[發明專利]振膜的性能參數的測量方法、測量裝置和可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202211065431.7
• 申請日: 2022-08-31
• 公開（公告）號: CN115460528A
• 公開（公告）日: 2022-12-09
• 發明（設計）人: 張平;齊海洋;張繼祥
• 申請（專利權）人: 歌爾股份有限公司
• 主分類號: H04R29/00
• 分類號: H04R29/00
• 代理公司: 北京博雅睿泉專利代理事務所(特殊普通合伙) 11442
• 代理人: 馬鐵良

本公開提供了一種振膜的性能參數的測量方法、測量裝置和可讀存儲介質，該測量方法包括：輸出激勵信號，驅動音頻換能器工作；所述音頻換能器上設置有待測的振膜，所述音頻換能器工作時所述振膜振動；獲取所述振膜的振動位移；根據所述激勵信號和所述振動位移，測量所述振膜的性能參數；其中，所述性能參數為表示所述振膜的性能的參數。

技術領域

本公開涉及音頻換能器測量技術領域，更具體地，涉及一種振膜的性能參數的測量方法、一種振膜的性能參數的測量裝置和一種可讀存儲介質。

背景技術

音頻換能器例如揚聲器是一種通過聲電轉換實現發聲的聲學器件，種類繁多且應用范圍廣泛。音頻換能器的性能和質量絕大部分取決于單個部件的質量。因此，在裝配之前測量各個部件的性能參數是很有必要的，同時還能降低成本。

在現有技術中，電動式音頻換能器使用較為普遍。電動式音頻換能器通常包括振動系統和磁路系統，振動系統包括振膜，振膜的性能關系著音頻換能器的性能。

因此，提出一種能夠準確測量振膜的性能參數的方案是十分有價值的。

發明內容

本公開的一個目的是提供一種測量振膜的性能參數的新技術方案。

根據本公開的第一方面，提供了一種振膜的性能參數的測量方法，包括：

輸出激勵信號，驅動音頻換能器工作；所述音頻換能器上設置有待測的振膜，所述音頻換能器工作時所述振膜振動；

獲取所述振膜的振動位移；

根據所述激勵信號和所述振動位移，測量所述振膜的性能參數；

其中，所述性能參數為表示所述振膜的性能的參數。

可選的，所述根據所述激勵信號和所述振動位移，測量所述振膜的性能參數，包括：

獲取所述激勵信號的電壓的頻譜；

根據所述振動位移，獲取所述振膜的速度的頻譜；

構建所述速度的頻譜到所述電壓的頻譜的傳遞函數；

根據所述傳遞函數和所述振膜的質量，得到所述振膜的性能參數。

可選的，所述根據所述振動位移，獲取所述振膜的速度的頻譜，包括：

根據所述振動位移，確定所述振膜的振動速度；

對所述振動速度進行傅里葉變換，得到所述速度的頻譜。

可選的，所述性能參數包括勁度系數，

所述根據所述傳遞函數和所述振膜的質量，得到所述振膜的性能參數，包括：

根據所述傳遞函數，確定所述振膜的共振頻率；

根據所述共振頻率和所述振膜的質量，得到所述振膜的勁度系數。

可選的，所述性能參數包括品質因數，

所述根據所述傳遞函數和所述振膜的質量，得到所述振膜的性能參數，包括：

根據所述傳遞函數，確定所述振膜的共振頻率；

根據所述傳遞函數，確定第一頻率和第二頻率，其中，所述第一頻率和第二頻率對應所述傳遞函數的值均與所述共振頻率對應所述傳遞函數的值的設定倍數相等；

根據所述共振頻率、所述第一頻率和所述第二頻率，得到所述振膜的品質因數。

可選的，所述性能參數還包括力阻，

所述根據所述傳遞函數和所述振膜的質量，得到所述振膜的性能參數，包括：