[發(fā)明專利]一種低精細(xì)度F-P腔制備裝置及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211241584.2 | 申請(qǐng)日: | 2022-10-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN115656041A | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-01-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 于晉龍;羅浩;王菊;馬闖;韓旭 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 天津大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/01 | 分類號(hào): | G01N21/01;G01N21/84;G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京盛廣信合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 16117 | 代理人: | 秦全 |
| 地址: | 300110 天*** | 國(guó)省代碼: | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 精細(xì) 制備 裝置 方法 | ||
1.一種低精細(xì)度F-P腔制備裝置,其特征在于,包括:寬譜光源(1)、2×1耦合器(2)、擴(kuò)束透鏡(3)、反射球(4)、光譜儀(5);
所述2×1耦合器(2)包括第一光纖尾纖輸入端、第二光纖尾纖輸入端、第一空間光輸出端;所述第一光纖尾纖輸入端與所述寬譜光源(1)的輸出端連接;所述第二光纖尾纖輸入端與所述光譜儀(5)連接;所述第一空間光輸出端與所述擴(kuò)束透鏡(3)連接;所述擴(kuò)束透鏡(3)與所述反射球(4)同軸放置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低精細(xì)度F-P腔制備裝置,其特征在于,
所述2×1耦合器(2)用于將寬譜光進(jìn)行耦合后進(jìn)入到擴(kuò)束透鏡(3),并經(jīng)過(guò)所述反射球(4)進(jìn)行反射,經(jīng)過(guò)所述擴(kuò)束透鏡(3)后返回至所述2×1耦合器(2)中進(jìn)行輸出。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低精細(xì)度F-P腔制備裝置,其特征在于,
所述擴(kuò)束透鏡(3)用于將入射的激光進(jìn)行擴(kuò)束,獲得激光束。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低精細(xì)度F-P腔制備裝置,其特征在于,
所述反射球(4)用于將激光束反射回所述擴(kuò)束透鏡(3),經(jīng)過(guò)所述擴(kuò)束透鏡(3)后返回至所述2×1耦合器(2)中,并在所述2×1耦合器(2)的第一空間光輸出端和反射球(4)之間形成F-P腔。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低精細(xì)度F-P腔制備裝置,其特征在于,
所述光譜儀(5)用于獲取經(jīng)過(guò)F-P腔輸出的光譜特性。
6.一種低精細(xì)度F-P腔制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
寬譜光源(1)發(fā)射寬譜光,所述寬譜光經(jīng)過(guò)2×1耦合器(2)進(jìn)入擴(kuò)束透鏡(3),獲得激光束;所述激光束由反射球(4)反射回所述擴(kuò)束透鏡(3);經(jīng)過(guò)所述擴(kuò)束透鏡(3)后返回至所述2×1耦合器(2)中,并在所述2×1耦合器(2)的第一空間光輸出端和反射球(4)之間形成F-P腔。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的低精細(xì)度F-P腔制備方法,其特征在于,
基于F-P腔的精細(xì)度理論公式,獲得反射球(4)的反射率;基于照射到反射球面上的平行光的半徑,獲得反射光的半徑;基于所述反射光的半徑,獲得對(duì)應(yīng)的反射球(4)的半徑;基于所述反射球(4)的反射率、半徑,將所述擴(kuò)束透鏡(3)與所述反射球(4)同軸放置,構(gòu)建低精細(xì)度F-P腔。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的低精細(xì)度F-P腔制備方法,其特征在于,
所述激光束由反射球(4)反射回所述擴(kuò)束透鏡(3)后,經(jīng)過(guò)2×1耦合器(2)進(jìn)入光譜儀(5);基于所述光譜儀(5),獲取經(jīng)過(guò)所述F-P腔的干涉譜,所述干涉譜為正弦曲線。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于天津大學(xué),未經(jīng)天津大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202211241584.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫(xiě)分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





