[發(fā)明專利]一種基于人工智能的飛針測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202211444643.6
• 申請(qǐng)日: 2022-11-18
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN115616386B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-03-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 賀小華;龍慧梅
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 江蘇新央華智能科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G06F18/214
• 代理公司: 北京市領(lǐng)專知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11590
• 代理人: 宗亞娟

1.一種基于人工智能的飛針測(cè)試方法，其特征在于，測(cè)試終端發(fā)送PCB板的電路原理數(shù)據(jù)到人工智能平臺(tái)；人工智能平臺(tái)的第一分析模塊對(duì)PCB板的電路原理數(shù)據(jù)進(jìn)行元件提取和位序分析以獲取PCB板的元件位序數(shù)據(jù)，并根據(jù)元件位序數(shù)據(jù)獲取PCB板的所有電子元件；

第一分析模塊從數(shù)據(jù)庫(kù)獲取PCB板的所有電子元件的規(guī)范工作數(shù)據(jù)，并根據(jù)PCB板的元件位序數(shù)據(jù)和PCB板的所有電子元件的規(guī)范工作數(shù)據(jù)構(gòu)建PCB板的高質(zhì)量域；

第一分析模塊根據(jù)PCB板的元件位序數(shù)據(jù)和PCB板的所有電子元件的規(guī)范工作數(shù)據(jù)構(gòu)建PCB板的高質(zhì)量域包括：

第一分析模塊在PCB板上隨機(jī)選擇一個(gè)電子元件作為目標(biāo)元件，并根據(jù)PCB板的元件位序數(shù)據(jù)獲取與目標(biāo)元件具有電路連接的電子元件，然后將與目標(biāo)元件具有電路連接的電子元件作為目標(biāo)元件的相鄰元件；

第一分析模塊基于目標(biāo)元件的規(guī)范工作數(shù)據(jù)構(gòu)建目標(biāo)元件的工作約束函數(shù)，并根據(jù)目標(biāo)元件的規(guī)范工作數(shù)據(jù)和目標(biāo)元件的每個(gè)相鄰元件的規(guī)范工作數(shù)據(jù)獲取目標(biāo)元件的若干個(gè)元件老化方向；

第一分析模塊根據(jù)目標(biāo)元件的工作約束函數(shù)和目標(biāo)元件的若干個(gè)元件老化方向?qū)δ繕?biāo)元件進(jìn)行不斷老化以得到目標(biāo)元件的標(biāo)準(zhǔn)工作域；

第一分析模塊遍歷PCB板的所有電子元件以得到PCB板的每個(gè)電子元件的標(biāo)準(zhǔn)工作域；

第一分析模塊根據(jù)PCB電路板的每個(gè)電子元件的標(biāo)準(zhǔn)工作域和PCB板的元件位序數(shù)據(jù)生成PCB板的高質(zhì)量域；

第一分析模塊根據(jù)目標(biāo)元件的工作約束函數(shù)和目標(biāo)元件的若干個(gè)元件老化方向?qū)δ繕?biāo)元件進(jìn)行不斷老化以得到目標(biāo)元件的標(biāo)準(zhǔn)工作域包括：

第一分析模塊隨機(jī)選取目標(biāo)元件的一個(gè)元件老化方向作為目標(biāo)老化方向，并在所述目標(biāo)老化方向上對(duì)目標(biāo)元件進(jìn)行不斷老化，然后根據(jù)目標(biāo)元件的工作約束函數(shù)判斷是否停止對(duì)目標(biāo)元件進(jìn)行老化；

在停止對(duì)目標(biāo)元件進(jìn)行老化時(shí)，第一分析模塊獲取目標(biāo)元件的元件老化特征，并將所述元件老化特征映射到多維特征空間以得到目標(biāo)元件在目標(biāo)老化方向上的老化點(diǎn)；

第一分析模塊遍歷目標(biāo)元件的所有元件老化方向以得到目標(biāo)元件在每個(gè)元件老化方向上的老化點(diǎn)；

第一分析模塊將目標(biāo)元件在每個(gè)元件老化方向上的老化點(diǎn)進(jìn)行連接以得到目標(biāo)元件的標(biāo)準(zhǔn)工作域；

飛針測(cè)試設(shè)備的測(cè)試探針獲取PCB板的PCB板編號(hào)和PCB板的所有電子元件的元件位置數(shù)據(jù)和元件讀數(shù)數(shù)據(jù)并將元件位置數(shù)據(jù)和元件讀數(shù)數(shù)據(jù)發(fā)送到人工智能平臺(tái)；

第二分析模塊根據(jù)PCB板的電路原理數(shù)據(jù)從數(shù)據(jù)庫(kù)生成第一訓(xùn)練數(shù)據(jù)和第二訓(xùn)練數(shù)據(jù)，并根據(jù)所述第一訓(xùn)練數(shù)據(jù)和第二訓(xùn)練數(shù)據(jù)進(jìn)行模型訓(xùn)練以得到電路板分析模型，然后將PCB板的元件位序數(shù)據(jù)和PCB板的所有電子元件的元件位置數(shù)據(jù)和元件讀數(shù)數(shù)據(jù)輸入電路板分析模型以輸出PCB板的電路板狀態(tài)特征；

第二分析模塊根據(jù)PCB板的電路板狀態(tài)特征和元件位序數(shù)據(jù)獲取PCB板的預(yù)測(cè)狀態(tài)特征，并根據(jù)PCB板的電路板狀態(tài)特征和預(yù)測(cè)狀態(tài)特征獲取PCB板的電路板老化方向；

第三分析模塊根據(jù)所述PCB板的電路板狀態(tài)特征獲取PCB板的實(shí)時(shí)狀態(tài)點(diǎn)，并基于所述電路板老化方向在高質(zhì)量域中對(duì)PCB板的實(shí)時(shí)狀態(tài)點(diǎn)進(jìn)行不斷老化以得到高質(zhì)量域的臨界點(diǎn)，然后計(jì)算PCB板的實(shí)時(shí)狀態(tài)點(diǎn)與高質(zhì)量域的臨界點(diǎn)的距離；

第三分析模塊將PCB板的實(shí)時(shí)狀態(tài)點(diǎn)與高質(zhì)量域的臨界點(diǎn)的距離進(jìn)行歸一化以得到PCB板的質(zhì)量值，并將所述質(zhì)量值與質(zhì)量閾值進(jìn)行比較；在所述質(zhì)量值小于質(zhì)量閾值時(shí)將PCB板的PCB板編號(hào)和質(zhì)量值發(fā)送到測(cè)試終端。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述電路原理數(shù)據(jù)為PCB板的電路圖以及電路圖中每個(gè)電子元件的型號(hào)；所述元件位序數(shù)據(jù)用于表征PCB板的所有電子元件的元件分布情況和元件連接關(guān)系。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述元件位置數(shù)據(jù)為飛針測(cè)試設(shè)備的測(cè)試探針定位的測(cè)試點(diǎn)的位置參數(shù)；所述元件讀數(shù)數(shù)據(jù)為飛針測(cè)試設(shè)備的測(cè)試探針采集的電子元件的電壓讀數(shù)和電流讀數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試終端為測(cè)試人員使用的具有通信功能和數(shù)據(jù)傳輸功能的智能設(shè)備，其包括：智能手機(jī)、筆記本電腦、平板電腦和臺(tái)式電腦。