[發明專利]電壓調節器的測試方法及裝置

在審

• 申請號: 202211366376.5
• 申請日: 2022-10-31
• 公開（公告）號: CN115856699A
• 公開（公告）日: 2023-03-28
• 發明（設計）人: 張葉凡
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/40
• 分類號: G01R31/40
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 江舟

本申請實施例提供了一種電壓調節器的測試方法及裝置，其中，該方法包括：根據待測試的電壓調節器所使用的補償電路確定電壓調節器的參考電流參數；根據參考電流參數從電壓調節器的參考電流參數區間中篩選出目標電流參數區間；對目標電流參數區間進行掃頻，得到目標電流參數；使用目標電流參數對電壓調節器測試。通過本申請，解決了相關技術中存在的對電壓調節器的測試效率較低的問題，達到了提高對電壓調節器的測試效率的效果。

技術領域

本申請實施例涉及電源測試領域，具體而言，涉及一種電壓調節器的測試方法及裝置。

背景技術

在電源測試領域，CPU(central processing unit，中央處理器)測試是其中的重要部分。其中，VCCIN(Voltage Current Characteristic IN,電源電壓輸入)的測試在測試項中占較大篇幅，動態響應Transient則是它的一項重要指標。在VCCIN的Transient測試中，現有方案是，一共運行10個測試項Test，每個Test都有不同的測試目的。每個Test都需要運行固定的腳本，掃頻得到最差情況的頻率和占空比；再用得到的最差頻點(頻率和占空比)對VR(Voltage Regulator，電壓調節器)進行拉載，在示波器上讀出對應電壓的最大值和最小值。在整個過程中，最差頻點是通過掃頻的方式從預先提供的頻點范圍中確定出來的，所以掃頻的就需要覆蓋到整個頻點范圍，并且，測試腳本的運行時間也較長，給整個測試過程中帶來了巨大的工作量，從而也導致了測試周期較長。

發明內容

本申請實施例提供了一種電壓調節器的測試方法及裝置，以至少解決相關技術中對電壓調節器的測試效率較低的問題。

根據本申請的一個實施例，提供了一種電壓調節器的測試方法，包括：根據待測試的電壓調節器所使用的補償電路確定所述電壓調節器的參考電流參數，其中，所述電壓調節器用于部署在服務器中并為所述服務器中的目標硬件供電，所述電壓調節器在所述服務器中同時通過所述補償電路和補償算法對輸出電壓進行環路補償，所述參考電流參數用于在僅通過所述補償電路進行環路補償的情況下測試所述電壓調節器的極值電壓；根據所述參考電流參數從所述電壓調節器的參考電流參數區間中篩選出目標電流參數區間，其中，所述參考電流參數區間用于指示所述目標硬件在工作時電流參數的變化范圍；對所述目標電流參數區間進行掃頻，得到目標電流參數；使用所述目標電流參數對所述電壓調節器測試。

可選的，所述根據待測試的電壓調節器所使用的補償電路確定所述電壓調節器的參考電流參數，包括：獲取所述補償電路中電子元件的電子元件參數；根據所述電子元件參數搜索使得所述電壓調節器的峰峰值電壓達到最大值的所述電壓調節器的電流參數作為所述參考電流參數。

可選的，所述根據所述電子元件參數搜索使得所述電壓調節器的峰峰值電壓達到最大值的所述電壓調節器的電流參數作為所述參考電流參數，包括：使用所述電子元件參數構建所述補償電路的系統微分方程，其中，所述系統微分方程用于指示所述電壓調節器的輸出電壓和目標電壓補償值之間的關系，所述目標電壓補償值是所述輸出電壓經過所述補償電路的補償后所得到的電壓值；以所述電壓調節器的峰峰值電壓達到最大值為求解目標，對所述系統微分方程進行求解，得到所述參考電流參數。

可選的，所述以所述電壓調節器的峰峰值電壓達到最大值為求解目標，對所述系統微分方程進行求解，得到所述參考電流參數，包括：將所述系統微分方程轉換為目標傳遞函數；計算所述目標傳遞函數中的零極點，其中，在所述零極點對應的電流參數下，所述電壓調節器輸出的峰峰值電壓達到最大值；將所述零極點轉換為所述參考電流參數。

可選的，所述根據所述參考電流參數從所述電壓調節器的參考電流參數區間中篩選出目標電流參數區間，包括：從所述參考電流參數區間中獲取候選電流參數，其中，所述候選電流參數小于所述參考電流參數；將所述候選電流參數作為目標下限值所述參考電流參數作為目標上限值構建所述目標電流參數區間。