[發明專利]電壓調節器的測試方法及裝置

在審

• 申請號: 202211366376.5
• 申請日: 2022-10-31
• 公開（公告）號: CN115856699A
• 公開（公告）日: 2023-03-28
• 發明（設計）人: 張葉凡
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/40
• 分類號: G01R31/40
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 江舟

1.一種電壓調節器的測試方法，其特征在于，包括：

根據待測試的電壓調節器所使用的補償電路確定所述電壓調節器的參考電流參數，其中，所述電壓調節器用于部署在服務器中并為所述服務器中的目標硬件供電，所述電壓調節器在所述服務器中同時通過所述補償電路和補償算法對輸出電壓進行環路補償，所述參考電流參數用于在僅通過所述補償電路進行環路補償的情況下測試所述電壓調節器的極值電壓；

根據所述參考電流參數從所述電壓調節器的參考電流參數區間中篩選出目標電流參數區間，其中，所述參考電流參數區間用于指示所述目標硬件在工作時電流參數的變化范圍；

對所述目標電流參數區間進行掃頻，得到目標電流參數；

使用所述目標電流參數對所述電壓調節器測試。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據待測試的電壓調節器所使用的補償電路確定所述電壓調節器的參考電流參數，包括：

獲取所述補償電路中電子元件的電子元件參數；

根據所述電子元件參數搜索使得所述電壓調節器的峰峰值電壓達到最大值的所述電壓調節器的電流參數作為所述參考電流參數。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述電子元件參數搜索使得所述電壓調節器的峰峰值電壓達到最大值的所述電壓調節器的電流參數作為所述參考電流參數，包括：

使用所述電子元件參數構建所述補償電路的系統微分方程，其中，所述系統微分方程用于指示所述電壓調節器的輸出電壓和目標電壓補償值之間的關系，所述目標電壓補償值是所述輸出電壓經過所述補償電路的補償后所得到的電壓值；

以所述電壓調節器的峰峰值電壓達到最大值為求解目標，對所述系統微分方程進行求解，得到所述參考電流參數。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述以所述電壓調節器的峰峰值電壓達到最大值為求解目標，對所述系統微分方程進行求解，得到所述參考電流參數，包括：

將所述系統微分方程轉換為目標傳遞函數；

計算所述目標傳遞函數中的零極點，其中，在所述零極點對應的電流參數下，所述電壓調節器輸出的峰峰值電壓達到最大值；

將所述零極點轉換為所述參考電流參數。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述參考電流參數從所述電壓調節器的參考電流參數區間中篩選出目標電流參數區間，包括：

從所述參考電流參數區間中獲取候選電流參數，其中，所述候選電流參數小于所述參考電流參數；

將所述候選電流參數作為目標下限值所述參考電流參數作為目標上限值構建所述目標電流參數區間。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述從所述參考電流參數區間中獲取候選電流參數，包括以下之一：

獲取所述參考電流參數區間的下限值作為所述候選電流參數；

計算所述參考電流參數與目標比例的乘積，其中，所述目標比例大于0且小于1；將所述乘積與所述參考電流參數區間的下限值的和值確定為所述候選電流參數。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述目標電流參數區間進行掃頻，得到目標電流參數，包括：

根據所述參考電流參數確定多個目標掃頻間隔以及每個所述目標掃頻間隔在所述目標電流參數區間中對應的參數子區間，其中，所述參數子區間越靠近所述參考電流參數，所述參數子區間所對應的所述目標掃頻間隔越小；

按照每個所述目標掃頻間隔在每個所述目標掃頻間隔所對應的所述參數子區間中采集電流參數，得到多個初始電流參數；

分別使用所述初始電流參數對所述電壓調節器進行拉載，得到多個所述初始電流參數中每個所述初始電流參數下所述電壓調節器的輸出電壓情況；

從多個所述初始電流參數中篩選出輸出電壓情況滿足目標條件的電流參數作為所述目標電流參數。