[發明專利]功能驗證方法及裝置、電子設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202211275770.8
• 申請日: 2022-10-18
• 公開（公告）號: CN115470738A
• 公開（公告）日: 2022-12-13
• 發明（設計）人: 趙北游
• 申請（專利權）人: 長鑫存儲技術有限公司
• 主分類號: G06F30/33
• 分類號: G06F30/33;G06F30/337
• 代理公司: 北京律智知識產權代理有限公司 11438
• 代理人: 劉莉

1.一種功能驗證方法，其特征在于，包括：

獲取待設計芯片對應的初始設計電路；

基于所述初始設計電路確定所述待設計芯片中包含的所有測試計數值；

從所述所有測試計數值中隨機選取指定數量個目標測試計數值；

基于所述目標測試計數值對所述待設計芯片的初始設計電路進行功能驗證，得到功能驗證結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取待設計芯片對應的初始設計電路，包括：

獲取所述待設計芯片對應的功能規范文件，根據所述功能規范文件生成所述初始設計電路。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述目標測試計數值對所述待設計芯片的初始設計電路進行功能驗證，得到功能驗證結果，包括：

基于所述初始設計電路生成電路仿真網表；

根據所述電路仿真網表和所述目標測試計數值，對所述初始設計電路進行功能驗證，得到電路驗證結果；

將所述電路驗證結果為通過的初始設計電路作為目標設計電路。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述電路仿真網表和所述目標測試計數值，對所述初始設計電路進行功能驗證，得到電路驗證結果，包括：

根據所述目標測試計數值生成仿真檢測數據，所述仿真檢測數據包括仿真檢測輸入波形，每個所述目標測試計數值與所述初始設計電路中的一個隨機驗證地址對應；

根據所述仿真檢測輸入波形和所述電路仿真網表，對所述初始設計電路中的所述隨機驗證地址進行功能仿真驗證，得到仿真驗證波形；

根據所述仿真驗證波形確定所述初始設計電路的電路驗證結果。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述初始設計電路確定所述待設計芯片中包含的所有測試計數值，包括：

基于所述初始設計電路確定所述待設計芯片對應的全部尋址地址類型，每個所述尋址地址類型分別對應至少一個二進制計數器電路；

確定每個所述尋址地址類型對應的尋址區間，所述尋址區間與所述二進制計數器電路的計數范圍相關聯；

根據每個所述尋址地址類型對應的尋址區間，確定所述待設計芯片中每個所述尋址地址類型包含的所有測試計數值。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述從所述所有測試計數值中隨機選取指定數量個目標測試計數值，包括：

基于每個所述尋址地址類型確定第一預設數量個首部測試地址與尾部測試地址；

確定每個所述尋址地址類型對應的隨機參考地址；

基于所述隨機參考地址從每個所述尋址區間中確定對應的第二預設數量個隨機測試地址；

根據得到的所述首部測試地址、所述尾部測試地址與所述隨機測試地址，確定每個所述尋址地址類型對應的所述目標測試計數值。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于每個所述尋址地址類型確定第一預設數量個首部測試地址與尾部測試地址，包括：

獲取每個所述尋址地址類型對應的尋址區間中的初始地址與結束地址；

根據所述初始地址確定第一預設數量個連續的所述首部測試地址；

根據所述結束地址確定第一預設數量個連續的所述尾部測試地址。

8.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述確定每個所述尋址地址類型對應的隨機參考地址，包括：

獲取當前系統時間；

基于所述尋址地址類型的尋址區間與所述當前系統時間確定待識別時間值；

將所述待識別時間值轉換為對應的地址轉換數值，根據所述地址轉換數值確定所述隨機參考地址。