[發(fā)明專利]超聲爬波探頭前沿及延時(shí)檢測(cè)方法、系統(tǒng)、設(shè)備及介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211424859.6 | 申請(qǐng)日: | 2022-11-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN115656330A | 公開(公告)日: | 2023-01-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王志永;李世濤;馬東方;靳峰;徐亮;王強(qiáng);胡鋒濤;魏泉泉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 潤(rùn)電能源科學(xué)技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N29/04 | 分類號(hào): | G01N29/04;G01N29/30 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 陳旭紅 |
| 地址: | 450000 河南省鄭州市自貿(mào)試驗(yàn)區(qū)鄭*** | 國省代碼: | 河南;41 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 超聲 探頭 前沿 延時(shí) 檢測(cè) 方法 系統(tǒng) 設(shè)備 介質(zhì) | ||
1.一種超聲爬波探頭前沿及延時(shí)檢測(cè)方法,其特征在于,應(yīng)用于專用對(duì)比試塊,所述專用對(duì)比試塊包括兩個(gè)分別設(shè)置在專用對(duì)比試塊上、下表面的線切割槽以及沿豎直方向自上而下間隔設(shè)置且深度不同的第一橫通孔和第二橫通孔,所述方法包括以下步驟:
將爬波探頭置于所述專用對(duì)比試塊上,驅(qū)動(dòng)爬波探頭移動(dòng)至所述第一橫通孔的最高反射波高處,調(diào)至80%基準(zhǔn)波高,并測(cè)量爬波探頭前端至第一橫通孔的第一水平距離;
驅(qū)動(dòng)爬波探頭移動(dòng)至所述第二橫通孔的最高反射波高處,調(diào)至80%基準(zhǔn)波高,并測(cè)量爬波探頭前端至第二橫通孔的第二水平距離;
根據(jù)所述第一水平距離和所述第二水平距離,得到爬波探頭前沿;
將爬波探頭前沿輸入超聲波探傷儀,并將爬波探頭置于所述專用對(duì)比試塊,驅(qū)動(dòng)爬波探頭移動(dòng)至距所述線切割槽水平距離為第一切割距離處,調(diào)整超聲波探傷儀增益,使爬波探頭在所述線切割槽的爬波反射信號(hào)至80%基準(zhǔn)波高,并調(diào)整超聲波探傷儀延時(shí)值,使超聲波探傷儀顯示的爬波反射信號(hào)水平值為反射信號(hào)水平預(yù)設(shè)值,得到爬波探頭延時(shí)值;
根據(jù)所述爬波探頭前沿和所述爬波探頭延時(shí)值進(jìn)行爬波檢測(cè),確定缺陷位置。
2.如權(quán)利要求1所述的一種超聲爬波探頭前沿及延時(shí)檢測(cè)方法,其特征在于:所述專用對(duì)比試塊包括長(zhǎng)度為200mm、寬度為20mm、高度為60mm的專用對(duì)比試塊;
所述第一橫通孔和第二橫通孔均距所述專用對(duì)比試塊的最左側(cè)邊緣60mm;
所述第一橫通孔距離所述專用對(duì)比試塊的上表面20mm;
所述第二橫通孔距離所述專用對(duì)比試塊的上表面40mm。
3.如權(quán)利要求1所述的一種超聲爬波探頭前沿及延時(shí)檢測(cè)方法,其特征在于:兩個(gè)所述線切割槽的深度均為3mm,寬度均為0.5mm;
兩個(gè)所述線切割槽均距所述專用對(duì)比試塊的最右側(cè)邊緣60mm,且兩個(gè)所述線切割槽距第一橫通孔圓心和第二橫通孔圓心的水平距離均為80mm。
4.如權(quán)利要求1所述的一種超聲爬波探頭前沿及延時(shí)檢測(cè)方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一水平距離和所述第二水平距離,得到爬波探頭前沿的步驟包括:
將第一水平距離和第二水平距離輸入預(yù)先構(gòu)建的爬波折射角度模型,得到橫波折射角度值;
根據(jù)橫波折射角度值以及預(yù)先構(gòu)建的第一橫通孔折射模型或者第二橫通孔折射模型,得到爬波探頭前沿。
5.如權(quán)利要求4所述的一種超聲爬波探頭前沿及延時(shí)檢測(cè)方法,其特征在于,所述爬波折射角度模型具體為:
式中,表示橫波折射角度值;L1表示爬波探頭前端至第一橫通孔的第一水平距離;L2表示爬波探頭前端至第二橫通孔的第二水平距離;H1表示第一橫通孔距專用對(duì)比試塊上表面的距離;H2表示第二橫通孔距專用對(duì)比試塊上表面的距離。
6.如權(quán)利要求4所述的一種超聲爬波探頭前沿及延時(shí)檢測(cè)方法,其特征在于,所述第一橫通孔折射模型具體為:
式中,H1表示第一橫通孔距專用對(duì)比試塊上表面的距離;表示橫波折射角度值;L1表示爬波探頭前端至第一橫通孔的第一水平距離;L0表示爬波探頭前沿;
所述第二橫通孔折射模型具體為:
式中,H2表示第一橫通孔距專用對(duì)比試塊上表面的距離;表示橫波折射角度值;L2表示爬波探頭前端至第一橫通孔的第一水平距離;L0表示爬波探頭前沿。
7.如權(quán)利要求1所述的一種超聲爬波探頭前沿及延時(shí)檢測(cè)方法,其特征在于:所述第一切割距離為40mm;
所述反射信號(hào)水平預(yù)設(shè)值為40mm。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于潤(rùn)電能源科學(xué)技術(shù)有限公司,未經(jīng)潤(rùn)電能源科學(xué)技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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