[發(fā)明專利]帶電體電勢的確定方法、系統(tǒng)、裝置及存儲介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202211334581.3
• 申請日: 2022-10-28
• 公開（公告）號: CN115575731A
• 公開（公告）日: 2023-01-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 彭慶軍;施勇;鄒德旭;王山;王欣;鄒閱培;王浩州;李國友;周仿榮;楊金越
• 申請（專利權(quán)）人: 云南電網(wǎng)有限責任公司電力科學研究院
• 主分類號: G01R29/12
• 分類號: G01R29/12;G01R15/16;G06F30/20
• 代理公司: 深圳中細軟知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44528
• 代理人: 徐春祺

本發(fā)明實施例公開了一種帶電體電勢的確定方法、系統(tǒng)、裝置及存儲介質(zhì)，屬于輸變電技術(shù)領(lǐng)域；其方法包括獲取待測帶電體的靜電場仿真數(shù)據(jù)；利用所述靜電場仿真數(shù)據(jù)建立靜電場仿真計算模型；獲取所述待測帶電體所處空間內(nèi)至少一個目標點的目標電場數(shù)據(jù)；根據(jù)所述靜電場仿真計算模型和所述目標電場數(shù)據(jù)計算得到所述待測帶電體的帶電體電勢。利用仿真手段和易于測得的目標電場數(shù)據(jù)對帶電體電勢進行確定，無需人員靠近待測帶電體。一方面提高了確定帶電體電勢的安全性；另一方面提高了待測帶電體的帶電體電勢的精確度。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種輸變電技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種帶電體電勢的確定方法、系統(tǒng)、裝置及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

在實際工程應用中，具有很多高壓帶電區(qū)域。該種區(qū)域中通常存在至少一個帶電體。在人體進入高壓帶電區(qū)域之前，需要對帶電體的電勢或者電壓數(shù)值進行評估，以確保人體進入后的安全程度。

但在現(xiàn)有技術(shù)中，由于難以直接測量帶電體的電勢，只能依靠電場強度測量儀獲得帶電體所處空間中的空間電場強度。但僅憑空間電場強度依然難以獲得準確的帶電體的電勢，導致人體進入高壓帶電區(qū)域的危險程度升高，難以保證安全。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明提供了一種帶電體電勢的確定方法、系統(tǒng)、裝置及存儲介質(zhì)，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中帶電體電勢難以準確獲得的問題。為達上述之一或部分或全部目的或是其他目的，本發(fā)明提出一種帶電體電勢的確定方法、系統(tǒng)、裝置及存儲介質(zhì)，第一方面：

一種帶電體電勢的確定方法，包括：

獲取待測帶電體的靜電場仿真數(shù)據(jù)；

利用所述靜電場仿真數(shù)據(jù)建立靜電場仿真計算模型；

獲取所述待測帶電體所處空間內(nèi)至少一個目標點的目標電場數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述靜電場仿真計算模型和所述目標電場數(shù)據(jù)計算得到所述待測帶電體的帶電體電勢。

優(yōu)選地，所述根據(jù)所述靜電場仿真計算模型和所述目標電場數(shù)據(jù)優(yōu)化計算得到所述待測帶電體的帶電體電勢的步驟包括：

設(shè)置待優(yōu)化帶電體電勢；

利用所述靜電場仿真計算模型對所述待優(yōu)化帶電體電勢進行處理，得到待優(yōu)化目標電場強度；

迭代計算所述待優(yōu)化目標電場強度，直到所述待優(yōu)化目標電場強度與所述目標電場數(shù)據(jù)匹配，將對應的所述待優(yōu)化帶電體電勢確定為所述帶電體電勢。

優(yōu)選地，在所述迭代計算所述待優(yōu)化目標電場強度之后，所述方法還包括：

判斷各個所述目標點的優(yōu)化目標電場強度是否均與對應的所述目標電場數(shù)據(jù)適配；

若是，則判定所述待優(yōu)化目標電場強度與所述目標電場數(shù)據(jù)匹配。

優(yōu)選地，所述靜電場仿真數(shù)據(jù)包括帶電體幾何特征數(shù)據(jù)、空間幾何特征數(shù)據(jù)和空間介電常數(shù)。

優(yōu)選地，所述獲取待測帶電體的靜電場仿真數(shù)據(jù)的步驟包括：

獲取三維激光成像設(shè)備采集到的所述帶電體幾何特征數(shù)據(jù)。

優(yōu)選地，所述空間幾何特征數(shù)據(jù)包括目標物體的目標幾何特征數(shù)據(jù)、接地體距離數(shù)據(jù)和目標介電常數(shù)；所述目標幾何特征數(shù)據(jù)為距離所述待測帶電體距離閾值內(nèi)的目標物的幾何特征。

優(yōu)選地，所述獲取所述待測帶電體所處空間內(nèi)至少一個目標點的目標電場數(shù)據(jù)的步驟包括：

獲取空間電場測量設(shè)備采集到的所述目標點的目標電場強度；

獲取所述目標點的空間坐標，以得到所述目標點的目標電場數(shù)據(jù)。

第二方面：