[發明專利]一種電極顆粒填充的處理方法、裝置、設備及介質

在審

• 申請號: 202210977067.5
• 申請日: 2022-08-15
• 公開（公告）號: CN115186511A
• 公開（公告）日: 2022-10-14
• 發明（設計）人: 鐘文彬;王士君;其他發明人請求不公開姓名
• 申請（專利權）人: 浙江吉利控股集團有限公司;吉利汽車研究院（寧波）有限公司
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G06F119/02
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 馬德舉

本發明提供一種電極顆粒填充的處理方法、裝置、設備及介質，包括：基于預設的電極尺寸數據，建立所述電極的二維模型；根據所述電極尺寸數據生成所述電極內部的顆粒群，所述顆粒群中聚合多個顆粒單元；將一個所述顆粒單元生成至所述二維模型內，創建所述顆粒單元所處的區域為填充區，創建所述二維模型內的其余區域為未填充區；在剩余的所述顆粒單元中，每次將其中一個所述顆粒單元生成至所述未填充區內，并移動所述顆粒單元，直至滿足預設狀態為止；獲取所述二維模型內每個顆粒單元的特征數據。通過本發明公開的一種電極顆粒填充的處理方法、裝置、設備及介質，能夠提高顆粒模型的填充速度和計算速度。

技術領域

本發明涉及電極顆粒模型，特別是涉及一種電極顆粒填充的處理方法、裝置、設備及介質。

背景技術

不同的電極由不同的數量與尺寸的類球形粒子組成。電極中顆粒的配比會影響電極壓實密度、電極孔隙率、電極迂曲度及電化學性能等。依據電極的實際顆粒配比來建立電極顆粒模型，是分析電極孔隙率、電極迂曲度與其他電極特征的基礎。

現有的電極顆粒模型在填充顆粒時，為了防止顆粒之間重疊，需要判斷顆粒之間的位置關系。然而，顆粒之間的位置關系難以判斷，導致顆粒的填充速度降低，并且模型的計算速度慢。

發明內容

鑒于以上所述現有技術的缺點，本發明的目的在于提供一種電極顆粒填充的處理方法、裝置、設備及介質，本發明能夠提高電極顆粒模型的填充速度與計算速度。

第一方面，本發明提供一種電極顆粒填充的處理方法，包括：

基于預設的電極尺寸數據，建立所述電極的二維模型；

根據所述電極尺寸數據生成所述電極內部的顆粒群，所述顆粒群中聚合多個顆粒單元；

將一個所述顆粒單元生成至所述二維模型內，創建所述顆粒單元所處的區域為填充區，創建所述二維模型內的其余區域為未填充區；

在剩余的所述顆粒單元中，每次將其中一個所述顆粒單元生成至所述未填充區內，并移動所述顆粒單元，直至滿足預設狀態為止，其中，所述預設狀態包括移動的所述顆粒單元的兩側與所述填充區內的顆粒單元相切，或移動的所述顆粒單元的一側與所述填充區內的顆粒單元相切，另一側與所述二維模型的邊界相切，或移動的所述顆粒單元的兩側與所述二維模型的邊界相切；

獲取所述二維模型內每個顆粒單元的特征數據，所述特征數據包括面積數據與坐標數據；

基于所述特征數據與所述電極尺寸數據，計算所述電極的孔隙率。

第二方面，提供了一種電極顆粒填充的處理裝置，包括：

模型建立模塊，用于基于預設的電極尺寸數據，建立所述電極的二維模型；

顆粒生成模塊，用于根據所述電極尺寸數據生成所述電極內部的顆粒群，所述顆粒群中聚合多個顆粒單元；

初始填充模塊，用于將一個所述顆粒單元生成至所述二維模型內，創建所述顆粒單元所處的區域為填充區，創建所述二維模型內的其余區域為未填充區；

移動填充模塊，用于在剩余的所述顆粒單元中，每次將其中一個所述顆粒單元生成至所述未填充區內，并移動所述顆粒單元，直至滿足預設狀態為止，其中，所述預設狀態包括移動的所述顆粒單元的兩側與所述填充區內的顆粒單元相切，或移動的所述顆粒單元的一側與所述填充區內的顆粒單元相切，另一側與所述二維模型的邊界相切，或移動的所述顆粒單元的兩側與所述二維模型的邊界相切；

數據獲取模塊，用于獲取所述二維模型內每個顆粒單元的特征數據，所述特征數據包括面積數據與坐標數據；

數據計算模塊，用于基于所述特征數據與所述電極尺寸數據，計算所述電極的孔隙率。