[發(fā)明專利]帶電體電勢的確定方法、系統(tǒng)、裝置及存儲介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202211334581.3
• 申請日: 2022-10-28
• 公開（公告）號: CN115575731A
• 公開（公告）日: 2023-01-06
• 發(fā)明（設計）人: 彭慶軍;施勇;鄒德旭;王山;王欣;鄒閱培;王浩州;李國友;周仿榮;楊金越
• 申請（專利權(quán)）人: 云南電網(wǎng)有限責任公司電力科學研究院
• 主分類號: G01R29/12
• 分類號: G01R29/12;G01R15/16;G06F30/20
• 代理公司: 深圳中細軟知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44528
• 代理人: 徐春祺

1.一種帶電體電勢的確定方法，其特征在于，包括：

獲取待測帶電體的靜電場仿真數(shù)據(jù)；

利用所述靜電場仿真數(shù)據(jù)建立靜電場仿真計算模型；

獲取所述待測帶電體所處空間內(nèi)至少一個目標點的目標電場數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述靜電場仿真計算模型和所述目標電場數(shù)據(jù)計算得到所述待測帶電體的帶電體電勢。

2.如權(quán)利要求1所述的帶電體電勢的確定方法，其特征在于，所述根據(jù)所述靜電場仿真計算模型和所述目標電場數(shù)據(jù)計算得到所述待測帶電體的帶電體電勢的步驟包括：

設置待優(yōu)化帶電體電勢；

利用所述靜電場仿真計算模型對所述待優(yōu)化帶電體電勢進行處理，得到待優(yōu)化目標電場強度；

迭代計算所述待優(yōu)化目標電場強度，直到所述待優(yōu)化目標電場強度與所述目標電場數(shù)據(jù)匹配，將對應的所述待優(yōu)化帶電體電勢確定為所述帶電體電勢。

3.如權(quán)利要求2所述的帶電體電勢的確定方法，其特征在于，在所述迭代計算所述待優(yōu)化目標電場強度之后，所述方法還包括：

判斷各個所述目標點的優(yōu)化目標電場強度是否均與對應的所述目標電場數(shù)據(jù)適配；

若是，則判定所述待優(yōu)化目標電場強度與所述目標電場數(shù)據(jù)匹配。

4.如權(quán)利要求1所述的帶電體電勢的確定方法，其特征在于，所述靜電場仿真數(shù)據(jù)包括帶電體幾何特征數(shù)據(jù)、空間幾何特征數(shù)據(jù)和空間介電常數(shù)。

5.如權(quán)利要求4所述的帶電體電勢的確定方法，其特征在于，所述獲取待測帶電體的靜電場仿真數(shù)據(jù)的步驟包括：

獲取三維激光成像設備采集到的所述帶電體幾何特征數(shù)據(jù)。

6.如權(quán)利要求4所述的帶電體電勢的確定方法，其特征在于，所述空間幾何特征數(shù)據(jù)包括目標物體的目標幾何特征數(shù)據(jù)、接地體距離數(shù)據(jù)和目標介電常數(shù)；所述目標幾何特征數(shù)據(jù)為距離所述待測帶電體距離閾值內(nèi)的目標物的幾何特征。

7.如權(quán)利要求1所述的帶電體電勢的確定方法，其特征在于，所述獲取所述待測帶電體所處空間內(nèi)至少一個目標點的目標電場數(shù)據(jù)的步驟包括：

獲取空間電場測量設備采集到的所述目標點的目標電場強度；

獲取所述目標點的空間坐標，以得到所述目標點的目標電場數(shù)據(jù)。

8.一種帶電體電勢的確定系統(tǒng)，其特征在于，包括獲取模塊，用于獲取待測帶電體的靜電場仿真數(shù)據(jù)，以及獲取所述待測帶電體所處空間內(nèi)至少一個目標點的目標電場數(shù)據(jù)；

模型模塊，用于利用所述靜電場仿真數(shù)據(jù)建立靜電場仿真計算模型；

計算模塊，用于根據(jù)所述靜電場仿真計算模型和所述目標電場數(shù)據(jù)優(yōu)化計算得到所述待測帶電體的帶電體電勢。

9.一種帶電體電勢的確定裝置，包括存儲器和處理器，其特征在于，所述存儲器中存儲有帶電體電勢的確定方法，所述處理器用于在執(zhí)行帶電體電勢的確定方法時采用權(quán)利要求1-7任一項所述帶電體電勢的確定方法。

10.一種存儲介質(zhì)，其特征在于，存儲有能夠被處理器加載并執(zhí)行如權(quán)利要求1-7任一項所述方法的計算機程序。