[發明專利]氧化爐層高精度測量方法

在審

• 申請號: 202211461333.5
• 申請日: 2022-11-21
• 公開（公告）號: CN115790544A
• 公開（公告）日: 2023-03-14
• 發明（設計）人: 王潔;王鎮浩;鄒相輝;劉洋
• 申請（專利權）人: 上海外高橋造船有限公司
• 主分類號: G01C15/00
• 分類號: G01C15/00
• 代理公司: 上海弼興律師事務所 31283
• 代理人: 羅洋;李伶俐

本發明提供一種氧化爐層高精度測量方法，該氧化爐層高精度測量方法包括如下步驟：S1、將激光水平儀的水平激光線發射至任意一個測量層的一條基準線上、或者氧化爐頂面或氧化爐底面位置，調整所述氧化爐，使所述水平激光線與該位置處于同一水平面上；S2、利用卷尺以所述水平激光線為水平基準線，測量若干個所述測量層的層高；S3、測量所述水平基準線到所述氧化爐頂面及所述氧化爐底面的高度。激光水平儀不受本身設置位置的平整度影響，僅需調整即可發出水平激光線，根據激光水平儀的水平激光線調整氧化爐，能快速調整氧化爐至所需要的位置，利用卷尺以水平激光線為水平基準線，快速且準確定位了測量起點，提高了測量精度和測量效率。

技術領域

本發明涉及氧化爐測量領域，尤其是一種氧化爐層高精度測量方法。

背景技術

氧化爐分為工藝腔和加熱腔，在生產過程中對氧化爐層高精度要求極高，層高精度會關系到氧化爐能否與其他設備進行精確對接。但是，氧化爐整體結構為極薄的鋁合金板制造，焊接變形大，使用傳統的卷尺直接測量氧化爐層高精度，測量誤差大、效率低。

發明內容

本發明要解決的技術問題是為了克服現有技術中使用傳統的卷尺直接測量氧化爐層高精度產生的測量誤差大、效率低的缺陷，提供一種氧化爐層高精度測量方法。

本發明是通過下述技術方案來解決上述技術問題：

本發明提供一種氧化爐層高精度測量方法，該氧化爐層高精度測量方法包括如下步驟：

S1、將激光水平儀的水平激光線發射至任意一個測量層的一條基準線上、或者氧化爐頂面或氧化爐底面位置，調整所述氧化爐，使所述水平激光線與該位置處于同一水平面上；

S2、利用卷尺以所述水平激光線為水平基準線，測量若干個所述測量層的層高；

S3、測量所述水平基準線到所述氧化爐頂面及所述氧化爐底面的高度。

在本方案中，使激光水平儀的水平激光線能夠發射至任意的基準位置，便于根據實際需要調整氧化爐至所需位置，也便于對各個測量點進行測量。根據水平激光線調節氧化爐，使水平激光線與該基準位置處于同一水平面上，利用卷尺以該水平面上的水平激光線為水平基準線即測量起點，能夠對測量層的層高及選定的基準位置到氧化爐頂面、底面的高度進行測量。激光水平儀不受本身設置位置的平整度影響，僅需調整即可發出水平激光線，根據激光水平儀的水平激光線調整氧化爐，能快速調整氧化爐至所需要的位置，利用卷尺以水平激光線為水平基準線，快速且準確定位了測量起點，提高了測量精度和測量效率。

優選地，所述步驟S1包括如下步驟：

S11、將所述激光水平儀安裝在可調支撐架上，所述激光水平儀與所述測量層相對架設，將所述激光水平儀校準至規定范圍內，使所述激光水平儀能夠發出所述水平激光線；

S12、將所述可調支撐架固定在所述氧化爐中；

S13、調節所述可調支撐架，使所述水平激光線能夠調節至所述氧化爐的任意所述測量層的任意所述基準線高度及所述氧化爐頂面和所述氧化爐底面高度。

在本方案中，將激光水平儀安裝在可調支撐架上，方便激光水平儀的位置調節，激光水平儀與測量層相對架設，將激光水平儀校準至規定范圍內，使激光水平儀能夠發出水平激光線，并可以水平激光線基準，調節氧化爐。

將所述可調支撐架固定在所述氧化爐中，防止測量過程中激光水平儀動搖導致激光線不水平，從而導致氧化爐的基準位置不能調節至水平位置，提高測量精度，也方便一個人進行測量，節省人力。

調節可調支撐架，使水平激光線能夠調節至氧化爐的任意測量層的任意基準線高度及氧化爐頂面和氧化爐底面高度。通過可調支撐架調節激光水平儀的空間位置，可以滿足激光水平儀的定向位置移動。

優選地，在所述步驟S3之后還包括如下步驟：