[發明專利]多通道依次采樣電流的延時時間的確定方法、程序和電路

有效

• 申請號: 202211233218.2
• 申請日: 2022-10-10
• 公開（公告）號: CN115308520B
• 公開（公告）日: 2023-01-24
• 發明（設計）人: 卓玲佳;夏澤平;丁辰野;葉峰;閆貴雙
• 申請（專利權）人: 杭州三海電子有限公司
• 主分類號: G01R31/01
• 分類號: G01R31/01
• 代理公司: 四川中代知識產權代理有限公司 51358
• 代理人: 王鴻

本發明適用于電子元器件測試技術領域，尤其是涉及多通道依次采樣電流的延時時間的確定方法、程序和電路。本發明將待測電子元器件設置于N個檢測通道中，基于第1檢測通道采集的電流值，以及電流采樣電路對第1檢測通道進行采樣后的放電時間為基準，通過前一通道采樣的電流值來計算下一通道的延時時間，從而實現了整個采樣過程中不同檢測通道施加的延時電流變化，在保證了每個檢測通道采樣準確度高的同時，縮減了整個測試過程所需要的時間。同時，由于測試時間縮短，電子元器件離開老煉加熱爐的時間縮短，熱耗散減少，也降低了整個老煉試驗的能耗。

技術領域

本發明涉及電子元器件測試技術領域，尤其是涉及一種多通道依次采樣電流的延時時間的確定方法、程序和電路。

背景技術

當前，電子技術高速發展，電子產品作為系統的核心、重要組成部分廣泛應用于航空、航天、船舶、兵器、民用工業等各行各業。同時，隨著復雜的使用要求和工況的不斷涌現，對電子設備整機的精度和可靠性要求越來越高，因而，需要在電路中應用高質量、高精度、高可靠的電子元器件。

由于電子元器件在制造過程中可能由于工藝、材料、外部影響、人為因素等原因，在出廠之后存在個別或批次性的潛在缺陷，而導致直接在裝聯到整機上之后，會對產品的使用存在隱患或產生影響。因而對電子元器件早期失效的篩選工作尤為重要。

現有技術中一般采用老煉的方法篩選出早期失效的電子元器件，通過老煉過程中測試電子元器件的漏電流，當漏電流大于設定值時，判定為該電子元器件失效。同時，為了提高檢測效率，通常對電子元器件進行批量老化和批量測試，測試電路如圖1所示，為了降低測量設備的成本，通常只采用一個電流采樣電路，依次連接到多個通道中測量多個電子元器件的漏電流。圖中，檢測通道包括L₁到L_N，共N條檢測通道，每個檢測通道連接一個開關K，K₁到K_N分別對應于第1到第N條檢測通道，電流采樣電流分別通過開關K₁到K_N依次與其上的待測電子元器件連接，以采集該通道內的電子元器件的漏電流。采樣電阻R兩端連接放大電路等，通過采集到的Vout和已知的R值計算電流值。

然而，當電流電流采樣電路連接到測量電路中時，電路穩定需要一定的時間，即需要設定一定的延時進行采樣。現有技術中，一般根據經驗設定一個固定的延時時間，如此卻存在以下技術問題：

1）.延時時間不夠，使得采樣電流不準確；

2）.延時時間過長，導致測試整體時間偏長。由于老煉過程中需要將加熱的電子元器件從加熱設備中取出進行電流測試，測試的時間越長，電子元器件的熱耗散越大，放回到老煉設備中后所需的加熱能量越多，如此造成能耗增加。

發明內容

為了解決現有技術的不足，本發明的提供一種多通道依次采樣電流的延時時間的確定方法，能夠在測試過程中根據測試的情況實時調整延時時間，以在保證測試結果準確的基礎上，縮短測試所需時間，盡可能減少能耗。

一種多通道依次采樣電流的延時時間的確定方法，包括以下步驟:

S10. 將待測電子元器件分別設置在第1，2，3，...，n，...，N檢測通道中；其中，n為第n個檢測通道，N為檢測通道數，n≤N；

S20. 設定初始延時時間T₁，將電流采樣電路接入第1個檢測通道，延時初始延時時間T₁后采樣第一電流I₁，斷開第1個檢測通道；

S30. 等待電流采樣電路采樣的電流值降為零，記錄從斷開第1檢測通道到電流降為零時所需的時間T₀；

S40. 將電流采樣電路接入第2個檢測通道，延時初始延時時間T₁后采樣第二電流I₂，斷開第2個檢測通道；