[發明專利]測試設備及物料的測試方法

在審

• 申請號: 202211417102.4
• 申請日: 2022-11-14
• 公開（公告）號: CN115754652A
• 公開（公告）日: 2023-03-07
• 發明（設計）人: 林廣滿;范聚吉;王建勇;高魁
• 申請（專利權）人: 惠州深科達半導體科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R1/04;G01R1/02
• 代理公司: 廣州德科知識產權代理有限公司 44381
• 代理人: 孫麗麗;萬振雄

1.一種測試設備，其特征在于，包括

旋轉機構；

轉盤，所述轉盤連接于所述旋轉機構；

進料模組，所述進料模組用于將物料運輸至所述旋轉機構；

加熱模組，所述加熱模組用于加熱所述物料；

第一測試模組，所述第一測試模組用于為所述物料進行高溫測試；

其中，所述進料模組及第一測試模組沿所述轉盤的周向間隔地連接于所述轉盤，所述旋轉機構用于帶動所述轉盤轉動并帶動所述物料從所述進料模組移動至所述第一測試模組。

2.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述加熱模組設于所述進料模組。

3.根據權利要求2所述的測試設備，其特征在于，所述進料模組包括軌道裝置及分離裝置，所述軌道裝置連接于所述轉盤，所述軌道裝置用于將所述物料運輸至所述分離裝置，所述分離裝置與所述加熱模組設于所述軌道裝置，所述分離裝置用于將所述物料從所述軌道裝置分離。

4.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述加熱模組連接于所述轉盤，且所述進料模組、所述加熱模組及所述第一測試模組沿所述周向間隔設置。

5.根據權利要求4所述的測試設備，其特征在于，所述加熱模組包括連接件及加熱盤，所述連接件的一端連接于所述轉盤，所述加熱盤可轉動連接于所述連接件的另一端，所述加熱盤用于加熱多個所述物料。

6.根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于，所述測試設備還包括修正模組，所述修正模組用于調整所述物料的方向，所述修正模組連接于所述轉盤，且所述進料模組、所述修正模組及所述第一測試模組沿所述周向間隔設置。

7.根據權利要求6所述的測試設備，其特征在于，所述修正模組包括檢測模組及旋轉模組，所述檢測模組與所述旋轉模組連接于所述轉盤，且沿所述周向間隔設置，所述檢測模組用于檢測所述物料的極性，所述檢測模組電連接于所述旋轉模組，所述旋轉模組用于根據所述檢測模組的電信號旋轉所述物料。

8.根據權利要求6或7任一項所述的測試設備，其特征在于，所述修正模組上設有第一保溫裝置，所述第一保溫裝置用于為所述物料保溫。

9.根據權利要求1-7任一項所述的測試設備，其特征在于，所述第一測試模組上設有第二保溫裝置，所述第二保溫裝置用于為所述物料保溫。

10.根據權利要求1-7任一項所述的測試設備，其特征在于，所述測試設備還包括降溫模組及第二測試模組，所述降溫模組及所述第二測試模組相對所述第一測試模組沿所述周向間隔地連接于所述轉盤，所述降溫模組用于為所述物料降溫，所述第一測試模組用于為所述物料進行常溫測試。

11.一種物料的測試方法，其特征在于，包括以下步驟

將物料放置于進料模組；

所述進料模組將所述物料運輸至旋轉機構；

加熱模組為所述物料加熱；

所述旋轉機構將加熱后的所述物料移動至第一測試模組；

所述第一測試模組為所述物料進行高溫測試。

12.根據權利要求11所述的測試方法，其特征在于，所述加熱模組為所述物料加熱的步驟，包括

所述加熱模組在所述進料模組將所述物料運輸至所述旋轉機構的過程中為所述物料加熱。

13.根據權利要求11所述的測試方法，其特征在于，包括在所述加熱模組為所述物料加熱的步驟之前進行的以下步驟

所述旋轉機構將所述物料移動至所述加熱模組。