[發明專利]多工件裝夾的工件批量檢測方法、裝置、電子設備和介質在審
| 申請號: | 202211312343.2 | 申請日: | 2022-10-25 |
| 公開(公告)號: | CN115688700A | 公開(公告)日: | 2023-02-03 |
| 發明(設計)人: | 成亞飛;賴進強 | 申請(專利權)人: | 深圳模德寶科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F40/166 | 分類號: | G06F40/166;G01B21/04 |
| 代理公司: | 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414 | 代理人: | 梁立耀 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 工件 批量 檢測 方法 裝置 電子設備 介質 | ||
1.一種多工件裝夾的工件批量檢測的方法,其特征在于,所述方法包括:
加載多個工件各自的布點信息,所述多個工件固定在夾具上;
將所述多個工件的檢測任務按照預設規則進行排序,得到排序信息;
根據所述排序信息和所述布點信息生成檢測程式;
獲取檢測報告,所述檢測報告為三坐標測量機根據所述檢測程式對所述多個工件進行檢測得到的檢測結果;
根據所述排序信息和所述布點信息對所述檢測報告進行拆分,得到單個工件的檢測報告。
2.根據權利要求1所述的多工件裝夾的工件批量檢測方法,其特征在于,所述多個工件固定在夾具上,包括:
所述多個工件按照所述夾具兩側的孔位固定在所述夾具上。
3.根據權利要求1所述的多工件裝夾的工件批量檢測方法,其特征在于,所述加載多個工件各自的布點信息,包括:
加載每個工件的檢測點數量、檢測點的位置信息以及工件中心坐標。
4.根據權利要求1所述的多工件裝夾的工件批量檢測方法,其特征在于,所述將多個工件的檢測任務按照預設規則進行排序,包括:
將所述多個工件的檢測任務按照工件任務名稱進行降序排序或者按照所述工件任務名稱進行升序排序。
5.根據權利要求1所述的多工件裝夾的工件批量檢測方法,其特征在于,根據所述排序信息和所述布點信息生成檢測程式,包括:
將所述排序信息和所述布點信息輸入freemark中生成所述檢測程式。
6.根據權利要求1所述的多工件裝夾的工件批量檢測方法,其特征在于,所述方法還包括:
對所述單個工件的檢測報告進行解析,得到檢測點明細信息,所述明細信息包括所述檢測點的三維坐標實際值、I,J,K三個矢量方向的分量實際值以及檢測點理論值與實際值的偏差值。
7.一種多工件裝夾的工件批量檢測的裝置,其特征在于,所述裝置包括:
加載單元,用于加載多個工件各自的布點信息,所述多個工件固定在夾具上;
排序單元,用于將多個工件的檢測任務按照預設規則進行排序,得到排序信息;
程式生成單元,用于根據所述排序信息和所述布點信息生成檢測程式;
檢測單元,用于獲取檢測報告,所述檢測報告為三坐標測量機根據所述檢測程式對多個工件進行檢測得到的檢測結果;
拆分單元,用于根據所述排序信息和所述布點信息對所述檢測報告進行拆分,得到單個工件的檢測報告。
8.根據權利要求7所述的多工件裝夾的工件批量檢測的裝置,其特征在于,所述裝置還包括:
解析單元,用于對所述單個工件檢測報告進行解析,得出檢測點明細信息,所述明細信息包括檢測點的三維坐標實際值、I,J,K三個矢量方向的分量實際值以及檢測點理論值和實際值的偏差值。
9.一種電子設備,包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序,其特征在于,所述處理器執行所述計算機程序時實現如權利要求1至6任一項所述的方法。
10.一種計算機可讀存儲介質,所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序,其特征在于,所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至6任一項所述的方法。
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