[發(fā)明專利]顯示裝置及其檢測電路和檢測方法

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• 申請?zhí)枺?/td>: 202211047353.8
• 申請日: 2022-08-29
• 公開（公告）號: CN115410502A
• 公開（公告）日: 2022-11-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 謝宗哲
• 申請（專利權(quán)）人: 集創(chuàng)北方（珠海）科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G02F1/13;G09G3/3208;G09G3/36
• 代理公司: 北京成創(chuàng)同維知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11449
• 代理人: 蔡純;張靖琳

1.一種顯示裝置的檢測電路，所述顯示裝置包括具有陣列排布的多個像素單元以及驅(qū)動模塊，所述驅(qū)動模塊用于按行或列通過信號線循序輸出控制信號至所述像素單元，所述檢測電路包括：

邏輯輸出模塊，與所述顯示面板上的多根所述信號線相連，用于讀取每根所述信號線的控制信號，并輸出檢測信號；

判斷模塊，用于接收所述檢測信號，并將所述檢測信號的邏輯電平與預(yù)設(shè)的邏輯電平進行比較，并根據(jù)比較結(jié)果判斷所述驅(qū)動模塊的工作狀態(tài)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測電路，其中，所述判斷模塊設(shè)置為當所述檢測信號的邏輯電平與所述預(yù)設(shè)的邏輯電平完全相同時，判定所述驅(qū)動模塊工作正常。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測電路，其中，所述判斷模塊設(shè)置為當所述檢測信號的邏輯電平與所述預(yù)設(shè)的邏輯電平不相同時，根據(jù)所述檢測信號的邏輯電平與所述預(yù)設(shè)的邏輯電平不同的時間與預(yù)設(shè)時間的倍數(shù)關(guān)系確定出現(xiàn)異常的信號線。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的檢測電路，其中，所述預(yù)設(shè)時間為所述驅(qū)動模塊輸出所述控制信號至每根所述信號線的時間。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測電路，其中，所述邏輯輸出模塊包括：

級聯(lián)的多個或門電路，每個或門電路包括多個輸入端，所述多個或門電路中的第一個的多個輸入端分別與對應(yīng)的信號線相連，

所述多個或門電路中除第一個的其他或門電路的多個輸入端中的一個與前一個或門電路的輸出端連接，其余的輸入端與對應(yīng)的信號線相連，

所述多個或門電路中的最后一個的輸出端用于輸出所述檢測信號。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測電路，其中，所述驅(qū)動模塊為柵極驅(qū)動模塊，所述柵極驅(qū)動模塊用于按行通過柵極線循序輸出柵極控制信號至所述像素單元的開關(guān)晶體管的控制端。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測電路，其中，所述驅(qū)動模塊為發(fā)光模塊，所述發(fā)光模塊用于按行通過發(fā)光線循序輸出發(fā)光控制信號至所述像素單元的發(fā)光晶體管的控制端。

8.一種顯示裝置的檢測方法，所述顯示裝置包括具有陣列排布的多個像素單元以及驅(qū)動模塊，所述驅(qū)動模塊用于按行或列通過信號線循序輸出控制信號至所述像素單元，包括：

讀取每根所述信號線的控制信號，并輸出檢測信號；

將所述檢測信號的邏輯電平與預(yù)設(shè)的邏輯電平進行比較，并根據(jù)比較結(jié)果判斷所述驅(qū)動模塊的工作狀態(tài)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的檢測方法，其中，所述將所述檢測信號的邏輯電平與預(yù)設(shè)的邏輯電平進行比較，并根據(jù)比較結(jié)果判斷所述驅(qū)動模塊的工作狀態(tài)包括：

當所述檢測信號的邏輯電平與所述預(yù)設(shè)的邏輯電平完全相同時，判定所述驅(qū)動模塊工作正常；

當所述檢測信號的邏輯電平與所述預(yù)設(shè)的邏輯電平不相同時，根據(jù)所述檢測信號的邏輯電平與所述預(yù)設(shè)的邏輯電平不同的時間與預(yù)設(shè)時間的倍數(shù)關(guān)系確定出現(xiàn)異常的信號線。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的檢測方法，其中，所述預(yù)設(shè)時間為所述驅(qū)動模塊輸出所述控制信號至每根所述信號線的時間。

11.一種顯示裝置，包括如權(quán)利要求1-7任一項所述的顯示裝置的檢測電路，用于執(zhí)行如權(quán)利要求8-10任一項所述的顯示裝置的檢測方法。