[發(fā)明專利]多通道依次采樣電流的延時(shí)時(shí)間的確定方法、程序和電路

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202211233218.2
• 申請(qǐng)日: 2022-10-10
• 公開（公告）號(hào): CN115308520B
• 公開（公告）日: 2023-01-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 卓玲佳;夏澤平;丁辰野;葉峰;閆貴雙
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 杭州三海電子有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/01
• 分類號(hào): G01R31/01
• 代理公司: 四川中代知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51358
• 代理人: 王鴻

1.一種多通道依次采樣電流的延時(shí)時(shí)間的確定方法，其特征在于，包括以下步驟:

S10. 將待測(cè)電子元器件分別設(shè)置在第1，2，3，...，n，...，N檢測(cè)通道中；其中，n為第n個(gè)檢測(cè)通道，N為檢測(cè)通道數(shù)，n≤N；

S20. 設(shè)定初始延時(shí)時(shí)間T₁，將電流采樣電路接入第1個(gè)檢測(cè)通道，延時(shí)初始延時(shí)時(shí)間T₁后采樣第一電流I₁，斷開第1個(gè)檢測(cè)通道；

S30. 等待電流采樣電路采樣的電流值降為零，記錄從斷開第1檢測(cè)通道到電流降為零時(shí)所需的時(shí)間T₀；

S40. 將電流采樣電路接入第2個(gè)檢測(cè)通道，延時(shí)初始延時(shí)時(shí)間T₁后采樣第二電流I₂，斷開第2個(gè)檢測(cè)通道；

S50. 將電流采樣電路接入第n個(gè)檢測(cè)通道，延時(shí)時(shí)間T_n后采集第n電流I_n，斷開第n個(gè)檢測(cè)通道；其中，N≥n≥3,

，

S60. 令n=n+1，重復(fù)步驟S50，直至完成所有待測(cè)電子元器件的測(cè)量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多通道依次采樣電流的延時(shí)時(shí)間的確定方法，其特征在于，

當(dāng)所計(jì)算的T_n小于T_min，則令T_n=T_min，其中，T_min為最小延時(shí)時(shí)間；

或

當(dāng)所計(jì)算的T_n小于T₁，則令T_n=T₁。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種多通道依次采樣電流的延時(shí)時(shí)間的確定方法，其特征在于，所述初始延 時(shí) 時(shí)間T₁和最小延時(shí)時(shí)間T_min根據(jù)經(jīng)驗(yàn)設(shè)定。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種多通道依次采樣電流的延時(shí)時(shí)間的確定方法，其特征在于，所述最小延時(shí)時(shí)間T_min的確定方法為：

將所述電流采樣電路接入標(biāo)準(zhǔn)電流源，等待采樣的電流值穩(wěn)定時(shí)，記錄所等待的時(shí)間為最小延時(shí)時(shí)間T_min；所述標(biāo)準(zhǔn)電流源的電流為設(shè)定值。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多通道依次采樣電流的延時(shí)時(shí)間的確定方法，其特征在于，步驟S20中，當(dāng)采集得到的第一電流I₁不屬于設(shè)定的最小電流閾值I_min和最大電流閾值I_max之間時(shí)，停止檢測(cè)，更換第一檢測(cè)通道中的電子元器件。

6.一種多通道依次采樣電流的延時(shí)時(shí)間的確定方法，其特征在于，

S10. 將待測(cè)電子元器件分別設(shè)置在第1， 3，...，n，...，N檢測(cè)通道中；其中，n為第n個(gè)檢測(cè)通道，N為檢測(cè)通道數(shù)，n≤N；在第2檢測(cè)通道中不設(shè)置電子元器件；

S20. 設(shè)定初始延時(shí)時(shí)間T₁，將電流采樣電路接入第1個(gè)檢測(cè)通道，延時(shí)初始延時(shí)時(shí)間T₁后采樣第一電流I₁，斷開第1個(gè)檢測(cè)通道；

S30. 將電流采樣電路接入第2個(gè)檢測(cè)通道，等待電流采樣電路采樣的電流值降為零，記錄從斷開第1檢測(cè)通道到電流降為零時(shí)所需的時(shí)間T₀；

S40. 將電流采樣電路接入第3個(gè)檢測(cè)通道，延時(shí)初始延時(shí)時(shí)間T₁后采樣第三電流I₃，斷開第3個(gè)檢測(cè)通道；

S50. 將電流采樣電路接入第n個(gè)檢測(cè)通道，延時(shí)時(shí)間T_n后采集第n電流I_n，斷開第n個(gè)檢測(cè)通道；其中，N≥n≥4,

，

S60. 令n=n+1，重復(fù)步驟S50，直至完成所有待測(cè)電子元器件的測(cè)量。