[發(fā)明專利]檢測(cè)方法以及檢測(cè)電路

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202211196625.0
• 申請(qǐng)日: 2022-09-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN115277520B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-12-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 應(yīng)子罡;趙亞瓊;楊猛;曹正;張雄波;劉銀棟;楊麗麗;何斌
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京國(guó)科天迅科技有限公司
• 主分類號(hào): H04L43/50
• 分類號(hào): H04L43/50;H04L67/12;H04B15/00;G01R31/52;G01R31/54
• 代理公司: 北京華進(jìn)京聯(lián)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11606
• 代理人: 魏朋

本申請(qǐng)涉及一種檢測(cè)方法以及檢測(cè)電路，所述方法包括：?jiǎn)?dòng)所述第一信號(hào)選擇電路中目標(biāo)開(kāi)關(guān)，關(guān)閉其他開(kāi)關(guān)；通過(guò)所述第一ADC采樣電路采集第一信號(hào)，如果所述第一信號(hào)滿足預(yù)設(shè)第一電平條件，則在通過(guò)第一發(fā)送電路發(fā)送標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)后，通過(guò)所述第一ADC采樣電路采集第二信號(hào)；如果所述第二信號(hào)滿足預(yù)設(shè)第二電平條件，則關(guān)閉所述第一發(fā)送電路發(fā)送的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)，并通過(guò)所述第一ADC采樣電路采集第三信號(hào)；根據(jù)預(yù)設(shè)信號(hào)與端口狀態(tài)的對(duì)應(yīng)關(guān)系，確定所述第三信號(hào)對(duì)應(yīng)的所述第一端口的狀態(tài)。采用本方法，可以在不增加額外的檢測(cè)信號(hào)源的情況下，全面準(zhǔn)確地檢測(cè)端口的實(shí)時(shí)狀態(tài)，并避免額外的檢測(cè)信號(hào)源的干擾。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及通信技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種檢測(cè)方法以及檢測(cè)電路。

背景技術(shù)

隨著科技的發(fā)展，車(chē)載以太網(wǎng)也在不斷發(fā)展，相關(guān)技術(shù)中車(chē)載以太網(wǎng)的接口電路是由MAC（介質(zhì)訪問(wèn)控制）、PHY芯片（物理接口收發(fā)器）以及雙絞線插座組成，通過(guò)雙絞線插座與雙絞線的物理連接來(lái)實(shí)現(xiàn)信號(hào)的雙向傳輸。為了保證信號(hào)的穩(wěn)定傳輸，需要對(duì)車(chē)載以太網(wǎng)的車(chē)載端口的工作狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)。

相關(guān)技術(shù)中，通過(guò)在以太網(wǎng)物理層接口芯片中增加測(cè)試信號(hào)源（如時(shí)域反射計(jì)TDR）對(duì)車(chē)載以太網(wǎng)的車(chē)載端口的工作狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)，由于相關(guān)技術(shù)中的檢測(cè)方式需要通過(guò)測(cè)試信號(hào)源產(chǎn)生額外的測(cè)試信號(hào)，導(dǎo)致容易受到額外的測(cè)試信號(hào)的干擾，產(chǎn)生誤判。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對(duì)上述技術(shù)問(wèn)題，提供一種能夠可以準(zhǔn)確判斷端口的工作狀態(tài)的檢測(cè)方法以及檢測(cè)電路。

第一方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N檢測(cè)方法。

所述方法應(yīng)用于檢測(cè)電路，所述檢測(cè)電路包括：控制裝置、第一發(fā)射芯片以及第二發(fā)射芯片，所述第一發(fā)射芯片，包括第一發(fā)送電路、第一端口、第一接收信號(hào)處理電路、第一信號(hào)選擇電路、第一ADC采樣電路；所述第一端口與所述第一接收信號(hào)處理電路的第一端連接，所述第一發(fā)送電路連接與所述第一接收信號(hào)處理電路的第一端連接，所述第一端口與所述第一信號(hào)選擇電路的第一端連接，所述第一發(fā)送電路連接與所述第一信號(hào)選擇電路的第一端連接，所述第一接收信號(hào)處理電路的第二端與所述第一信號(hào)選擇電路的第二端連接，所述第一信號(hào)選擇電路的第三端與所述第一ADC采樣電路連接，所述第一發(fā)射芯片通過(guò)共模扼流圈與所述第二發(fā)射芯片連接，所述第一信號(hào)選擇電路中包括多個(gè)開(kāi)關(guān)；

啟動(dòng)所述第一信號(hào)選擇電路中目標(biāo)開(kāi)關(guān)，并關(guān)閉其他開(kāi)關(guān)；

通過(guò)所述第一ADC采樣電路采集第一信號(hào)，如果所述第一信號(hào)不滿足預(yù)設(shè)第一電平條件，則在通過(guò)第一發(fā)送電路發(fā)送標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)后，通過(guò)所述第一ADC采樣電路采集第二信號(hào)；

如果所述第二信號(hào)滿足預(yù)設(shè)第二電平條件，則關(guān)閉所述第一發(fā)送電路發(fā)送的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)，并通過(guò)所述第一ADC采樣電路采集第三信號(hào)；

根據(jù)預(yù)設(shè)信號(hào)與端口狀態(tài)的對(duì)應(yīng)關(guān)系，確定所述第三信號(hào)對(duì)應(yīng)的所述第一端口的狀態(tài)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述根據(jù)預(yù)設(shè)信號(hào)與端口狀態(tài)的對(duì)應(yīng)關(guān)系，確定所述第三信號(hào)對(duì)應(yīng)的所述第一端口的狀態(tài)，包括：

如果所述第三信號(hào)是預(yù)設(shè)共模信號(hào)，則確定所述第一端口是開(kāi)路狀態(tài)；

如果所述第三信號(hào)不是所述預(yù)設(shè)共模信號(hào)，則確定所述第一端口是正常狀態(tài)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述方法還包括：

如果所述第一信號(hào)滿足預(yù)設(shè)第一電平條件，則在所述第一信號(hào)是所述標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的情況下，確定所述第一端口是正常狀態(tài)；

或，在所述第一信號(hào)的電平是零電平的情況下，確定所述第一端口是短路到地的狀態(tài)；

或，在所述第一信號(hào)的電平是預(yù)設(shè)電源電平的情況下，確定所述第一端口是短路到電源的狀態(tài)。