[發明專利]一種定位裝置及方法在審
| 申請號: | 202211057393.0 | 申請日: | 2022-08-31 |
| 公開(公告)號: | CN115409895A | 公開(公告)日: | 2022-11-29 |
| 發明(設計)人: | 韋晨;張虎;王進文;鄧俊濤;歐昌東 | 申請(專利權)人: | 武漢精立電子技術有限公司;武漢精測電子集團股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/73 | 分類號: | G06T7/73;G06T7/00;G06T1/00;G06V10/141 |
| 代理公司: | 武漢智權專利代理事務所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人: | 何偉 |
| 地址: | 430205 湖北省武*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 定位 裝置 方法 | ||
1.一種定位裝置,其特征在于,包括:
旋轉載臺(1),其用于放置待測物(2),并可調整待測物(2)的方位,且所述旋轉載臺(1)的外緣位于所述待測物(2)外緣的內側;
圖像定位組件(3),其用于從所述待測物(2)放置后遠離所述旋轉載臺(1)的一側獲取所述待測物(2)的圖像,并根據所述待測物(2)對應在所述圖像中標記點的坐標,確定所述待測物(2)的方位;
反射發光件(4),其設在所述待測物(2)伸出所述旋轉載臺(1)部分的另一側,用于為所述待測物(2)提供照明,并反射所述待測物(2)至設定方位;
檢測定位件(5),其設于所述反射發光件(4)的反射光路,用于通過所述反射發光件(4)獲取所述待測物(2)的圖像,根據所述待測物(2)對應在所述圖像中標記點的坐標,確定所述待測物(2)的方位。
2.如權利要求1所述的定位裝置,其特征在于,所述圖像定位組件(3)包括第一圖像定位機構(31)和第二圖像定位機構(32)中的至少一種,所述第一圖像定位機構(31)位于所述待測物(2)的中部,用于獲取所述待測物(2)的全局圖像并進行定位檢測,所述第二圖像定位機構(32)位于所述待測物(2)伸出所述旋轉載臺(1)的部分,用于獲取所述待測物(2)的局部圖像并進行定位檢測。
3.如權利要求2所述的定位裝置,其特征在于,所述第一圖像定位機構(31)包括:
第一光源(311),其設于所述待測物(2)放置后遠離所述旋轉載臺(1)的一側,用于為所述待測物(2)提供照明;
第一圖像定位件(312),其設于所述待測物(2)放置后遠離所述旋轉載臺(1)的一側,用于獲取所述待測物(2)的全局圖像并進行定位檢測。
4.如權利要求3所述的定位裝置,其特征在于,所述第一光源(311)包括兩個分別位于所述第一圖像定位件(312)獲取圖像光路兩側的線光源。
5.如權利要求3或4所述的定位裝置,其特征在于,所述第一圖像定位機構(31)還包括開孔光源(313),其套設在所述旋轉載臺(1)外側。
6.如權利要求3所述的定位裝置,其特征在于,所述第二圖像定位機構(32)包括:
第二光源(321),其設于所述待測物(2)放置后遠離所述旋轉載臺(1)的一側,用于為所述待測物(2)提供照明;
第二圖像定位件(322),其設于所述待測物(2)放置后遠離所述旋轉載臺(1)的一側,用于獲取所述待測物(2)的局部圖像并進行定位檢測。
7.如權利要求6所述的定位裝置,其特征在于,所述第一圖像定位件(312)、第二圖像定位件(322)和檢測定位件(5)均包括相機和定位檢測模塊,所述相機用于獲取所述待測物(2)的圖像,所述定位檢測模塊用于獲取所述待測物(2)對應在圖像中標記點的坐標,并根據所述圖像中標記點的位置,確定所述待測物(2)的方位。
8.如權利要求6或7所述的定位裝置,其特征在于,所述第二光源(321)為外同軸光源。
9.如權利要求1所述的定位裝置,其特征在于,所述反射發光件(4)為轉角同軸光源,反射角度為90度。
10.一種定位方法,其特征在于,利用如權利要求1所述的定位裝置實現,包括以下步驟:
當背面不透光的待測物(2)背面朝向旋轉載臺(1)時,采用圖像定位組件(3)獲取待測物(2)的圖像,并根據所述待測物(2)對應在所述圖像中標記點的坐標,確定所述待測物(2)的方位;
當背面不透光的待測物(2)背面背向旋轉載臺(1)時,通過反射發光件(4)為所述待測物(2)朝向所述旋轉載臺(1)的一側提供照明,利用設置在所述反射發光件(4)反射光路檢測定位件(5)獲取待測物的圖像,并根據所述待測物(2)對應在所述圖像中標記點的坐標,確定所述待測物(2)的方位。
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