[發明專利]一種集成電路檢測裝置及檢測方法

在審

• 申請號: 202210933623.9
• 申請日: 2022-08-04
• 公開（公告）號: CN115166489A
• 公開（公告）日: 2022-10-11
• 發明（設計）人: 江志信
• 申請（專利權）人: 江志信
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/52;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種集成電路檢測裝置，包括工作臺(1)、支撐座(2)和頂板(3)，其特征在于：所述頂板(3)的上端底部固定連接有放置塊(5)，所述放置塊(5)的底部開設有通槽(6)，所述通槽(6)的內部活動卡接有支撐板(7)和擠壓板(8)，所述放置塊(5)的正面通過限位塊(11)和調節塊(12)轉動安裝有轉柱(9)，所述轉柱(9)的外表面固定套設有棘輪(10)，所述支撐板(7)的底部固定連接有一號伸縮桿(13)，所述一號伸縮桿(13)的伸縮端固定連接有檢測筆(14)，所述檢測筆(14)的外表面通過固定環(15)固定連接有一號激光燈(16)和二號激光燈(17)，所述工作臺(1)的頂部固定安裝有夾持機構(4)，所述工作臺(1)頂部的左右兩側均設置有支架(18)和電動推桿(19)，所述擠壓板(8)的伸縮端活動鉸接有連接柱(20)，所述連接柱(20)的另一端與支架(18)活動鉸接并固定連接有二號伸縮桿(21)，所述二號伸縮桿(21)的伸縮端與檢測筆(14)活動鉸接。

2.根據權利要求1所述的一種集成電路檢測裝置，其特征在于：所述支撐座(2)固定安裝在工作臺(1)頂面的中部，所述檢測筆(14)的數量為兩個且分別分布在工作臺(1)頂部上方的左右兩側，所述夾持機構(4)的數量為兩個且對稱分布在支撐座(2)的左右兩側。

3.根據權利要求2所述的一種集成電路檢測裝置，其特征在于：所述夾持機構(4)包括固定筒(41)，所述固定筒(41)的內部活動套接有彈簧(42)和移動柱(43)，所述移動柱(43)通過彈簧(42)彈性支撐于固定筒(41)的內部，所述移動柱(43)的另一端固定連接有壓制柱(44)，所述壓制柱(44)的外表面固定套設有套筒(45)，所述固定筒(41)的底部固定連接在工作臺(1)的頂部。

4.根據權利要求1所述的一種集成電路檢測裝置，其特征在于：所述固定環(15)為環狀結構且套設于檢測筆(14)外表面的中下部，所述一號激光燈(16)的數量為兩個且呈對稱分布在固定環(15)底部的左右兩側，所述二號激光燈(17)的數量為兩個且呈對稱分布在固定環(15)底部的前后兩側，所述固定環(15)呈豎直連接在固定環(15)的底部，所述二號激光燈(17)的軸線相對于檢測筆(14)的軸線呈11°-12°的夾角。

5.根據權利要求1所述的一種集成電路檢測裝置，其特征在于：所述調節塊(12)和限位塊(11)分別設置在放置塊(5)的前后兩側，所述調節塊(12)和限位塊(11)依次與轉柱(9)的前后兩端固定連接，所述擠壓板(8)通過膠粘固定設置在支撐板(7)的頂部，所述擠壓板(8)由橡膠塊制成，所述轉柱(9)外表面的底部與擠壓板(8)的頂部擠壓接觸。

6.根據權利要求1所述的一種集成電路檢測裝置，其特征在于：所述支撐板(7)的縱截面形狀為“T”形，所述支撐板(7)適配卡接在放置塊(5)內壁的底部。

7.根據權利要求1所述的一種集成電路檢測裝置，其特征在于：所述連接柱(20)和二號伸縮桿(21)在初始條件下呈水平放置狀態，所述連接柱(20)和二號伸縮桿(21)的連接處活動鉸接在支架(18)的頂端。

8.根據權利要求3所述的一種集成電路檢測裝置，其特征在于：所述移動柱(43)的形狀為半圓環，所述移動柱(43)的一半活動套設在固定筒(41)的內部，所述移動柱(43)位于固定筒(41)內部的一端與彈簧(42)彈性連接，所述彈簧(42)被壓縮設置在固定筒(41)的內部。

9.根據權利要求3所述的一種集成電路檢測裝置，其特征在于：所述套筒(45)通過膠粘固定套設在壓制柱(44)的外表面，所述套筒(45)由橡膠塊制成。

10.適用于權利要求1-9所述的一種集成電路檢測裝置的檢測方法，其特征在于：包括以下步驟：

S1.將待檢測的集成電路放置在支撐座(2)的頂部，通過夾持機構(4)將集成電路固定起來，然后開啟一號激光燈(16)和二號激光燈(17)，調整集成電路的位置使集成電路上的檢測引腳位于一號激光燈(16)、二號激光燈(17)發生出激光的中點；

S2.啟動電動推桿(19)并帶動連接柱(20)向上轉動，使連接柱(20)的另一端帶動二號伸縮桿(21)的伸縮端向下轉動，使檢測筆(14)向下豎直移動，在此過程中，兩個二號激光燈(17)發射于集成電路上的光點距離逐漸變小，轉動調節塊(12)并帶動轉柱(9)和棘輪(10)轉動，通過擠壓擠壓板(8)帶動支撐板(7)和擠壓板(8)水平移動，帶動檢測筆(14)移動，集成電路的接電引腳不斷在二號激光燈(17)發射出來的兩個光點移動；

S3.當檢測筆(14)下移至二號激光燈(17)的兩個光點重合成一個光點時，停止調節調節塊(12)，在電動推桿(19)、連接柱(20)和二號伸縮桿(21)的帶動下，檢測筆(14)的檢測端與集成電路的接電引腳電性接觸；

S4.對第二個檢測筆(14)實施同樣的操作，將兩個檢測筆(14)連接電能表面，從而對集成電路進行檢測，工作人員根據電能表的讀數判斷集成電路是否短路、短路、虛焊等；

S5.啟動電動推桿(19)向回收縮，帶動連接柱(20)和二號伸縮桿(21)轉動，使檢測筆(14)向上回移復位。