[發(fā)明專利]一種FRA測試裝置、電子設(shè)備、系統(tǒng)及FRA測試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202211474447.3 | 申請日: | 2022-11-23 |
| 公開(公告)號: | CN115993237A | 公開(公告)日: | 2023-04-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳孝紅;張茹茹;童小彬 | 申請(專利權(quán))人: | 上海艾為電子技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 李慧引 |
| 地址: | 201199 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 fra 測試 裝置 電子設(shè)備 系統(tǒng) 方法 | ||
本申請公開了一種FRA測試裝置、電子設(shè)備、系統(tǒng)及FRA測試方法,可以直接利用已有的VCM驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行FRA測試,計(jì)算出VCM的頻率響應(yīng)特性,完成FRA測試工具的所有功能(產(chǎn)生正弦信號驅(qū)動(dòng)VCM、檢測VCM的輸出信號以及計(jì)算VCM的頻率響應(yīng)特性),減少FRA測試時(shí)的測試設(shè)備的數(shù)量和種類,從而降低FRA測試成本和測試環(huán)境復(fù)雜度,達(dá)到方便快捷的實(shí)現(xiàn)FRA測試的目的。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及硬件測試技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種FRA測試裝置、電子設(shè)備、系統(tǒng)及FRA測試方法。
背景技術(shù)
當(dāng)前手機(jī)作為現(xiàn)代社會科技進(jìn)步的象征,已經(jīng)成為每個(gè)人都幾乎必須擁有的工具。而手機(jī)拍照功能已經(jīng)成為手機(jī)性能高低的因素之一,因此提高手機(jī)拍攝質(zhì)量也成為各個(gè)手機(jī)廠商努力的方向。為了滿足手機(jī)廠商對高質(zhì)量拍攝的需求,很多芯片設(shè)計(jì)廠商研發(fā)出多種類型AF和OIS驅(qū)動(dòng)芯片,其中AF驅(qū)動(dòng)芯片用于當(dāng)手機(jī)和拍攝物體距離改變時(shí),自動(dòng)調(diào)整聚光鏡頭(AF鏡頭)前后移動(dòng)到最佳位置,使物體在感光Sensor上成像最清晰;而OIS驅(qū)動(dòng)芯片,用于當(dāng)正在拍攝照片的手機(jī)由于人手的抖動(dòng),造成圖像模糊時(shí),可以通過陀螺儀等設(shè)備檢測出手機(jī)的抖動(dòng)距離和方向,然后驅(qū)動(dòng)防抖鏡頭(OIS鏡頭)移動(dòng)相同的距離,以補(bǔ)償人手的抖動(dòng),最終生成清晰的圖像。
在驅(qū)動(dòng)AF鏡頭和VCM鏡頭移動(dòng)到指定位置時(shí),需要在驅(qū)動(dòng)芯片中增加控制算法,使鏡頭能快速穩(wěn)定的移動(dòng)到該指定位置。控制算法要想達(dá)到理想的控制效果,就需要根據(jù)鏡頭的F0、F1等頻率點(diǎn),以及幅值裕度、相角裕度等特性,調(diào)整控制算法的參數(shù)。而要檢測出鏡頭的F0、F1頻點(diǎn),幅值裕度和相角裕度等參數(shù),需要一種工具能檢測出鏡頭的頻率響應(yīng)特性,F(xiàn)RA測試工具由此應(yīng)運(yùn)而生。
現(xiàn)有的FRA測試工具,如圖1所示,包括:產(chǎn)生正弦信號的信號發(fā)生器11(用于給VCM提供輸入信號)、測量VCM輸出的信號檢測儀12和計(jì)算輸入與輸出之間頻率特性的分析儀13等測試設(shè)備。也即在進(jìn)行FRA測試時(shí),需要配置較多的測試設(shè)備,才能夠完成FRA測試,且測試設(shè)備體積龐大、價(jià)格高昂,且需要專業(yè)人員才能操作,測試環(huán)境復(fù)雜。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提出一種FRA測試裝置、電子設(shè)備、系統(tǒng)及FRA測試方法,用以降低FRA測試成本和測試環(huán)境復(fù)雜度,達(dá)到方便快捷的實(shí)現(xiàn)FRA測試的目的。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明提供了以下技術(shù)方案:
一種FRA測試裝置,包括:VCM驅(qū)動(dòng)芯片;
所述VCM驅(qū)動(dòng)芯片的輸出端與待測試的VCM的輸入端相連,所述VCM的輸出端與所述VCM驅(qū)動(dòng)芯片的輸入端相連;
所述VCM驅(qū)動(dòng)芯片用于,獲取所述VCM驅(qū)動(dòng)芯片所在的電子設(shè)備的控制器輸出的正弦信號參數(shù)值,生成所述正弦信號參數(shù)值對應(yīng)的正弦信號,將所述正弦信號輸出至所述VCM,獲取所述VCM的輸出信號,根據(jù)所述正弦信號和所述輸出信號,進(jìn)行幅頻特性計(jì)算和相頻特性計(jì)算,以確定所述VCM的頻率響應(yīng)特性。
可選地,所述VCM驅(qū)動(dòng)芯片包括數(shù)模轉(zhuǎn)換電路、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路和數(shù)字信號處理器;
所述數(shù)模轉(zhuǎn)換電路的輸入端與所述數(shù)字信號處理器的輸出端連接,所述數(shù)模轉(zhuǎn)換電路的輸出端與所述VCM的輸入端相連;
所述模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的輸入端與所述VCM的輸出端連接,所述模數(shù)轉(zhuǎn)換電路的輸出端與所述數(shù)字信號處理器的輸入端連接;
所述數(shù)字信號處理器用于獲取所述VCM驅(qū)動(dòng)芯片所在的電子設(shè)備的控制器輸出的正弦信號參數(shù)值,生成所述正弦信號參數(shù)值對應(yīng)的正弦信號,通過所述數(shù)模轉(zhuǎn)換電路將所述正弦信號輸出至所述VCM,通過所述模數(shù)轉(zhuǎn)換電路獲取所述VCM的輸出信號,根據(jù)所述正弦信號和所述輸出信號,進(jìn)行幅頻特性計(jì)算和相頻特性計(jì)算,以確定所述VCM的頻率響應(yīng)特性。
可選地,所述VCM驅(qū)動(dòng)芯片用于生成所述正弦信號參數(shù)值對應(yīng)的正弦信號,將所述正弦信號輸出至所述VCM時(shí),具體用于:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海艾為電子技術(shù)股份有限公司,未經(jīng)上海艾為電子技術(shù)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202211474447.3/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





