[發(fā)明專利]一種半導(dǎo)體器件及半導(dǎo)體器件的制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202211079136.7 | 申請(qǐng)日: | 2022-09-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN116525665A | 公開(公告)日: | 2023-08-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 祁金偉;劉倩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州華太電子技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/739 | 分類號(hào): | H01L29/739;H01L29/423;H01L29/06;H01L21/331 |
| 代理公司: | 北京科慧致遠(yuǎn)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11739 | 代理人: | 王乾旭 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州市蘇州*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體器件 制備 方法 | ||
本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種半導(dǎo)體器件及半導(dǎo)體器件的制備方法。半導(dǎo)體器件包括:第一摻雜類型的漂移區(qū);第二摻雜類型的阱區(qū),形成在所述漂移區(qū)之上,所述阱區(qū)和所述漂移區(qū)上下相鄰設(shè)置;第一柵極溝槽,貫穿所述阱區(qū)且向下伸入到所述漂移區(qū)內(nèi);第一柵氧化層,形成在所述第一柵極溝槽內(nèi)且所述第一柵氧化層的下端伸入到所述漂移區(qū)內(nèi);第二摻雜類型的柱區(qū),形成在所述漂移區(qū)內(nèi),所述柱區(qū)的上部分與所述第一柵氧化層連接,且所述柱區(qū)與所述阱區(qū)被所述漂移區(qū)和所述第一柵氧化層隔開;第一柵極,形成在所述第一柵氧化層之上。本申請(qǐng)實(shí)施例解決了傳統(tǒng)的半導(dǎo)體器件的超級(jí)結(jié)結(jié)構(gòu)復(fù)雜制造成本高的技術(shù)問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,具體地,涉及一種半導(dǎo)體器件及半導(dǎo)體器件的制備方法。
背景技術(shù)
傳統(tǒng)的SJ-IGBT器件的結(jié)構(gòu),如圖1所示,1是P-集電區(qū),2是N-漂移區(qū),3是P型超級(jí)結(jié)區(qū)域,4是第二次外延,5是柵氧化層,6是柵極,7是Pwell,8是N+發(fā)射極,9是介質(zhì)層,10是發(fā)射極金屬,11是P+集電極,12是集電極金屬。
傳統(tǒng)超級(jí)結(jié)工藝先進(jìn)行第一次外延生長(zhǎng),然后挖槽填充P型材料形成P型超級(jí)結(jié)區(qū)域,在超級(jí)結(jié)區(qū)域上表面再在長(zhǎng)第二次外延生長(zhǎng),然后挖柵極溝槽形成柵氧化層和柵極,離子注入形成Pwell與N+發(fā)射極,刻蝕金屬接觸孔等。
傳統(tǒng)的半導(dǎo)體器件的超級(jí)結(jié)結(jié)構(gòu)結(jié)構(gòu)復(fù)雜制造成本高,是本領(lǐng)域技術(shù)人員急需要解決的技術(shù)問題。
在背景技術(shù)中公開的上述信息僅用于加強(qiáng)對(duì)本申請(qǐng)的背景的理解,因此其可能包含沒有形成為本領(lǐng)域普通技術(shù)人員所知曉的現(xiàn)有技術(shù)的信息。
發(fā)明內(nèi)容
本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種半導(dǎo)體器件及半導(dǎo)體器件的制備方法,以解決傳統(tǒng)的半導(dǎo)體器件的超級(jí)結(jié)結(jié)構(gòu)復(fù)雜制造成本高的技術(shù)問題。
本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種半導(dǎo)體器件,包括:
第一摻雜類型的漂移區(qū);
第二摻雜類型的阱區(qū),形成在所述漂移區(qū)之上,所述阱區(qū)和所述漂移區(qū)上下相鄰設(shè)置;
第一柵極溝槽,貫穿所述阱區(qū)且向下伸入到所述漂移區(qū)內(nèi);
第一柵氧化層,形成在所述第一柵極溝槽內(nèi)且所述第一柵氧化層的下端伸入到所述漂移區(qū)內(nèi);
第二摻雜類型的柱區(qū),形成在所述漂移區(qū)內(nèi),所述柱區(qū)的上部分與所述第一柵氧化層連接,且所述柱區(qū)與所述阱區(qū)被所述漂移區(qū)和所述第一柵氧化層隔開;
第一柵極,形成在所述第一柵氧化層之上。
本申請(qǐng)實(shí)施例還提供了一種半導(dǎo)體器件的制備方法,包括如下步驟:
在第二摻雜類型的襯底上表面注入或擴(kuò)散第一摻雜類型的雜質(zhì)形成第一摻雜類型的外延層;
自外延層上表面向下進(jìn)行挖槽,形成柱區(qū)溝槽;
在柱區(qū)溝槽填充第二摻雜類型的材料;
進(jìn)行挖槽,形成第一柵極溝槽,所述第一柵極溝槽自第二摻雜類型的材料的上表面向下延伸,其中,未被挖掉的第二摻雜類型材料作為柱區(qū)。
本申請(qǐng)實(shí)施例由于采用以上技術(shù)方案,具有以下技術(shù)效果:
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
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