[發(fā)明專(zhuān)利]一種能夠低溫變溫測(cè)試的測(cè)試探針臺(tái)及其操作方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211419085.8 | 申請(qǐng)日: | 2022-11-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN115684889A | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-02-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 方經(jīng)軍 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 蘇州斯丹德電子科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/28;G01R1/067 |
| 代理公司: | 深圳市賓亞知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44459 | 代理人: | 張廣富 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州市吳中*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 能夠 低溫 測(cè)試 探針 及其 操作方法 | ||
本發(fā)明提供一種能夠低溫變溫測(cè)試的測(cè)試探針臺(tái)及其操作方法。所述水平穩(wěn)定平臺(tái)的頂部固定連接有保護(hù)罩組件,所述保護(hù)罩組件包括與水平穩(wěn)定平臺(tái)頂部固定連接的保護(hù)環(huán),所述保護(hù)環(huán)的頂部開(kāi)設(shè)有連接槽,所述連接槽的內(nèi)表面活動(dòng)連接有密封圈,所述密封圈的頂部固定連接有隔熱保護(hù)罩,所述隔熱保護(hù)罩兩側(cè)的中間均固定連接有同步板,所述同步板的底部固定連接有銜接折板,所述水平穩(wěn)定平臺(tái)的頂部固定連接有放置組件。本發(fā)明提供的能夠低溫變溫測(cè)試的測(cè)試探針臺(tái)及其操作方法,通過(guò)冷氣輸入組件的設(shè)置,裝置能夠通過(guò)銜接螺紋管向裝置整體內(nèi)部供應(yīng)液氮,裝置內(nèi)部降溫效果較為明顯,并且通過(guò)單向?qū)ü茌斎耄軌蛴行П苊庖旱亓鳌?/p>
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及探針領(lǐng)域,尤其涉及一種能夠低溫變溫測(cè)試的測(cè)試探針臺(tái)及其操作方法。
背景技術(shù)
芯片中的集成電路是微處理器或多核處理器的核心,可以控制計(jì)算機(jī)到手機(jī)到數(shù)字微波爐的一切,集成電路變得無(wú)處不在,計(jì)算機(jī)、手機(jī)和其他數(shù)字電器成為社會(huì)結(jié)構(gòu)不可缺少的一部分。這是因?yàn)椋F(xiàn)代計(jì)算、交流、制造和交通系統(tǒng),包括互聯(lián)網(wǎng),全都依賴于集成電路的存在。雖然設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)一個(gè)復(fù)雜集成電路的成本非常高,但是當(dāng)分散到通常以百萬(wàn)計(jì)的產(chǎn)品上,每個(gè)集成電路的成本最小化。集成電路的性能很高,因?yàn)樾〕叽鐜?lái)短路徑,使得低功率邏輯電路可以在快速開(kāi)關(guān)速度應(yīng)用。這些年來(lái),集成電路持續(xù)向更小的外型尺寸發(fā)展,使得每個(gè)芯片可以封裝更多的電路。這樣增加了每單位面積容量,可以降低成本和增加功能,見(jiàn)摩爾定律,集成電路中的晶體管數(shù)量,每1.5年增加一倍。總之,隨著外形尺寸縮小,幾乎所有的指標(biāo)改善了,單位成本和開(kāi)關(guān)功率消耗下降,速度提高。但是,集成納米級(jí)別設(shè)備的IC也存在問(wèn)題,主要是泄漏電流。
隨著經(jīng)濟(jì)的高速發(fā)展,芯片檢測(cè)的探針臺(tái)需求量越來(lái)越高,一般探測(cè)臺(tái)只能對(duì)芯片進(jìn)行快速檢測(cè),但是很多時(shí)候需要模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境,很多設(shè)備需要在超低溫環(huán)境下進(jìn)行芯片檢測(cè),普通設(shè)備難以在超低溫情況下穩(wěn)定工作。
因此,有必要提供一種能夠低溫變溫測(cè)試的測(cè)試探針臺(tái)及其操作方法解決上述技術(shù)問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種能夠低溫變溫測(cè)試的測(cè)試探針臺(tái)及其操作方法,解決了很多時(shí)候需要模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境,很多設(shè)備需要在超低溫環(huán)境下進(jìn)行芯片檢測(cè),普通設(shè)備難以在超低溫情況下穩(wěn)定工作的問(wèn)題。
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明公開(kāi)了能夠低溫變溫測(cè)試的測(cè)試探針臺(tái),包括水平穩(wěn)定平臺(tái),所述水平穩(wěn)定平臺(tái)的頂部固定連接有保護(hù)罩組件,所述保護(hù)罩組件包括與水平穩(wěn)定平臺(tái)頂部固定連接的保護(hù)環(huán),所述保護(hù)環(huán)的頂部開(kāi)設(shè)有連接槽,所述連接槽的內(nèi)表面活動(dòng)連接有密封圈,所述密封圈的頂部固定連接有隔熱保護(hù)罩,所述隔熱保護(hù)罩兩側(cè)的中間均固定連接有同步板,所述同步板的底部固定連接有銜接折板,所述水平穩(wěn)定平臺(tái)的頂部固定連接有放置組件,所述水平穩(wěn)定平臺(tái)底部連通有冷氣輸入組件,所述保護(hù)罩組件內(nèi)壁的頂部固定連接有移動(dòng)組件,所述水平穩(wěn)定平臺(tái)底部的兩側(cè)均固定連接有支撐底座。
優(yōu)選的,所述水平穩(wěn)定平臺(tái)兩側(cè)的頂部均固定連接有側(cè)面托板,所述側(cè)面托板的頂部通過(guò)旋轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)連接有豎直軸。
優(yōu)選的,所述豎直軸的表面固定連接有下壓折板,所述下壓折板表面的一側(cè)固定連接有操作手柄。
優(yōu)選的,所述放置組件包括與水平穩(wěn)定平臺(tái)頂部中間固定連接的放置塊,所述放置塊頂部的中間開(kāi)設(shè)有芯片放置槽,所述芯片放置槽內(nèi)壁底部的兩側(cè)均固定連接有放置板,所述芯片放置槽內(nèi)壁的兩側(cè)固定連接有夾持彈片。
優(yōu)選的,所述冷氣輸入組件包括與水平穩(wěn)定平臺(tái)底部連通的主體引導(dǎo)管,所述主體引導(dǎo)管的底部連通有單向?qū)ü埽鰡蜗驅(qū)ü軆?nèi)壁的頂部固定連接有通過(guò)槽板,所述通過(guò)槽板的底部固定連接有限制引導(dǎo)桿,所述單向?qū)ü軆?nèi)壁的兩側(cè)均固定連接有固定擋板,所述固定擋板底部的一側(cè)固定連接有密封彈簧,所述密封彈簧的底端固定連接有伴隨板,所述伴隨板的一側(cè)固定連接有活動(dòng)套,所述活動(dòng)套的內(nèi)表面與限制引導(dǎo)桿的表面活動(dòng)連接,所述活動(dòng)套的底部固定連接有密封塊,所述單向?qū)ü軆?nèi)壁的底部固定連接有密封隔離圈,所述單向?qū)ü艿牡撞窟B通有銜接螺紋管。
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
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- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
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