[發(fā)明專利]一種大尺寸單晶二硫化鉬的制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202210982776.2 | 申請日: | 2022-08-16 |
| 公開(公告)號: | CN115354392B | 公開(公告)日: | 2023-09-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 何軍;史建平;李輝;楊俊波;李曉輝 | 申請(專利權(quán))人: | 武漢大學(xué) |
| 主分類號: | C30B25/00 | 分類號: | C30B25/00;C30B29/46;C30B29/64 |
| 代理公司: | 武漢智權(quán)專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人: | 馬麗娜 |
| 地址: | 430072*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 尺寸 二硫化鉬 制備 方法 | ||
本申請涉及一種大尺寸單晶二硫化鉬的制備方法,包括如下步驟:將硫源置于第一溫區(qū),將鉬源及氯化亞鐵粉置于第二溫區(qū),將藍(lán)寶石襯底置于第三溫區(qū);使載氣依次通過所述第一溫區(qū)、所述第二溫區(qū)和所述第三溫區(qū);將所述第一溫區(qū)、所述第二溫區(qū)和所述第三溫區(qū)升溫至各自的預(yù)定溫度,進(jìn)行單晶二硫化鉬的生長。本申請制備方法,采用氯化亞鐵輔助化學(xué)氣相沉積的方法,在普通無切角藍(lán)寶石襯底上即可制備晶圓級別單晶二硫化鉬薄膜,鐵摻雜可進(jìn)一步調(diào)控二硫化鉬的能帶結(jié)構(gòu),優(yōu)化溝道與電極的接觸;簡單易操作,過程可控,所得二硫化鉬晶體疇區(qū)取向一致、無疇區(qū)晶界,表現(xiàn)出良好的層數(shù)均勻性和晶體質(zhì)量。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種大尺寸單晶二硫化鉬的制備方法。
背景技術(shù)
隨著硅基晶體管尺寸的不斷縮小和集成度的不斷提高,短溝道效應(yīng)和熱效應(yīng)日趨顯著,現(xiàn)有電子器件的運行速度和性能已接近硅基材料的極限,開發(fā)新型半導(dǎo)體材料和器件顯得尤為關(guān)鍵。以單層二硫化鉬為代表的新型二維半導(dǎo)體材料,其原子層厚度和優(yōu)異的靜電控制能力可有效降低工作電壓/電流和能耗;表面無懸掛鍵可減少因散射導(dǎo)致的載流子遷移率的降低;豐富的能帶結(jié)構(gòu)便于設(shè)計多樣化的新型邏輯和存儲器件。因此,被認(rèn)為是滿足多種需求的下一代變革性技術(shù)應(yīng)用的核心備選材料。
高性能場效應(yīng)晶體管、集成電路和高端通用芯片的研發(fā),必然基于高品質(zhì)、大面積、層數(shù)均勻的大尺寸二維單晶材料。主要原因如下:(1)單晶材料有效避免了多晶材料內(nèi)部晶界的形成,使材料的內(nèi)在性能發(fā)揮到極致;(2)二維單晶作為基元材料可確保器件性能的均一和穩(wěn)定;(3)大尺寸的單晶疇對于確保穩(wěn)定的電學(xué)性能和高的器件成品率至關(guān)重要。然而,由于二維材料具有更低的維度,傳統(tǒng)三維單晶的生長技術(shù)無法直接應(yīng)用于二維材料的合成。發(fā)展全新的材料制備技術(shù),實現(xiàn)晶圓尺寸二維半導(dǎo)體單晶的合成,已經(jīng)成為了低維納米材料領(lǐng)域最核心的科學(xué)和技術(shù)問題。
由于對稱性和晶疇邊緣終止類型的不同,以及生長襯底的差異,現(xiàn)有二維單晶制備技術(shù)很難直接延伸到二維半導(dǎo)體晶圓級別大尺寸的生長。相關(guān)技術(shù)中,有利用特制藍(lán)寶石襯底臺階調(diào)控機(jī)制,實現(xiàn)兩英寸單晶二硫化鉬和二硫化鎢的可控制備,雖然在尺寸上已有一些提升,然而,仍然無法滿足高性能器件對二維單晶二硫化鉬尺寸的需求。此外,上述制備方法所選用的生長襯底為特制藍(lán)寶石,為在藍(lán)寶石表面引入平行臺階,需要對藍(lán)寶石襯底進(jìn)行特殊加工處理,使得藍(lán)寶石表面相對其晶軸有0.5°以內(nèi)的切角,如此高精度的切角極大地增加了藍(lán)寶石加工和材料制備成本。此外,該藍(lán)寶石襯底在二維半導(dǎo)體材料生長前需要進(jìn)行1000℃以上長時間高溫預(yù)退火處理,使得材料制備過程更加復(fù)雜。
由此可見,發(fā)展溫和的、低成本可控制備高質(zhì)量晶圓尺寸二維二硫化鉬單晶,是高性能電子器件和集成電路應(yīng)用的關(guān)鍵。
發(fā)明內(nèi)容
本申請實施例提供一種大尺寸單晶二硫化鉬的制備方法,以解決相關(guān)技術(shù)中單晶二硫化鉬薄膜分布尺寸小的問題。
本申請?zhí)峁┝艘环N大尺寸單晶二硫化鉬的制備方法,包括如下步驟:
將硫源置于第一溫區(qū),將鉬源及氯化亞鐵粉置于第二溫區(qū),將藍(lán)寶石襯底置于第三溫區(qū);
使載氣依次通過所述第一溫區(qū)、所述第二溫區(qū)和所述第三溫區(qū);
將所述第一溫區(qū)、所述第二溫區(qū)和所述第三溫區(qū)升溫至各自的預(yù)定溫度,進(jìn)行單晶二硫化鉬的生長。
一些實施例中,所述硫源、所述鉬源和所述氯化亞鐵粉之間的質(zhì)量比為(200~230):(8~10):(1~3)。
一些實施例中,所述第一溫區(qū)的預(yù)定溫度為190~230℃,所述第二溫區(qū)的預(yù)定溫度為900~910℃,所述第三溫區(qū)的預(yù)定溫度為900~910℃。
一些實施例中,所述硫源和所述鉬源之間的距離為8~10cm;
和/或所述鉬源與所述藍(lán)寶石襯底之間的距離為1~3cm。
一些實施例中,所述硫源包括硫粉;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于武漢大學(xué),未經(jīng)武漢大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202210982776.2/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





