[發明專利]一種元器件的老化檢測方法、系統、存儲介質和設備

有效

• 申請號: 202211233166.9
• 申請日: 2022-10-10
• 公開（公告）號: CN115308517B
• 公開（公告）日: 2023-01-24
• 發明（設計）人: 卓玲佳;夏澤平;丁辰野;葉峰;葉劍軍;張洪威
• 申請（專利權）人: 杭州三海電子有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 四川中代知識產權代理有限公司 51358
• 代理人: 李康

本發明適用于測量技術領域，提供了一種元器件的老化檢測方法、系統、存儲介質和設備，其中一種元器件的老化檢測方法，包括如下步驟：獲取待測元器件分別對應第一電子設備中的第一預設波動量，第二電子設備中的第二預設波動量；將待測元器件與第一電子設備連接，獲取待測元器件的第一波動量，將待測元器件與第二電子設備連接，獲取待測元器件的第二波動量；根據獲得的第一波動量、第一預設波動量、第二波動量，第二預設波動量，來判斷待測元器件是否老化。通過本申請提供的方法，避免的因為待測元器件由于電子設備之間的差異，而誤判待測元器件的老化情況。

技術領域

本發明涉及一種測量技術領域，尤其是涉及一種元器件的老化檢測方法、系統、存儲介質和設備。

背景技術

隨著科技的進步，電子技術飛速發展，電子產品作為系統的核心、重要組成部分廣泛應用于航空、航天、船舶、兵器、民用工業等各行各業。同時，隨著復雜的使用要求和工況的不斷涌現，對電子設備整機的精度和可靠性要求越來越高，需要工作人員不斷的測試其性能，保證電子產品的正常運行。

電子設備類的產品在加工過程中，由于經歷了復雜的加工和元器件的大量使用，無論是加工缺陷還是元器件缺陷，都可分為明顯缺陷和潛在缺陷，明顯缺陷指那些導致產品不能正常工作的缺陷，例如短路/斷路。然而潛在缺陷導致產品暫時可以使用，但是在使用中缺陷會很快暴露出來，產品不能正常工作。潛在缺陷則無法用常規檢驗手段發現，而是用老化的方法來剔除。

如專利CN114088128A中記載：本發明公開了一種傳感器確定方法、裝置、存儲介質及設備，涉及傳感器技術領域，用于確認傳感器是否老化，以節省人力資源，包括：獲取目標傳感器發送的當前采集數據；在目標傳感器的當前采集數據滿足對應的告警條件的情況下，獲取目標參照傳感器的當前采集數據；目標參照傳感器與目標傳感器之間的相關系數大于第一閾值；在目標參照傳感器的當前采集數據不滿足對應的告警條件的情況下，確定目標傳感器為老化傳感器。

如專利CN111750925A中記載：本發明實施例提出一種設備老化預測系統、方法和裝置，涉及檢測技術領域。該設備老化預測系統包括數據獲取模塊和處理器，數據獲取模塊與處理器電連接；數據獲取模塊用于獲取被測設備中目標器件的參考數據和實時數據，并將參考數據和實時數據傳輸至處理器；處理器用于依據參考數據和實時數據獲得出廠特征數據、當前特征數據、經歷時間和經歷工作強度數據；還用于將出廠特征數據、當前特征數據、經歷時間、經歷工作強度數據和預設工作強度數據輸入預測模型中，獲得被測設備的老化預測數據。進而使得設備老化預測系統能夠準確的預測出被測設備的老化程度。

現有技術中在對元器件在進行老化檢測的過程中會出現以下問題，每一個電子設備在出廠的時候，會對應設置一個元器件在該電子設備中安裝后允許的誤差范圍；每一個電子設備即使針對同一個元器件，設置的誤差范圍也不一樣，在做老化試驗的過程中，即使同一個元器件在不同批次生產出來的同一個設備中進行測量，其測量結果也是不同的，如元器件在A電子設備中測量的參數不符合誤差范圍，就會扔了，但其實還存在元器件在B電子設備中測量的參數符合誤差范圍；若只要元器件在任何一個電子設備中只檢測一次，且檢測結果不合格的話，就扔掉，可能出出現扔錯的情況。

發明內容

本發明的目的是提供一種元器件的老化檢測方法、系統、存儲介質和設備，來解決現有技術中存在的上述技術問題，主要包括以下四個方面：

本申請第一方面提供了一種元器件的老化檢測方法，包括如下步驟：

步驟S100：獲取待測元器件分別對應第一電子設備中的第一預設波動量，第二電子設備中的第二預設波動量；

步驟S200：將待測元器件與第一電子設備連接，獲取待測元器件的第一波動量，將待測元器件與第二電子設備連接，獲取待測元器件的第二波動量；其中，第一波動量為待測元器件與第一電子設備連接后獲得的第一實際測量值與第一理論值形成的第一差值，第二波動量為待測元器件與第二電子設備連接后獲得的第二實際測量值與第二理論值形成的第二差值；