[發明專利]振膜的性能參數的測量方法、測量裝置和可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202211065431.7
• 申請日: 2022-08-31
• 公開（公告）號: CN115460528A
• 公開（公告）日: 2022-12-09
• 發明（設計）人: 張平;齊海洋;張繼祥
• 申請（專利權）人: 歌爾股份有限公司
• 主分類號: H04R29/00
• 分類號: H04R29/00
• 代理公司: 北京博雅睿泉專利代理事務所(特殊普通合伙) 11442
• 代理人: 馬鐵良

1.一種振膜的性能參數的測量方法，其特征在于，包括：

輸出激勵信號，驅動音頻換能器工作；所述音頻換能器上設置有待測的振膜，所述音頻換能器工作時所述振膜振動；

獲取所述振膜的振動位移；

根據所述激勵信號和所述振動位移，測量所述振膜的性能參數；

其中，所述性能參數為表示所述振膜的性能的參數。

2.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于，所述根據所述激勵信號和所述振動位移，測量所述振膜的性能參數，包括：

獲取所述激勵信號的電壓的頻譜；

根據所述振動位移，獲取所述振膜的速度的頻譜；

構建所述速度的頻譜到所述電壓的頻譜的傳遞函數；

根據所述傳遞函數和所述振膜的質量，得到所述振膜的性能參數。

3.根據權利要求2所述的測量方法，其特征在于，所述根據所述振動位移，獲取所述振膜的速度的頻譜，包括：

根據所述振動位移，確定所述振膜的振動速度；

對所述振動速度進行傅里葉變換，得到所述速度的頻譜。

4.根據權利要求2所述的測量方法，其特征在于，所述性能參數包括勁度系數，

所述根據所述傳遞函數和所述振膜的質量，得到所述振膜的性能參數，包括：

根據所述傳遞函數，確定所述振膜的共振頻率；

根據所述共振頻率和所述振膜的質量，得到所述振膜的勁度系數。

5.根據權利要求2所述的測量方法，其特征在于，所述性能參數包括品質因數，

所述根據所述傳遞函數和所述振膜的質量，得到所述振膜的性能參數，包括：

根據所述傳遞函數，確定所述振膜的共振頻率；

根據所述傳遞函數，確定第一頻率和第二頻率，其中，所述第一頻率和第二頻率對應所述傳遞函數的值，均與所述共振頻率對應所述傳遞函數的值的設定倍數相等；

根據所述共振頻率、所述第一頻率和所述第二頻率，得到所述振膜的品質因數。

6.根據權利要求5所述的測量方法，其特征在于，所述性能參數還包括力阻，

所述根據所述傳遞函數和所述振膜的質量，得到所述振膜的性能參數，包括：

根據所述共振頻率、所述振膜的質量和所述振膜的品質因數，得到所述振膜的力阻。

7.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于，所述激勵信號為對數掃頻信號。

8.一種振膜的性能參數的測量裝置，其特征在于，包括：

驅動模塊，用于輸出激勵信號，驅動音頻換能器工作；所述音頻換能器上設置有待測的振膜，所述音頻換能器工作時所述振膜振動；

位移檢測模塊，用于獲取所述振膜的振動位移；

參數測量模塊，用于根據所述激勵信號和所述振動位移，測量所述振膜的性能參數；

其中，所述性能參數為表示所述振膜的性能的參數。

9.一種振膜的性能參數的測量裝置，其特征在于，包括：

處理器和存儲器，所述存儲器用于存儲指令，所述指令用于控制所述處理器執行根據權利要求1至7中任一項所述的測量方法。

10.一種可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序在被處理器執行時實現如權利要求1至7中任一項所述的測量方法。