[發明專利]層疊光學膜、光學膜的缺陷檢查方法及層疊光學膜的制法

在審

• 申請號: 202211437789.8
• 申請日: 2016-03-14
• 公開（公告）號: CN115728308A
• 公開（公告）日: 2023-03-03
• 發明（設計）人: 井村圭太;富永俊彥
• 申請（專利權）人: 住友化學株式會社
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/84
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 劉文海

層疊光學膜的缺陷檢查方法包括進行光學膜(11)的缺陷檢查的第一檢查工序、向光學膜(11)貼合保護膜(12)以及粘合件(13)而生成層疊光學膜(10A、10B)的工序、將在第一檢查工序中檢測出的缺陷(20)的信息以代碼(40)的形式記錄于層疊光學膜(10A)的記錄工序、進行層疊光學膜(10B)的缺陷檢查的第二檢查工序、與在第一檢查工序中檢測出的缺陷(20)以及在第二檢查工序中檢測出的缺陷(21)對應地對層疊光學膜(10B)進行標記的標記工序，在第二檢查工序中，讀取在記錄工序中所記錄的缺陷信息，不重復檢測與該缺陷信息對應的缺陷(20)。

本申請是申請號為201680011973.2、申請日為2016年3月14日、發明名稱為“層疊光學膜的缺陷檢查方法、光學膜的缺陷檢查方法以及層疊光學膜的制造方法”的發明專利申請的分案申請。

技術領域

本發明涉及層疊光學膜的缺陷檢查方法以及光學膜的缺陷檢查方法，也涉及層疊光學膜的制造方法。

背景技術

作為具有光學特性的光學膜，已知具有偏振特性的偏振板、具有雙折射性的相位差板等。例如，作為偏振板，已知在作為光學膜主體的偏振片(Polyvinyl Alcohol：PVA(聚乙烯醇))的主面兩側貼合有TAC(Triacetyl Cellulose：三醋酸纖維素)膜的偏振板。作為相位差板，已知由光學膜主體單獨構成的相位差板。也有時在這種光學膜貼合保護膜、或者貼合帶有隔離膜的狀態的粘合件而形成層疊光學膜。

在這種光學膜以及層疊光學膜中，若例如在上述貼合時在內部或表面混入異物、氣泡，則有時產生光學缺陷。在專利文獻1～2中公開了檢查這種光學膜以及層疊光學膜的缺陷的方法。

當采用這種缺陷檢查方法檢測出缺陷時，與缺陷對應地例如以包圍缺陷的方式在光學膜以及層疊光學膜的表面上進行標記，進行了標記的區域被從作為產品的利用中剔除。

在先技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2009-69142號公報

專利文獻2：日本特開2011-65184號公報

發明內容

發明要解決的課題

在這樣的缺陷檢查方法中，追求準確地對缺陷的數量進行計數。另外，追求標記的記號為與缺陷的大小對應的大小。

此外，在這種光學膜以及層疊光學膜的缺陷檢查中，有時進行兩次以上的缺陷檢查。例如，每當貼合光學膜以及層疊光學膜的各層時進行缺陷檢查、或者為了檢測不同的缺陷而執行不同的檢查方法。

然而，在進行兩次以上的缺陷檢查的情況下，在第二次以后的檢查中，存在如下問題：會對上次以前檢測出的缺陷進行重復檢測，無法精度良好地求出缺陷率。在第二次以后的檢查中，存在如下問題：會將上次以前標記出的記號檢測為缺陷并與之對應地(例如以包圍缺陷的方式)進行標記，結果導致最終記號尺寸變大。

于是，本發明的目的在于，提供能夠防止在進行兩次以上的缺陷檢查時對上次以前檢測出的缺陷進行重復檢測的情況、以及對與上次以前檢測出的缺陷對應的記號進行檢測的情況的層疊光學膜的缺陷檢查方法以及光學膜的缺陷檢查方法。另外，本發明的目的也在于，提供層疊光學膜的制造方法。

用于解決課題的方案

本發明的層疊光學膜的缺陷檢查方法是向光學膜貼合保護膜以及粘合件中的至少一方而得到層疊光學膜、并對層疊光學膜中的缺陷進行檢查的方法，其包括：進行光學膜的缺陷檢查的第一檢查工序；向光學膜貼合保護膜以及粘合件中的至少一方而生成層疊光學膜的工序；對在第一檢查工序中檢測出的缺陷信息進行記錄的記錄工序；進行層疊光學膜的缺陷檢查的第二檢查工序；以及與在第一檢查工序中檢測出的缺陷以及在第二檢查工序中檢測出的缺陷對應而對層疊光學膜進行標記的標記工序，在第二檢查工序中，讀取在記錄工序中所記錄的缺陷信息，不檢測與該缺陷信息對應的缺陷。