[發明專利]基于IGBT生產的視覺檢測系統及方法

有效

• 申請號: 202211219296.7
• 申請日: 2022-10-08
• 公開（公告）號: CN115283296B
• 公開（公告）日: 2023-03-10
• 發明（設計）人: 姜維賓;和西棟
• 申請（專利權）人: 煙臺臺芯電子科技有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/36
• 代理公司: 北京中索知識產權代理有限公司 11640
• 代理人: 鄒長斌

本發明涉及圖像數據處理技術領域，具體涉及基于IGBT生產的視覺檢測系統及方法，包括：控制終端，是系統的主控端，用于發出執行命令；分析模塊，用于分析檢測目標晶體管的規格參數及合格閾值；分割模塊，用于分割攝像頭模組實時捕捉的檢測目標晶體管的圖像數據，供系統對分割圖像數據進行分別檢測；本發明能對IGBT的主體與引導分別進行視覺檢測，從而以此為基礎對IGBT進行區分，對IGBT主體合格的進一步進行其引腳的視覺檢測，從而通過此種方式，在對IGBT進行是否合格的視覺檢測過程中對IGBT進行了區分，以便于工作人員后續對于各類問題IGBT處理，達到提升IGBT檢測效率及合格率的效果。

技術領域

本發明涉及圖像數據處理技術領域，具體涉及基于IGBT生產的視覺檢測系統及方法。

背景技術

IGBT即絕緣柵雙極型晶體管，是由雙極型三極管和絕緣柵型場效應管組成的復合全控型電壓驅動式功率半導體， 兼有金氧半場效晶體管的高輸入阻抗和電力晶體管的低導通壓降兩方面的優點。

目前 的IGBT檢測主要依賴于單一工序的機器視覺檢測，其對IGBT的主體能夠有效地進行合格檢測，但對于IGBT的微小緊密的引腳無法進行精準的檢測，這導致IGBT的檢測過程需要人工參與進一步的對IGBT引腳進行檢測，采用此種人機交互的檢測方式，耗費資源較多，檢測周期跨度較大，且并不能夠大幅度的提升IGBT檢測準確度。

發明內容

解決的技術問題

針對現有技術所存在的上述缺點，本發明提供了基于IGBT生產的視覺檢測系統及方法，解決了上述背景技術中提出的技術問題。

技術方案

為實現以上目的，本發明通過以下技術方案予以實現：

第一方面，基于IGBT生產的視覺檢測系統，包括：

控制終端，是系統的主控端，用于發出執行命令；

分析模塊，用于分析檢測目標晶體管的規格參數及合格閾值；

分割模塊，用于分割攝像頭模組實時捕捉的檢測目標晶體管的圖像數據，供系統對分割圖像數據進行分別檢測；

檢測模塊，用于獲取經分割模塊分割的圖像數據，對分割圖像數據中的檢測目標晶體管圖像進行棱角端點連線比值的計算，參考計算所得比值與合格閾值進行比對；

篩選模塊，用于獲取檢測模塊對每組檢測目標晶體管的比對結果，參考檢測目標晶體管棱角端點連線比值是否處于合格閾值范圍內對檢測目標晶體管進行區分；

捕捉模塊，用于獲取篩選模塊中處于合格閾值范圍內的檢測目標晶體管，對檢測目標晶體管的引腳進行參數測定；

評價模塊，用于計量當前檢測目標晶體管的階段合格率；

其中，所述分析模塊中分析設定的檢測目標晶體管合格閾值包括：晶體管圖像棱角端點連線比值合格閾值、檢測目標晶體管時間棱角端點連接跨度值及檢測目標晶體管的引腳參數合格閾值。

更進一步地，所述分析模塊下級設置有子模塊，包括：

攝像頭模組，用于采集標準晶體管的外觀圖像；

建模單元，用于獲取攝像頭模組中采集的標準晶體管外觀圖像，參考標準晶體管外觀圖像數據構建標準晶體管三維模型；

編輯單元，用于設定檢測目標晶體管在進行視覺檢測時的合格參數閾值；

其中，編輯單元通過用戶手動編輯設置合格參數閾值。

更進一步地，所述建模單元還用于繪制標準晶體管三維模型；