[發明專利]一種主動結構光照明的超分辨顯微成像方法及系統在審
| 申請號: | 202211076269.9 | 申請日: | 2022-09-05 |
| 公開(公告)號: | CN115308184A | 公開(公告)日: | 2022-11-08 |
| 發明(設計)人: | 梁永;文剛;陳曉虎;金鑫;王林波;李輝 | 申請(專利權)人: | 中國科學院蘇州生物醫學工程技術研究所 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64 |
| 代理公司: | 南京理工大學專利中心 32203 | 代理人: | 朱炳斐 |
| 地址: | 215163 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 主動 結構 照明 分辨 顯微 成像 方法 系統 | ||
1.一種主動結構光照明的超分辨顯微成像方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟:
步驟1,通過相機采集樣品經激光激發的熒光圖像;
步驟2,基于步驟1的圖像構建所需的主動結構光照明光場;
步驟3,對步驟2的主動結構光照明光場進行轉換并加載到空間光調制器中,形成時空聯合強度調制的主動結構光照明光場;
步驟4,從步驟3中加載在空間光調制器的全息條紋位面圖取出相應的位面圖,并開始顯示,激光器同步出光照明樣本,相機同步曝光采集原始圖像數據;
步驟5,判斷全部全息條紋位面圖是否顯示完成,若是,空間光調制器停止位面顯示,且相機停止圖像采集,否則按預設的順序切換到不同空間方向角和位相的位面圖,返回步驟4,繼續執行同步顯示及曝光。
2.根據權利要求1所述的主動結構光照明的超分辨顯微成像方法,其特征在于,步驟2中所述主動結構光照明光場包括:
第一照明光場:將輸入的非均勻高斯分布光場調制成均勻的平頂照明光場,滿足基于熒光強度定量分析及大視場拼接成像的需求;
或,第二照明光場:根據樣本強度分布特征主動調整照明光強,包括強信號區域降低光照劑量、弱信號區域提高光照劑量、無信號或背景區域無光照,滿足所需高動態范圍、低光照劑量的成像需求;
或,第三照明光場:自定義指定位置和強度的照明,滿足用戶自定義感興趣照明區域的成像需求。
3.根據權利要求1所述的主動結構光照明的超分辨顯微成像方法,其特征在于,步驟3中調制后的主動結構照明光場的光強空間分布表示為Ia(x,y):
式中,Ig(x,y,t)表示在一個相機曝光周期T內,激發光在樣品面上照明光強的時空體積,在只允許一個級次光束通過時的SIM成像過程中,其照明強度在空間上呈現非均勻的高斯分布;Mi(x,y,t)表示加載在空間光調制器中的第i個強度調制函數或二值位面,N表示加載二值位面的個數,空間光調制器上每個像素的光強調制精度表示為1/2N;ti表示每個二值位面對應的時間權重函數,所有時間權重求和為相機的一個曝光周期點(x,y)代表空間光調制器中任意空間坐標;m表示結構光的調制度,kx、ky、φ表示空間頻率和初始相位。
4.實現權利要求1至3任意一項所述方法的主動結構光照明的超分辨顯微成像系統,其特征在于,所述系統包括光源模塊、主動結構光照明光場加載模塊、主動結構光照明光場生成模塊以及熒光探測模塊;
所述光源模塊,用于實現至少四個激光波長的控制,且可實現單波長獨立照明,多個波長多色分時及同時照明;
所述熒光探測模塊,用于采集樣本經激光激發的熒光圖像;
所述主動結構光照明光場生成模塊,用于基于所述熒光圖像生成主動結構光照明光場;
所述主動結構光照明光場加載模塊,用于將生成的主動結構光照明光場加載到SIM成像系統中,完成主動結構光照明超分辨成像。
5.根據權利要求4所述的主動結構光照明的超分辨顯微成像系統,其特征在于,所述光源模塊包括激光器(1)、單模保偏光纖(2);
所述激光器(1),用于提供多個波長的激光,且可實現單波長及多波長同步出光控制;
所述單模保偏光纖(2),用于傳輸激光器(1)耦合好的多路激光至主動結構光照明光場加載模塊。
6.根據權利要求5所述的主動結構光照明的超分辨顯微成像系統,其特征在于,所述激光器(1)提供四個波長的激光,四個波長分別405nm、488nm、561nm、637nm。
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