[發明專利]一種基于人工智能的飛針測試方法

有效

• 申請號: 202211444643.6
• 申請日: 2022-11-18
• 公開（公告）號: CN115616386B
• 公開（公告）日: 2023-03-14
• 發明（設計）人: 賀小華;龍慧梅
• 申請（專利權）人: 江蘇新央華智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G06F18/214
• 代理公司: 北京市領專知識產權代理有限公司 11590
• 代理人: 宗亞娟

本發明涉及一種基于人工智能的飛針測試方法，其包括：第一分析模塊根據PCB板的元件位序數據和PCB板的所有電子元件的規范工作數據構建PCB板的高質量域。第二分析模塊將PCB板的元件位序數據和PCB板的所有電子元件的元件位置數據和元件讀數數據輸入電路板分析模型以輸出PCB板的電路板狀態特征。第二分析模塊根據電路板狀態特征和元件位序數據獲取PCB板的預測狀態特征，并根據電路板狀態特征和預測狀態特征獲取PCB板的電路板老化方向。第三分析模塊根據電路板狀態特征獲取PCB板的實時狀態點，并基于電路板老化方向在高質量域中對PCB板的實時狀態點進行不斷老化以得到高質量域的臨界點，然后計算PCB板的實時狀態點與高質量域的臨界點的距離。

技術領域

本發明涉及人工智能和飛針測試領域，尤其涉及一種基于人工智能的飛針測試方法。

背景技術

在PCB板的生產中，由于種種原因導致PCB板質量達不到設計要求。因此，在PCB板出廠之前需要對PCB板進行測試以保證PCB板的質量。

對PCB板進行測試，涉及多方面的數據信息。專利公開號（CN110736911B）“飛針測試方法、飛針測試裝置、飛針測試設備及存儲介質”公開了將PCB板劃分為多個輔助區域，并為每個輔助區域選擇一個輔助點，然后根據輔助點準確定位飛針測試探針的定位點從而提高PCB開路點的準確度。

由此可知，現有的技術都是通過飛針測試設備的測試探針來取代針床，使用多個由馬達驅動的能夠快速移動的電氣探針同器件的引腳進行接觸并進行電氣測量以確定PCB板是否存在開路點從而判斷PCB板是否能存在故障。然而，有的PCB板因為元件質量差或者元件接觸不良會導致PCB板雖然在當前時刻不存在開路點能夠正常使用，但是PCB板的使用壽命短不能在各類工況下長期服役。因此，只通過飛針測試來檢測故障PCB板會出現用戶使用質量差壽命短的PCB板導致損失的情況。

隨著PCB板的使用越來越廣泛，如何設計一種通過PCB板當前時刻的飛針測試結果，通過人工智能技術預測PCB板在各類工況下長期服役的可靠性，即，通過人工智能技術根據當前時刻的飛針測試結果挑選出質量差壽命短的PCB板是本領域技術人員亟待解決的問題。

發明內容

針對現有技術之不足，本發明提供了一種基于人工智能的飛針測試方法，其包括：測試終端發送PCB板的電路原理數據到人工智能平臺；人工智能平臺的第一分析模塊對PCB板的電路原理數據進行元件提取和位序分析以獲取PCB板的元件位序數據，并根據元件位序數據獲取PCB板的所有電子元件；

第一分析模塊從數據庫獲取PCB板的所有電子元件的規范工作數據，并根據PCB板的元件位序數據和PCB板的所有電子元件的規范工作數據構建PCB板的高質量域；

飛針測試設備的測試探針獲取PCB板的PCB板編號和PCB板的所有電子元件的元件位置數據和元件讀數數據并將其發送到人工智能平臺；

第二分析模塊根據PCB板的電路原理數據從數據庫生成第一訓練數據和第二訓練數據，并根據所述第一訓練數據和第二訓練數據進行模型訓練以得到電路板分析模型，然后將PCB板的元件位序數據和PCB板的所有電子元件的元件位置數據和元件讀數數據輸入電路板分析模型以輸出PCB板的電路板狀態特征；

第二分析模塊根據PCB板的電路板狀態特征和元件位序數據獲取PCB板的預測狀態特征，并根據PCB板的電路板狀態特征和預測狀態特征獲取PCB板的電路板老化方向；

第三分析模塊根據所述PCB板的電路板狀態特征獲取PCB板的實時狀態點，并基于所述電路板老化方向在高質量域中對PCB板的實時狀態點進行不斷老化以得到高質量域的臨界點，然后計算PCB板的實時狀態點與高質量域的臨界點的距離；

第三分析模塊將PCB板的實時狀態點與高質量域的臨界點的距離進行歸一化以得到PCB板的質量值，并將所述質量值與質量閾值進行比較；在所述質量值小于質量閾值時將PCB板的PCB板編號和質量值發送到測試終端。