[發(fā)明專利]檢測方法以及檢測電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202211196625.0
• 申請日: 2022-09-29
• 公開（公告）號: CN115277520B
• 公開（公告）日: 2022-12-27
• 發(fā)明（設計）人: 應子罡;趙亞瓊;楊猛;曹正;張雄波;劉銀棟;楊麗麗;何斌
• 申請（專利權）人: 北京國科天迅科技有限公司
• 主分類號: H04L43/50
• 分類號: H04L43/50;H04L67/12;H04B15/00;G01R31/52;G01R31/54
• 代理公司: 北京華進京聯知識產權代理有限公司 11606
• 代理人: 魏朋

1.一種檢測方法，其特征在于，所述方法應用于檢測電路，所述檢測電路包括：控制裝置、第一發(fā)射芯片以及第二發(fā)射芯片，所述第一發(fā)射芯片，包括第一發(fā)送電路、第一端口、第一接收信號處理電路、第一信號選擇電路、第一ADC采樣電路；所述第一端口與所述第一接收信號處理電路的第一端連接，所述第一發(fā)送電路與所述第一接收信號處理電路的第一端連接，所述第一端口與所述第一信號選擇電路的第一端連接，所述第一發(fā)送電路連接與所述第一信號選擇電路的第一端連接，所述第一接收信號處理電路的第二端與所述第一信號選擇電路的第二端連接，所述第一信號選擇電路的第三端與所述第一ADC采樣電路連接，所述第一發(fā)射芯片通過共模扼流圈與所述第二發(fā)射芯片連接，所述第一信號選擇電路中包括多個開關；

啟動所述第一信號選擇電路中目標開關，并關閉其他開關；

通過所述第一ADC采樣電路采集第一信號，如果所述第一信號不滿足預設第一電平條件，則在通過第一發(fā)送電路發(fā)送標準信號后，通過所述第一ADC采樣電路采集第二信號，所述預設第一電平條件是所述第一信號是標準信號、所述第一信號的電平是零電平、第一信號的電平是電源電平中的任意一種；

如果所述第二信號滿足預設第二電平條件，則關閉所述第一發(fā)送電路發(fā)送的標準信號，并通過所述第一ADC采樣電路采集第三信號，所述預設第二電平條件是所述第二信號是第二目標倍數的標準信號；

根據預設信號與端口狀態(tài)的對應關系，確定所述第三信號對應的所述第一端口的狀態(tài)；

根據預設信號與端口狀態(tài)的對應關系，確定所述第三信號對應的所述第一端口的狀態(tài)，包括：

如果所述第三信號是預設共模信號，則確定所述第一端口是開路狀態(tài)；

如果所述第三信號不是所述預設共模信號，則確定所述第一端口是正常狀態(tài)。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

如果所述第一信號滿足預設第一電平條件，則在所述第一信號是所述標準信號的情況下，確定所述第一端口是正常狀態(tài)；

或，在所述第一信號的電平是零電平的情況下，確定所述第一端口是短路到地的狀態(tài)；

或，在所述第一信號的電平是預設電源電平的情況下，確定所述第一端口是短路到電源的狀態(tài)。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一端口包括第一子端口以及第二子端口；所述檢測電路中各個電路通過雙路進行連接，所述第一子端口在第一支路，所述第二子端口在第二支路；

所述通過所述第一ADC采樣電路采集第一信號包括：

通過所述第一ADC采樣電路采集所述第一子端口對應的第一子信號，以及采集所述第二子端口對應的第二子信號；

所述方法還包括：

在所述第一子信號的電平是預設共模信號的電平，且所述第二子信號是所述標準信號的情況下，確定所述第一子信號對應的所述第一子端口是開路狀態(tài)。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

如果所述第二信號不滿足預設第二電平條件，則在所述第二信號是標準信號的情況下，則確定所述第一端口是正常狀態(tài)；

或，在所述第二信號的電平是所述預設共模信號的電平的情況下，則確定所述第一端口中所述第一子端口與所述第二子端口是短路且懸空的狀態(tài)。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一信號選擇電路包括第一開關、第二開關以及第三開關；

所述第一信號選擇電路的第一端與所述第一開關的第一端連接，所述第一信號選擇電路的第二端與所述第二開關的第一端連接，控制裝置與所述第三開關的第一端相連接，所述第一開關的第二端、所述第二開關的第二端、所述第三開關的第二端與所述第一信號選擇電路的第三端相連接；

所述啟動所述第一信號選擇電路中目標開關，關閉其他開關，包括：

啟動所述第一信號選擇電路中的所述第二開關，將所述第一開關以及所述第三開關關閉。