[發(fā)明專利]一種低精細(xì)度F-P腔制備裝置及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202211241584.2 | 申請日: | 2022-10-11 |
| 公開(公告)號: | CN115656041A | 公開(公告)日: | 2023-01-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 于晉龍;羅浩;王菊;馬闖;韓旭 | 申請(專利權(quán))人: | 天津大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N21/84;G01N21/88 |
| 代理公司: | 北京盛廣信合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 16117 | 代理人: | 秦全 |
| 地址: | 300110 天*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 精細(xì) 制備 裝置 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種低精細(xì)度F?P腔制備裝置,包括:寬譜光源、2×1耦合器、擴束透鏡、反射球、光譜儀;所述2×1耦合器包括第一光纖尾纖輸入端、第二光纖尾纖輸入端、第一空間光輸出端;所述第一光纖尾纖輸入端與所述寬譜光源的輸出端連接;所述第二光纖尾纖輸入端與所述光譜儀連接;所述第一空間光輸出端與所述擴束透鏡連接;所述擴束透鏡與所述反射球同軸放置。本發(fā)明采用球面反射,避免了透射光對系統(tǒng)的干擾,同時有效地降低了F?P腔的封裝難度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于傳感領(lǐng)域,特別是涉及一種低精細(xì)度F-P腔制備裝置及方法。
背景技術(shù)
光學(xué)測量技術(shù)是一種非常重要的非接觸式無損檢測,通過測量光波特性參量的變化來獲得待測信息,具有測量動態(tài)范圍寬、結(jié)構(gòu)簡單、價格低廉且測量精度高的特點。在高壓、易燃易爆、強腐蝕的環(huán)境下運行可靠,并且具有抗電磁干擾能力強等優(yōu)勢,被廣泛應(yīng)用在絕對距離、位移、壓力、應(yīng)變以及溫度等精密測量領(lǐng)域中。
在諸多光學(xué)測量技術(shù)中,邁克爾遜干涉儀是應(yīng)用最廣泛的微位移測量方法,它可實現(xiàn)納米甚至更高的分辨力,是目前微位移測量的重要技術(shù)手段,但其測距靈敏度具有不均勻性。另外,由于在實際系統(tǒng)中的噪聲水平限制了利用傳統(tǒng)干涉儀的靈敏度。而光纖F-P(Fabry-Perot)傳感器具有體積小、靈敏度高、抗強磁場、頻帶寬、易復(fù)用等優(yōu)點,廣泛應(yīng)用于國防、航天、航空、工業(yè)測控、機械制造、計量測試等領(lǐng)域。光纖F-P傳感器通常是基于光強進行傳感信號的檢測,主要由兩個平行放置的反射膜層構(gòu)成具有一定反射腔長的F-P腔體。當(dāng)檢測光束進入F-P腔時,形成多光束干涉。當(dāng)待測量變化時,F(xiàn)-P腔體的腔長將發(fā)生變化,進而導(dǎo)致光程變化,引起干涉譜的變化。最終,由探測器探測F-P傳感器的透射或反射光強度變化,獲得F-P的腔長,通過適當(dāng)?shù)姆椒ㄟM行解調(diào),從而獲得待測信息。
因此,研制一種對于安裝偏差不敏感的F-P腔結(jié)構(gòu)在其真正應(yīng)用上具有重要意義。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種安裝偏差不敏感的低精細(xì)度F-P腔結(jié)構(gòu),以解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種低精細(xì)度F-P腔制備裝置,其特征在于,包括:寬譜光源、2×1耦合器、擴束透鏡、反射球、光譜儀;
所述2×1耦合器包括第一光纖尾纖輸入端、第二光纖尾纖輸入端、第一空間光輸出端;所述第一光纖尾纖輸入端與所述寬譜光源的輸出端連接;所述第二光纖尾纖輸入端與所述光譜儀連接;所述第一空間光輸出端與所述擴束透鏡連接;所述擴束透鏡與所述反射球同軸放置。
可選的,所述2×1耦合器用于將寬譜光進行耦合后進入到擴束透鏡,并經(jīng)過所述反射球進行反射,經(jīng)過所述擴束透鏡后返回至所述2×1耦合器中進行輸出。
可選的,所述擴束透鏡用于將入射的激光進行擴束,獲得激光束。
可選的,所述反射球用于將激光束反射回所述擴束透鏡,進入2×1耦合器,在所述2×1耦合器空間光輸出端和反射球之間形成F-P腔。
可選的,所述光譜儀用于獲取經(jīng)過F-P腔輸出的光譜特性。
本發(fā)明還提供一種低精細(xì)度F-P腔制備方法,包括以下步驟:
寬譜光源發(fā)射寬譜光,所述寬譜光經(jīng)過2×1耦合器進入擴束透鏡,獲得激光束;所述激光束由反射球反射回所述擴束透鏡,進入2×1耦合器,在所述2×1耦合器空間光輸出端和反射球之間形成F-P腔。
可選的,基于F-P腔的精細(xì)度理論公式,獲得反射球的反射率;基于照射到反射球面上的平行光的半徑,獲得反射光的半徑;基于所述反射光的半徑,獲得對應(yīng)的反射球的半徑;基于所述反射球的反射率、半徑,將所述擴束透鏡與所述反射球同軸放置,構(gòu)建低精細(xì)度F-P腔。
可選的,所述激光束由反射球反射回所述擴束透鏡后,經(jīng)過2×1耦合器進入光譜儀;基于所述光譜儀,獲取經(jīng)過所述F-P腔的干涉譜,所述干涉譜為正弦曲線。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





