷區(605)和外環下陷區(604)為表面光滑,所述內環下陷區(605)的中心位置設置有中部漏水槽(602),所述中部漏水槽(602)的底端連接有漏水槽導管(603),所述漏水槽導管(603)傾斜設置。
3.根據權利要求1所述的一種改善硅片塌邊的硅片加工機構,其特征在于,所述輸水管(101)的進水端通過管道連接到磨頭液泵(302),所述磨頭液泵(302)位于打磨頭(3)的一側,所述打磨頭(3)的頂端設置有儲水盒(301)。
4.根據權利要求1所述的一種改善硅片塌邊的硅片加工機構,其特征在于,所述打磨盤(6)的邊沿通過軸承安裝于打磨盤安裝槽(8)內側壁,所述打磨盤安裝槽(8)的內部底端設置有打磨電機(803),所述打磨電機(803)的頂端輸出端連接到打磨盤(6)的底端,所述打磨盤安裝槽(8)的內部底端設置有打磨盤承托臺(801),所述打磨盤承托臺(801)的頂端抵觸到打磨盤(6)的底端,所述打磨盤承托臺(801)的頂端設置有滑動滾珠。
5.根據權利要求4所述的一種改善硅片塌邊的硅片加工機構,其特征在于,所述打磨盤安裝槽(8)的兩側設置有出水管(802),所述出水管(802)的一端連接到漏水槽導管(603)的末端,所述出水管(802)的另一端通向外部空間。
6.根據權利要求1所述的一種改善硅片塌邊的硅片加工機構,其特征在于,所述環形研磨片(601)的上方設置有涂液機構(7),所述涂液機構(7)的頂端設置有腐蝕液容腔(702),所述腐蝕液容腔(702)的底端設置有漏液層(703),所述漏液層(703)的底端抵觸到刷液輥(701)的頂端,所述刷液輥(701)通過轉軸安裝于涂液機構(7)的內側,所述腐蝕液容腔(702)的頂端設置有加液口。
7.根據權利要求1所述的一種改善硅片塌邊的硅片加工機構,其特征在于,所述打磨機構的一側設置有清潔機構,所述清潔機構包括:清潔海綿(10)、中空中軸(1001)和清潔棉外殼體(9);所述清潔棉外殼體(9)的內側通過中空中軸(1001)轉動連接有清潔海綿(10),所述中空中軸(1001)的外側設置有出液口(1002),所述出液口(1002)位于清潔海綿(10)內部,所述中空中軸(1001)的一端通過軸承連接到進液管(1003),所述中空中軸(1001)的另一端連接到清洗電機,所述進液管(1003)的末端通過液泵連接到水箱。
8.根據權利要求1所述的一種改善硅片塌邊的硅片加工機構,其特征在于,所述打磨頭(3)的頂端連接到磨頭電機(5)的輸出端,所述磨頭電機(5)的頂端通過連接板連接到移動座(4),所述移動座(4)安裝于伸縮氣缸(11)的行程桿,所述伸縮氣缸(11)安裝于磨頭安裝架(12)一側,所述磨頭安裝架(12)連接到下壓機構。
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