[發(fā)明專利]分析巖石中的礦物的方法

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• 申請?zhí)枺?/td>: 202211292096.4
• 申請日: 2022-10-21
• 公開（公告）號: CN115561269A
• 公開（公告）日: 2023-01-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張字龍;賀鋒;于阿朋;韓美芝;蔡煜琦;邱林飛;駱效能;張艷
• 申請（專利權(quán)）人: 核工業(yè)北京地質(zhì)研究院
• 主分類號: G01N23/2251
• 分類號: G01N23/2251
• 代理公司: 北京市創(chuàng)世宏景專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11493
• 代理人: 王鵬鑫

1.一種分析巖石中的礦物的方法，包括：

采集巖石樣品；

將所述巖石樣品制備成透光片樣品、塊狀樣品和探針片樣品；

借助顯微鏡對所述透光片樣品中的礦物進(jìn)行形態(tài)分析；

借助掃描電鏡對所述透光片樣品和所述塊狀樣品中的礦物進(jìn)行掃描分析；

借助電子探針對所述探針片樣品中的礦物進(jìn)行組分分析；

確定所述巖石樣品中礦物的類型，其中，基于所述形態(tài)分析、所述掃描分析和所述組分分析的結(jié)果中的一個或多個確定所述巖石樣品中礦物的類型。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述確定所述巖石樣品中礦物的類型包括：

基于所述形態(tài)分析和掃描分析的結(jié)果確定所述巖石樣品中礦物的類型；

確定所述巖石樣品中的待定礦物，所述待定礦物為基于所述形態(tài)分析和所述掃描分析的結(jié)果無法確定類型的礦物；

基于所述組分分析的結(jié)果確定所述待定礦物的類型。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其中，進(jìn)行所述組分分析包括：

確定所述巖石樣品中的所述待定礦物后，在所述探針片樣品中定位所述待定礦物；

借助電子探針對所述待定礦物進(jìn)行所述組分分析。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，還包括：

將所述探針片樣品中的所述待定礦物切割；

借助衍射儀對所切割的所述待定礦物進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析；

所述確定所述巖石樣品中礦物的類型包括：

基于所述組分分析和所述結(jié)構(gòu)分析的結(jié)果確定所述待定礦物的類型。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括：

在確定所述巖石樣品中礦物的類型后，確定所述巖石樣品中不同類型礦物的組合關(guān)系。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中，確定所述巖石樣品中不同類型礦物的組合關(guān)系包括：

基于所述透光片樣品中不同類型礦物的平面組合關(guān)系和所述塊狀樣品中不同類型礦物的立體組合關(guān)系確定所述巖石樣品中不同類型礦物的組合關(guān)系。

7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的方法，還包括：

基于所述巖石樣品中礦物的類型和所述巖石樣品中不同類型礦物的組合關(guān)系，確定所述巖石樣品中礦物的形成機(jī)理。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，將所述巖石樣品制備成塊狀樣品包括：

在所述巖石樣品中垂直于層理面方向的部分處鉗取巖石塊；

將所鉗取的巖石塊處理成預(yù)設(shè)規(guī)格的方塊并進(jìn)行鍍碳處理。

9.根據(jù)權(quán)利要求1或8所述的方法，其中，對所述塊狀樣品中的礦物進(jìn)行所述掃描分析包括：

使用導(dǎo)電材料將所述塊狀樣品固定于所述掃描電鏡的樣品放置區(qū)，以借助所述掃描電鏡對所述塊狀樣品中的礦物進(jìn)行所述掃描分析。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述將所述巖石樣品制備成透光片樣品、塊狀樣品和探針片樣品包括：

在所采集的所述巖石樣品中選取顏色和粒度分布均一的所述巖石樣品；

將所選取的所述巖石樣品分成三份，以分別制備所述透光片樣品、所述塊狀樣品和所述探針片樣品。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述采集巖石樣品包括：

確定目標(biāo)礦物；

采集符合所述目標(biāo)礦物的顏色特征和/或元素含量特征的巖石作為所述巖石樣品。