[發明專利]一種FRA測試裝置、電子設備、系統及FRA測試方法

在審

• 申請號: 202211474447.3
• 申請日: 2022-11-23
• 公開（公告）號: CN115993237A
• 公開（公告）日: 2023-04-21
• 發明（設計）人: 吳孝紅;張茹茹;童小彬
• 申請（專利權）人: 上海艾為電子技術股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李慧引

1.一種FRA測試裝置，其特征在于，包括：VCM驅動芯片；

所述VCM驅動芯片的輸出端與待測試的VCM的輸入端相連，所述VCM的輸出端與所述VCM驅動芯片的輸入端相連；

所述VCM驅動芯片用于，獲取所述VCM驅動芯片所在的電子設備的控制器輸出的正弦信號參數值，生成所述正弦信號參數值對應的正弦信號，將所述正弦信號輸出至所述VCM，獲取所述VCM的輸出信號，根據所述正弦信號和所述輸出信號，進行幅頻特性計算和相頻特性計算，以確定所述VCM的頻率響應特性。

2.根據權利要求1所述的FRA測試裝置，其特征在于，所述VCM驅動芯片包括數模轉換電路、模數轉換電路和數字信號處理器；

所述數模轉換電路的輸入端與所述數字信號處理器的輸出端連接，所述數模轉換電路的輸出端與所述VCM的輸入端相連；

所述模數轉換電路的輸入端與所述VCM的輸出端連接，所述模數轉換電路的輸出端與所述數字信號處理器的輸入端連接；

所述數字信號處理器用于獲取所述VCM驅動芯片所在的電子設備的控制器輸出的正弦信號參數值，生成所述正弦信號參數值對應的正弦信號，通過所述數模轉換電路將所述正弦信號輸出至所述VCM，通過所述模數轉換電路獲取所述VCM的輸出信號，根據所述正弦信號和所述輸出信號，進行幅頻特性計算和相頻特性計算，以確定所述VCM的頻率響應特性。

3.根據權利要求1所述的FRA測試裝置，其特征在于，所述VCM驅動芯片用于生成所述正弦信號參數值對應的正弦信號，將所述正弦信號輸出至所述VCM時，具體用于：

基于所述正弦信號參數值中的頻率，確定所述VCM驅動芯片中的定時器在一個信號周期內的最大中斷次數；

在所述最大中斷次數內，基于所述定時器的實際中斷次數和所述正弦信號參數值中的幅度，計算每次中斷時的正弦信號幅度值；

將所述正弦信號幅度值轉換為電流值，并輸出至所述VCM，以將所述正弦信號參數值對應的正弦信號輸出至所述VCM。

4.根據權利要求1所述的FRA測試裝置，其特征在于，所述VCM驅動芯片用于根據所述正弦信號和所述輸出信號，進行幅頻特性計算和相頻特性計算，以確定所述VCM的頻率響應特性時，具體用于：

對所述正弦信號和所述輸出信號進行幅頻特性計算，得到幅頻特性；

對所述正弦信號和所述輸出信號進行相頻特性計算，得到所述輸出信號與所述正弦信號的相位差；

基于所述幅頻特性和所述相位差，構建所述VCM的頻率響應特性曲線。

5.根據權利要求4所述的FRA測試裝置，其特征在于，所述VCM驅動芯片用于對所述正弦信號和所述輸出信號進行幅頻特性計算，得到幅頻特性時，具體用于：

從對所述VCM輸入的正弦信號的起始點開始，確定所述輸出信號的一個信號周期內的最大值和最小值；

基于所述最大值和所述最小值，計算所述輸出信號的峰峰值；

根據所述峰峰值和所述正弦信號參數值中的幅度，計算得到幅頻特性。

6.根據權利要求4所述的FRA測試裝置，其特征在于，所述VCM驅動芯片用于對所述正弦信號和所述輸出信號進行相頻特性計算，得到所述輸出信號與所述正弦信號的相位差時，具體用于：

確定所述正弦信號的過零點和所述輸出信號的過零點；

計算所述正弦信號的過零點和所述輸出信號的過零點的時間差；

基于所述時間差，計算所述輸出信號與所述正弦信號的相位差。

7.根據權利要求6所述的FRA測試裝置，其特征在于，所述VCM驅動芯片用于確定所述正弦信號的過零點和所述輸出信號的過零點時，具體用于：

確定使所述正弦信號的信號值為零的過零點；

從所述過零點開始，確定所述輸出信號的信號值從負到正的信號點，并作為所述輸出信號的過零點。

8.一種電子設備，其特征在于，包括如權利要求1-7任一項所述的FRA測試裝置，所述電子設備還包括控制器；

所述控制器用于，獲取用戶輸入的正弦信號參數值，并將所述正弦信號參數值發送至所述VCM驅動芯片。