[發明專利]分析巖石中的礦物的方法

在審

• 申請號: 202211292096.4
• 申請日: 2022-10-21
• 公開（公告）號: CN115561269A
• 公開（公告）日: 2023-01-03
• 發明（設計）人: 張字龍;賀鋒;于阿朋;韓美芝;蔡煜琦;邱林飛;駱效能;張艷
• 申請（專利權）人: 核工業北京地質研究院
• 主分類號: G01N23/2251
• 分類號: G01N23/2251
• 代理公司: 北京市創世宏景專利商標代理有限責任公司 11493
• 代理人: 王鵬鑫

本申請涉及借助地質體的物理、化學性質來分析地質體的技術領域，具體涉及一種分析巖石中的礦物的方法，包括：采集巖石樣品；將巖石樣品制備成透光片樣品、塊狀樣品和探針片樣品；借助顯微鏡對透光片樣品中的礦物進行形態分析；借助掃描電鏡對透光片樣品和塊狀樣品中的礦物進行掃描分析；借助電子探針對探針片樣品中的礦物進行組分分析；確定巖石樣品中礦物的類型，其中，基于形態分析、掃描分析和組分分析的結果中的一個或多個確定巖石樣品中礦物的類型。本申請實施例提供的方法能夠較為全面和準確地對巖石中的礦物進行分析。

技術領域

本申請涉及借助地質體的物理、化學性質來分析地質體的技術領域，具體涉及一種分析巖石中的礦物的方法。

背景技術

巖石中存在多種類型的固體礦物，例如造巖礦物、金屬礦物、非金屬礦物等，對巖石中的多種礦物的類型、空間分布關系等進行分析有助于確定這些礦物的形成機理，對于礦產預測具有重要作用。相關技術中所提供的分析方法往往不夠全面和準確。

發明內容

鑒于上述問題，提出了本申請以便提供一種克服上述問題或者至少部分地解決上述問題的分析巖石中的礦物的方法。

本申請的實施例提供一種分析巖石中的礦物的方法，包括：采集巖石樣品；將巖石樣品制備成透光片樣品、塊狀樣品和探針片樣品；借助顯微鏡對透光片樣品中的礦物進行形態分析；借助掃描電鏡對透光片樣品和塊狀樣品中的礦物進行掃描分析；借助電子探針對探針片樣品中的礦物進行組分分析；確定巖石樣品中礦物的類型，其中，基于形態分析、掃描分析和組分分析的結果中的一個或多個確定巖石樣品中礦物的類型。

本申請實施例提供的方法能夠較為全面和準確地對巖石中的礦物進行分析。

附圖說明

圖1為根據本申請實施例的分析巖石中的礦物的方法的流程圖；

圖2為根據本申請實施例的借助掃描電鏡對透光片樣品進行掃描分析時獲得的圖像；

圖3為根據本申請實施例的借助掃描電鏡對透光片樣品進行分析時獲得的元素平面分布情況示意圖；

圖4為根據本申請實施例的掃描電鏡下觀察到的不同類型礦物組合關系示意圖。

具體實施方式

為使本申請的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本申請實施例的附圖，對本申請的技術方案進行清楚、完整地描述。顯然，所描述的實施例是本申請的一個實施例，而不是全部的實施例。基于所描述的本申請的實施例，本領域普通技術人員在無需創造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本申請保護的范圍。

需要說明的是，除非另外定義，本申請使用的技術術語或者科學術語應當為本申請所屬領域內具有一般技能的人士所理解的通常意義。若全文中涉及“第一”、“第二”等描述，則該“第一”、“第二”等描述僅用于區別類似的對象，而不能理解為指示或暗示其相對重要性、先后次序或者隱含指明所指示的技術特征的數量，應該理解為“第一”、“第二”等描述的數據在適當情況下可以互換。若全文中出現“和/或”，其含義為包括三個并列方案，以“A和/或B”為例，包括A方案，或B方案，或A和B同時滿足的方案。

本申請的實施例提供一種分析巖石中的礦物的方法，參照圖1，其包括：

步驟S102：采集巖石樣品。

步驟S104：將巖石樣品制備成透光片樣品、塊狀樣品和探針片樣品。

步驟S106：借助顯微鏡對透光片樣品中的礦物進行形態分析。

步驟S108：借助掃描電鏡對透光片樣品和塊狀樣品中的礦物進行掃描分析。

步驟S110：借助電子探針對探針片樣品中的礦物進行組分分析。

步驟S112：確定巖石樣品中礦物的類型，其中，基于形態分析、掃描分析和組分分析的結果中的一個或多個確定巖石樣品中礦物的類型。