[發(fā)明專利]一種元器件的老化檢測(cè)方法、系統(tǒng)、存儲(chǔ)介質(zhì)和設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202211233166.9
• 申請(qǐng)日: 2022-10-10
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN115308517B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-01-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 卓玲佳;夏澤平;丁辰野;葉峰;葉劍軍;張洪威
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 杭州三海電子有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 四川中代知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51358
• 代理人: 李康

1.一種元器件的老化檢測(cè)方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟S100：獲取待測(cè)元器件分別對(duì)應(yīng)第一電子設(shè)備中的第一預(yù)設(shè)波動(dòng)量，第二電子設(shè)備中的第二預(yù)設(shè)波動(dòng)量；

步驟S200：將待測(cè)元器件與第一電子設(shè)備連接，獲取待測(cè)元器件的第一波動(dòng)量，將待測(cè)元器件與第二電子設(shè)備連接，獲取待測(cè)元器件的第二波動(dòng)量；其中，第一波動(dòng)量為待測(cè)元器件與第一電子設(shè)備連接后獲得的第一實(shí)際測(cè)量值與第一理論值形成的第一差值，第二波動(dòng)量為待測(cè)元器件與第二電子設(shè)備連接后獲得的第二實(shí)際測(cè)量值與第二理論值形成的第二差值；

步驟S300：根據(jù)獲得的第一波動(dòng)量、第一預(yù)設(shè)波動(dòng)量、第二波動(dòng)量，第二預(yù)設(shè)波動(dòng)量，來(lái)判斷待測(cè)元器件是否老化；

步驟S300包括：

步驟S310：若第一波動(dòng)量小于第一預(yù)設(shè)波動(dòng)量時(shí)，則判斷待測(cè)元器件未老化；

步驟S320：若第一波動(dòng)量不小于第一預(yù)設(shè)波動(dòng)量時(shí)，則根據(jù)待測(cè)元器件的第一實(shí)際測(cè)量值與第一預(yù)設(shè)理論值來(lái)判斷待測(cè)元器件是否老化；

步驟S320包括：

步驟S321：若第一實(shí)際測(cè)量值小于第一預(yù)設(shè)理論值；則判斷待測(cè)元器件未老化；

步驟S322：若第一實(shí)際測(cè)量值不小于第一預(yù)設(shè)理論值，則根據(jù)第一預(yù)設(shè)波動(dòng)量和第二預(yù)設(shè)波動(dòng)量來(lái)判斷待測(cè)元器件是否老化；

步驟S322包括：

所述第二電子設(shè)備包括多個(gè)第二電子設(shè)備單元；獲取每個(gè)電子設(shè)備單元的第二子預(yù)設(shè)波動(dòng)量；

獲取第一預(yù)設(shè)波動(dòng)量與第二子預(yù)設(shè)波動(dòng)量的最小差值，將最小差值對(duì)應(yīng)的第二電子設(shè)備單元作為第二電子設(shè)備，將最小差值對(duì)應(yīng)的第二電子設(shè)備單元的第二子預(yù)設(shè)波動(dòng)量作為第二預(yù)設(shè)波動(dòng)量；

若第二波動(dòng)量小于第二預(yù)設(shè)波動(dòng)量，則判斷待測(cè)元器件未老化。

2.一種元器件的老化檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括如下模塊：

第一獲取模塊：用于獲取待測(cè)元器件分別對(duì)應(yīng)第一電子設(shè)備中的第一預(yù)設(shè)波動(dòng)量，第二電子設(shè)備中的第二預(yù)設(shè)波動(dòng)量；

第二獲取模塊：用于將待測(cè)元器件與第一電子設(shè)備連接，獲取待測(cè)元器件的第一波動(dòng)量，將待測(cè)元器件與第二電子設(shè)備連接，獲取待測(cè)元器件的第二波動(dòng)量；其中，第一波動(dòng)量為待測(cè)元器件與第一電子設(shè)備連接后獲得的第一實(shí)際測(cè)量值與第一理論值形成的第一差值，第二波動(dòng)量為待測(cè)元器件與第二電子設(shè)備連接后獲得的第二實(shí)際測(cè)量值與第二理論值形成的第二差值；

判斷模塊：用于根據(jù)獲得的第一波動(dòng)量、第一預(yù)設(shè)波動(dòng)量、第二波動(dòng)量，第二預(yù)設(shè)波動(dòng)量，來(lái)判斷待測(cè)元器件是否老化；

判斷模塊還包括:

若第一波動(dòng)量小于第一預(yù)設(shè)波動(dòng)量時(shí)，則判斷待測(cè)元器件未老化；

若第一波動(dòng)量不小于第一預(yù)設(shè)波動(dòng)量時(shí)，則根據(jù)待測(cè)元器件的第一實(shí)際測(cè)量值與第一預(yù)設(shè)理論值來(lái)判斷待測(cè)元器件是否老化；

判斷模塊還具體包括：

若第一實(shí)際測(cè)量值小于第一預(yù)設(shè)理論值；則判斷待測(cè)元器件未老化；

若第一實(shí)際測(cè)量值不小于第一預(yù)設(shè)理論值，則根據(jù)第一預(yù)設(shè)波動(dòng)量和第二預(yù)設(shè)波動(dòng)量來(lái)判斷待測(cè)元器件是否老化；

所述第二電子設(shè)備包括多個(gè)第二電子設(shè)備單元；獲取每個(gè)電子設(shè)備單元的第二子預(yù)設(shè)波動(dòng)量；

獲取第一預(yù)設(shè)波動(dòng)量與第二子預(yù)設(shè)波動(dòng)量的最小差值，將最小差值對(duì)應(yīng)的第二電子設(shè)備單元作為第二電子設(shè)備，將最小差值對(duì)應(yīng)的第二電子設(shè)備單元的第二子預(yù)設(shè)波動(dòng)量作為第二預(yù)設(shè)波動(dòng)量；

若第二波動(dòng)量小于第二預(yù)設(shè)波動(dòng)量，則判斷待測(cè)元器件未老化。

3.一種可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，用于存儲(chǔ)程序，所述存儲(chǔ)程序被執(zhí)行時(shí)，用于實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-2任一項(xiàng)所述的元器件的老化檢測(cè)方法。

4.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：一個(gè)或多個(gè)處理器；存儲(chǔ)器，其上存儲(chǔ)有一個(gè)或者多個(gè)程序；當(dāng)所述一個(gè)或多個(gè)程序被所述一個(gè)或多個(gè)處理器執(zhí)行時(shí)，使得所述一個(gè)或多個(gè)處理器實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-2任一項(xiàng)所述的元器件的老化檢測(cè)方法。